PL EN


Preferencje help
Widoczny [Schowaj] Abstrakt
Liczba wyników
Tytuł artykułu

Zastosowanie szeregów trygonometrycznych Fouriera w pomiarach parametrów struktury geometrycznej powierzchni walcowych

Treść / Zawartość
Identyfikatory
Warianty tytułu
EN
Application of Fourier Trigonometry Series to assess the type of deviation on the cylindrical surface
Języki publikacji
PL
Abstrakty
PL
Strukturę geometryczną powierzchni opisuje się za pomocą parametrów chropowatości oraz odchyłek kształtu. W artykule, do analizy stanu powierzchni, (rodzaju i wartości ich nierówności) wykorzystano szeregi trygonometryczne Fouriera przeprowadzając analizę ich widm: amplitudowego i fazowego. Zastosowano kroczący szereg Fouriera o trzech lub pięciu harmonicznych. W każdym przykładowym cyklu obliczeń, do obliczania stałych w szeregach Fouriera pobierano siedem lub jedenaście wartości odchyłek. Program umożliwia obliczanie wartości parametrów chropowatości: Ra, Rq oraz Rt.
EN
The geometric structure of the surface determine the roughness, wave and shape deviations. Trigonometric series Fourier was used to analyze the type of inequality on the surface by analyzing its amplitude and phase spectrum. A stepping series of Fourier with three or five harmonics was used. Seven or eleven measuring points are charged to calculate solid in Fourier's ranks in each calculation cycle. In the final phase, the program calculates the roughness parameters.. Programs with EQTRG3T or EQTRG5T names, were written in Fortran. Programs compiled by Digital Visual Fortran 6 is exploited on desktop and laptops.
Wydawca
Czasopismo
Rocznik
Tom
Strony
38--42
Opis fizyczny
Bibliogr. 7 poz., rys., wykr.
Twórcy
  • Politechnika Warszawska, Wydział Mechaniczny Technologiczny, Instytut Technik Wytwarzania, al. Niepodległości 222, 00-663 Warszawa
  • Politechnika Warszawska, Wydział Mechaniczny Technologiczny, Instytut Technik Wytwarzania, al. Niepodległości 222, 00-663 Warszawa
Bibliografia
  • 1. Filipowski R., Kossowski R.: Analiza położenia sfery i miary jej promienia mierzonej na WMP. Proceedings of Vth International Scientific Conference: Coordinate Measuring Technique. Bielsko-Biała 2002, pp. 63-73.
  • 2. Łukjaniuk A.: Podstawy diagnostyki technicznej. Ćw. Nr1: Analiza widmowa sygnałów. Politechnika Białostocka, Katedra Zarządzania Produkcją, Białystok 2017,
  • 3. Majchrzak E., Mochnacki B.: Metody numeryczne. Podstawy teoretyczne, aspekty praktyczne i algorytmy, Wydawnictwo Politechniki Śląskiej, wyd. IV, Gliwice 2004.
  • 4. Norma PN-EN ISO 4287:1999 Specyfikacje geometrii wyrobów. Struktura geometryczna powierzchni: metoda profilowa. Terminy, definicje i parametry struktury geometrycznej powierzchni.
  • 5. Nowicki B., Zawora J.: Metrologia wielkości geometrycznych. Oficyna Wydawnicza PW, Warszawa 1998.
  • 6. Nowicki B.: Struktura geometryczna. Chropowatość i falistość powierzchni. WNT, Warszawa 1991.
  • 7. Rudziński R., Żebrowska-Łucyk S., Dąbrowski W.: Komputerowy system zbierania i przetwarzania danych pomiarowych z analogowych przyrządów do pomiaru odchyłek kształtu, Metrologia i systemy pomiarowe, t. II, z. 2, 1995.
Uwagi
Opracowanie rekordu ze środków MEiN, umowa nr SONP/SP/546092/2022 w ramach programu "Społeczna odpowiedzialność nauki" - moduł: Popularyzacja nauki i promocja sportu (2022-2023).
Typ dokumentu
Bibliografia
Identyfikator YADDA
bwmeta1.element.baztech-6adade66-2b4e-4a41-b2a1-3fe313129779
JavaScript jest wyłączony w Twojej przeglądarce internetowej. Włącz go, a następnie odśwież stronę, aby móc w pełni z niej korzystać.