Diagnostyka analogowych filtrów wielosekcyjnych oparta na magistrali testującej IEEE1149.1

• Autorzy: Czaja Z. , Bartosiński B.

Warianty tytułu

EN

A fault diagnosis of multi-section filters based on the IEEE1149.1 test bus

• Języki publikacji: PL

Abstrakty

PL

Przedstawiono nową koncepcję testera JTAG BIST do samo-testowania torów analogowych opartych na wielosekcyjnych filtrach wyższego rzędu w mieszanych sygnałowo mikrosystemach elektronicznych sterowanych mikrokontrolerami i wyposażonych w magistralę testującą IEEE1149.1 (JTAG). Bazuje ona na metodzie diagnostycznej opartej na przekształceniu transformującym próbki odpowiedzi czasowych kolejnych sekcji filtra pobudzonego impulsem prostokątnym na krzywe identyfikacyjne w przestrzeni pomiarowej. Metoda ta pozwala na detekcję i lokalizację pojedynczych uszkodzeń parametrycznych w pierwszej w kolejności uszkodzonej sekcji filtra.

EN

A new solution of the JTAG BIST for self-testing of analog parts based on multi-section higher-order filters in mixed-signal electronic microsystems controlled by microcontrollers and equipped with the IEEE1149.1 bus is presented. It is based on a fault diagnosis method based on transformation of voltage samples of the time responses of the next section of the filter on a square impulse into identification curves placed in a measurement space. The method can be used for fault detection and single soft fault localization of the first faulty section of the filter. Thanks to use of the proposed fault diagnosis method, there is no need for expanding the JTAG BIST by any additional components. It follows from the fact that the square pulse stimulating the tested circuit is set only at the input of the first section of the filter. The ADC SCANSTA476 samples two times the time responses at outputs of all sections. Thanks to this, the JTAG BIST needs only one pin of the BCT8244A, and up to 8 inputs pins connected to the analog multiplexer of the ADC of the SCANSTA476.

Słowa kluczowe

PL

magistrala IEEE1149.1; diagnostyka uszkodzeń; mikrokontroler; układ analogowy

EN

IEEE1149.1 test bus; microcontroller; fault diagnosis; analog circuit

• Wydawca: Wydawnictwo PAK
• Czasopismo: Pomiary Automatyka Kontrola
• Rocznik: 2014
• Tom: R. 60, nr 9
• Strony: 745--748
• Opis fizyczny: Bibliogr. 13 poz., tab., rys., wykr.

Twórcy

autor

Czaja Z.

• Politechnika Gdańska, Wydział Elektroniki, Telekomunikacji i Informatyki, Katedra Metrologii i Optoelektroniki, ul. G. Narutowicza 11/12, 80-233 Gdańsk

autor

Bartosiński B.

• Politechnika Gdańska, Wydział Elektroniki, Telekomunikacji i Informatyki, Katedra Metrologii i Optoelektroniki, ul. G. Narutowicza 11/12, 80-233 Gdańsk

Bibliografia

• [1] Test Technology Standards Committee of the IEEE Computer Society, Standard Test Access Port and Boundary-Scan Architecture, IEEE Std 1149.1™-2001, 2008.
• [2] Czaja Z., Bartosiński B.: Using an IEEE1149.1 test bus for fault diagnosis of analog parts of electronic embedded systems, Proc. of 19th IMEKO TC4 Symposium, Barcelona, Spain, pp. 6-11, 2013.
• [3] Czaja Z.: A diagnosis method of analog parts of mixed-signal systems controlled by microcontrollers, Measurement, vol. 40, pp. 158-170, 2007.
• [4] Toczek W.: An oscillation-based built-in test scheme with AGC loop, Measurement, vol. 41, pp. 160-168, 2008.
• [5] Ren J., Ye H.: A Novel Linear Histogram BIST for ADC, Ninth International Conference on Solid-State and Integrated-Circuit Technology, Beijing, pp. 2099-2102, 2008.
• [6] Toczek W.: Self-testing of fully differential multistage circuits using common-mode excitation, Microelectronics Reliability, vol. 48, pp. 1890-1899, 2008.
• [7] Peralta J., Peretti G., Romero E.: A New Performance Characterization of Transient Analysis Method, International Journal of Electronics, Communications and Computer Engineering, vol. 1, pp. 12-19, 2009.
• [8] Toczek W., Analog fault signature based on sigma-delta modulation and oscillation test methodology, Metrology And Measurement Systems, vol. 9, pp. 363-375, 2004.
• [9] Czaja Z.: A self-testing method of large analog circuits in electronic embedded systems, Journal of Physics: Conference Series 238, IOP Publishing, pp. 1-8, 2010.
• [10] Texas Instruments Incorporated, SCANSTA476 Eight Input IEEE 1149.1 Analog Voltage Monitor, PDF file available from: www.ti.com, 2005.
• [11] Texas Instruments Incorporated, SN54BCT8244A, SN74BCT8244A scan test devices with octal buffers, PDF file available from: www.ti.com, 1996.
• [12] International Rectifier, IRF7105 HEXFET Power MOSFET, PDF file available from: www.irf.com, 2003.
• [13] Atmel Corporation, 8-bit AVR microcontroller with 32KBytes In-System Programmable Flash, ATmega32, ATmega32L, PDF file available from: www.atmel.com, 2011.