Zastosowanie systemu do pomiaru pojemności i współczynnika strat dielektrycznych w badaniach wysokonapięciowych układów izolacyjnych

• Autorzy: Zydroń P. , Smolana M. , Bonk M.

Warianty tytułu

EN

Application of capacity and dielectric loss factor measuring system in researches of high voltage insulating systems

• Konferencja: Zastosowanie komputerów w nauce i technice 2014 (XXIV; 2014; Gdańsk, Polska)
• Języki publikacji: PL

Abstrakty

PL

Pomiary właściwości dielektrycznych materiałów i układów izolacyjnych wysokiego napięcia są jednymi z podstawowych rodzajów badań wykonywanych w laboratoriach wysokich napięć. Ważnymi wielkościami mierzonymi w tej grupie są pojemność C i współczynnik strat dielektrycznych tgd. Artykuł przedstawia projekt systemu pomiarowego zbudowanego w oparciu o automatyczny miernik C i tgd oraz sterowane źródło wysokiego napięcia, zawierające programowany generator przebiegów sinusoidalnych i wzmacniacz wysokonapięciowy. Zestaw taki, nadzorowany poprzez interfejs IEEE-488 (GPIB) z komputera z dedykowanym oprogramowaniem, przygotowanym w środowisku LabVIEW, pozwala stworzyć wirtualny przyrząd pomiarowy o szerokich możliwościach. W artykule opisano pierwszy etap praktycznej realizacji projektu, w którym zautomatyzowano obsługę miernika oraz archiwizowanie wyników pomiarów.

EN

Measurements of the properties of dielectric materials and insulating system are one of the most common researches conducted in the high voltage laboratory. Important quantities measured in this group are the capacitance and dielectric loss factor. This paper describes project of measurement system built with automatic capacitance and loss factor precision measuring bridge and controlled HV source, containing an arbitrary waveform generator and HV amplifier. The system is supervised via IEEE-488 (GPIB) interface by a host computer with dedicated software, prepared in the LabVIEW environment, allowing you to create a virtual measuring instrument with extended capabilities. The article describes the first stage of practical realization of the project, in which control of instrument by host computer and data archiving have been implemented.

Słowa kluczowe

PL

układy izolacyjne; pomiary C i tgd; wirtualny; przyrząd pomiarowy; LabVIEW

EN

insulating systems; measurements of C and tgd; virtual measuring instrument; LabVIEW

• Wydawca: Wydział Elektrotechniki i Automatyki Politechniki Gdańskiej
• Czasopismo: Zeszyty Naukowe Wydziału Elektrotechniki i Automatyki Politechniki Gdańskiej
• Rocznik: 2014
• Tom: Nr 40
• Strony: 153--156
• Opis fizyczny: Bibliogr. 6 poz., rys., wykr., fot.

Twórcy

autor

Zydroń P.

• Akademia Górniczo-Hutnicza im. Stanisława Staszica w Krakowie, Wydział Elektrotechniki, Automatyki, Informatyki i Inżynierii Biomedycznej, Katedra Elektrotechniki i Elektroenergetyki

autor

Smolana M.

• Akademia Górniczo-Hutnicza im. Stanisława Staszica w Krakowie, Wydział Elektrotechniki, Automatyki, Informatyki i Inżynierii Biomedycznej, Katedra Elektrotechniki i Elektroenergetyki

autor

Bonk M.

• Akademia Górniczo-Hutnicza im. Stanisława Staszica w Krakowie, Wydział Elektrotechniki, Automatyki, Informatyki i Inżynierii Biomedycznej, Katedra Elektrotechniki i Elektroenergetyki

Bibliografia

• 1. Florkowska B.: Diagnostyka wysokonapięciowych układów izolacyjnych urządzeń elektroenergetycznych, UWND AGH, Kraków 2009, ISBN 978-83-7464-193-7.
• 2. Kuffel E., Zaaengl W. S., Kuffel J.: High voltage engineering – Fundamentals, ISBN 0-7506-3634-3, Newness Butterworth-Heinemann, 2000.
• 3. Zydroń P.: Sygnały probiercze i pomiarowe w technice wysokich napięć i diagnostyce wysokonapięciowych układów izolacyjnych. Rozprawy i Monografie nr 233, UWND AGH, Kraków, 2011, ISBN 978-83-7464-428-0
• 4. Moore W.J.M., Miljanic P.N.: The current comparator, IEE Electrical Measurement Series No. 4, Peter Peregrinus Ltd, London, United Kingdom, 1988, ISBN 0-86341-112-6
• 5. Fully automatic capacitance and loss factor tan d precision measuring bridge. Operation manual type 2816 & type 2818 rev. 3, Tettex Test AG, 2002
• 6. Chruściel M.: LabVIEW w praktyce, Wydawnictwo BTC Legionowo 2008, ISBN 978-83-60233-32-0