Tytuł artykułu
Autorzy
Wybrane pełne teksty z tego czasopisma
Identyfikatory
Warianty tytułu
Analysis of the possibility to application of selected techniques of signal processing to investigation of optical detectors
Języki publikacji
Abstrakty
W układach detekcji promieniowania optycznego jednym z ważniejszych parametrów zarazem sporadycznie podawanym przez producentów jest zakres liniowej pracy detektora. W pracy przeprowadzono analizę możliwości zastosowania w tych badaniach wybranych technik przetwarzania i analizy sygnału. Przedstawiono wyniki symulacji komputerowych oraz omówiono koncepcję oraz wstępne testy stanowiska laboratoryjnego do pomiaru nieliniowości odpowiedzi detektorów promieniowania optycznego.
In optical detection systems, one of the most important features and rarely given by the manufacturers is detector non-linearity. The paper presents analysis of some signal processing and signal analysis to determine this parameter. The results of computer simulations and preliminary operation of non-linearity test lab-setup are also discussed.
Wydawca
Czasopismo
Rocznik
Tom
Strony
87--90
Opis fizyczny
Bibliogr. 6 poz., rys.
Twórcy
autor
- Wojskowa Akademia Techniczna, Instytut Optoelektroniki, ul. Gen. Sylwestra Kaliskiego 2, 00-908 Warszawa 46
autor
- Wojskowa Akademia Techniczna, Instytut Optoelektroniki, ul. Gen. Sylwestra Kaliskiego 2, 00-908 Warszawa 46
autor
- Wojskowa Akademia Techniczna, Instytut Optoelektroniki, ul. Gen. Sylwestra Kaliskiego 2, 00-908 Warszawa 46
autor
- Wojskowa Akademia Techniczna, Instytut Optoelektroniki, ul. Gen. Sylwestra Kaliskiego 2, 00-908 Warszawa 46
Bibliografia
- [1] Lin L. Y., Wu M. C., Itoh T., Vang T. A., Mullr R. E., Sivco D. L., Cho A. Y., Velocity-Matched Distributed Photodetectors with High-Saturation Power and Large Bandwidth, IEEE Photonics Technology Letters, Vo. 8, No. 10, October 1996
- [2] Liu P., Williams K. J., Frankel M. Y., Esman R. D., Saturation characteristics of fast photodetectors, IEEE Transanction on microwave theory and techniques, Vol. 47, No. 7, July 1999
- [3] Norma Polska PN-EN ISO 11554
- [4] Optical Detector Nonlinearity: Simulation, Shao Yanh i in., NIST Technical Note 1376, 1995
- [5] A.Haapalinna, T.Kubarsepp, P.Karha, E.Ikonen, Meas. Sci. Technol.10(1999), Nonlinearity measurments of silicon photodetectors, 1075–1078.
- [6] S. Yang, I. Vayshenker, X. Li, T. R. Scott, M Zander, optical Detector Nonlinearity: Simulation, NIST Technical Note 1376
Uwagi
Opracowanie ze środków MNiSW w ramach umowy 812/P-DUN/2016 na działalność upowszechniającą naukę (zadania 2017).
Typ dokumentu
Bibliografia
Identyfikator YADDA
bwmeta1.element.baztech-6994d9a0-5aba-4729-b8a2-9a09b17b589d