An Attempt to Develop the Methodology of Examining the Boron Content in Construction Materials with the Use of Eds Method

• Autorzy: Popławski M. , Kwiatkowska A. , Piasecki A.

Identyfikatory

DOI

10.1515/amm-2015-0077

Warianty tytułu

PL

Próba opracowania metodyki badań zawartości boru w materiałach konstrukcyjnych metodą EDS

• Języki publikacji: EN

Abstrakty

EN

Borided layers are mainly produced during the process of heat-chemical treatment as a result of reactive diffusion of boron inside the material. The borided layers are particularly useful in difficult exploitation conditions. Generally, the borided layers are characterized by the increased hardness, heat resistance and good corrosion resistance. It is commonly known that the major disadvantage of X-ray microanalysis with EDS method is the difficulty in light elements analysis such as boron. However, due to the appropriate formation of source region and taking measurements during a definite period of time, the microanalysis of boron is possible. The obtained results are characterized by relative accuracy and precision. SEM Vega 5135 Tescan, detector of Si(Li) in Prism 2000 PGT spectrometer and the PGT software Spirit 1.06 were used. The model specimen was made from cubic boron nitride (c-BN). The estimated parameters of the analysis were verified on 42CrMo4 steel and borided Armco Iron, with satisfactory results having been obtained.

PL

Warstwy borowane wytwarza się głównie w procesie obróbki cieplno-chemicznej, w wyniku dyfuzji reaktywnej boru w głąb materiału. Warstwy borowane znalazły zastosowanie szczególnie w trudnych warunkach eksploatacyjnych. Ogólnie warstwy borowane charakteryzują się: zwiększoną twardością, żaroodpornością, dobrą odpornością korozyjną w wielu roztworach kwaśnych i alkaicznych. Jak wiadomo istotną wadą mikroanalizy rentgenowskiej metodą EDS jest trudność analizy pierwiastków lekkich, takich jak bor. Jednakże w wyniku odpowiedniego ukształtowania strefy wzbudzenia i wykonania pomiaru w ciągu określonego czasu mikroanaliza boru jest możliwa. Wyniki przy tym uzyskane cechuje względna precyzja i dokładność. Zastosowano SEM Vega 5135 firmy Tescan, detektor Si(Li) w spektrometrze Prism 2000 firmy PGT, oprogramowanie Spirit 1.06 firmy PGT. Preparat wzorcowy wykonany był z regularnego azotku boru c-BN. Ustalone parametry analizy zweryfikowano na warstwie borków utworzonych na stali 42CrMo4 i żelazie ARMCO uzyskując zadowalające rezultaty.

Słowa kluczowe

EN

borided layer; EDS method

PL

warstwa borowana; metoda EDS

• Wydawca: Institute of Metallurgy and Materials Science of Polish Academy of Sciences ; Committee of Materials Engineering and Metallurgy of Polish Academy of Sciences
• Czasopismo: Archives of Metallurgy and Materials
• Rocznik: 2015
• Tom: Vol. 60, iss. 1
• Strony: 477--481
• Opis fizyczny: Bibliogr. 4 poz., rys.

Twórcy

autor

Popławski M.

• Poznan University of Technology, Institute of Materials Science and Engineering, 24 Jana Pawła II Str., 61-139 Poznań, Poland

autor

Kwiatkowska A.

• Poznan University of Technology, Institute of Materials Science and Engineering, 24 Jana Pawła II Str., 61-139 Poznań, Poland

autor

Piasecki A.

• Poznan University of Technology, Institute of Materials Science and Engineering, 24 Jana Pawła II Str., 61-139 Poznań, Poland

Bibliografia

• [1] S. J. B. Reed, Electron Microprobe Analysis and Scanning Electron Microscopy in Geology, Cambrige, 2005.
• [2] A. Barbacki, Mikroskopia elektronowa, Wydawnictwo Politechniki Poznańskiej, Poznań, 2005.
• [3] E. Teper, Podstawy mikroskopii skaningowej, www.kgmip. wnoz.us.edu.pl/podstawy mikroskopii skaningowej.pdf
• [4] A. Szummer, Podstawy ilościowej mikroanalizy rentgenowskiej, Wydawnictwo Naukowo-Techniczne, Warszawa, 1994.