A testing method of analog parts of mixed-signal electronic systems equipped with the IEEE1149.1 test bus

• Autorzy: Czaja Z. , Bartosiński B.

Identyfikatory

DOI

10.15199/48.2016.11.06

Warianty tytułu

PL

(Metoda testowania części analogowych analogowo-cyfrowych systemów elektronicznych wyposażonych w magistralę testującą IEEE1149.1

• Języki publikacji: EN

Abstrakty

EN

A new solution of the JTAG BIST for testing analog circuits in mixed-signal electronic microsystems controlled by microcontrollers and equipped with the IEEE1149.1 bus is presented. It is based on a new fault diagnosis method in which an analog circuit is stimulated by a buffered signal from the TMS line, and the time response of the circuit to this signal is sampled by the ADC equipped with the JTAG. The method can be used for fault detection and single soft fault localization in an analog tested circuit (A testing method of analog parts of mixed-signal electronic systems equipped with the IEEE1149.1 test bus).

PL

Przedstawiono nowe rozwiązanie testera JTAG BIST przeznaczonego do testowania torów analogowych w mieszanych sygnałowo mikrosystemach elektronicznych sterowanych mikrokontrolerami i wyposażonych w magistralę testującą IEEE1149.1 (JTAG). Bazuje ona na nowej metodzie diagnostycznej, w której tor analogowy pobudzany jest buforowanym sygnałem z linii TMS, a odpowiedź czasowa tego toru na ten sygnał jest próbkowana przez przetwornik A/C wyposażony w interfejs JTAG. Metoda ta pozwala na detekcję i lokalizację pojedynczych uszkodzeń parametrycznych w analogowym układzie badanym.

Słowa kluczowe

EN

IEEE1149.1 test bus; fault diagnosis; microcontrollers; analog circuits

PL

magistrala IEEE1149.1; diagnostyka uszkodzeń; mikrokontrolery; układy analogowe

• Wydawca: Wydawnictwo SIGMA-NOT
• Czasopismo: Przegląd Elektrotechniczny
• Rocznik: 2016
• Tom: R. 92, nr 11
• Strony: 23--26
• Opis fizyczny: Bibliogr. 14 poz., rys., wykr.

Twórcy

autor

Czaja Z.

• Politechnika Gdańska, Wydział Elektroniki, Telekomunikacji i Informatyki, Katedra Metrologii i Optoelektroniki, ul. G. Narutowicza 11/12, 80-233 Gdańsk

autor

Bartosiński B.

• Politechnika Gdańska, Wydział Elektroniki, Telekomunikacji i Informatyki, Katedra Metrologii i Optoelektroniki, ul. G. Narutowicza 11/12, 80-233 Gdańsk

Bibliografia

• [1] Standard Test Access Port and Boundary-Scan Architeture, IEEE Std 1149. ™-2001, (2008)
• [2] Czaja Z., Bartosiński B., Using an IEEE1149.1 test bus for fault diagnosis of analog parts of electronic embedded systems, Proc. of 19th IMEKO TC4 Symposium, Barcelona, Spain, (2013), 6-11
• [3] Czaja Z., Bartosiński B., Diagnostyka analogowych filtrów wielosekcyjnych oparta na magistrali testującej IEEE1149.1, Pomiary, Automatyka, Kontrola, 60 (2014), 745-748
• [4] Texas Instruments Incorporated, SN54BCT8244A, SN74BCT8244A scan test devices with octal buffers, PDF file available from: www.ti.com, (1996)
• [5] Texas Instruments Incorporated, , SCANSTA476 Eight Input IEEE 1149.1 Analog Voltage Monitor, PDF file available from: www.ti.com, (2005)
• [6] Czaja Z., A diagnosis method of analog parts of mixed-signal systems controlled by microcontrollers, Measurement, 40 (2007), 158-170
• [7] Czaja Z., A method of fault diagnosis of analog parts of electronic embedded systems with tolerances, Measurement, 42 (2009), 903-915
• [8] Toczek W., An oscillation-based built-in test scheme with AGC loop, Measurement, 41 (2008), 160-168
• [9] Ren J., Ye H., A Novel Linear Histogram BIST for ADC, Ninth International Conference on Solid-State and Integrated-Circuit Technology, Beijing, (2008), 2099-2102
• [10] Toczek W., Self-testing of fully differential multistage circuits using common-mode excitation, Microelectronics Reliability, 48 (2008), 1890-1899
• [11]Peralta J., Peretti G., Romero E., A New Performance Characterization of Transient Analysis Method, International Journal of Electronics, Communications and Computer Engineering, 1 (2009), 12-19
• [12] Toczek W., Analog fault signature based on sigma-delta modulation and oscillation test methodology, Metrology and Measurement Systems, 9 (2004), 363-375
• [13] Atmel Corporation, 8-bit bit AVR microcontroller with 32KBytes In-System Programmable Flash, ATmega32, ATmega32L, PDF file available from: www.atmel.com, (2011)
• [14] International Rectifier, IRF7105 HEXFET Power MOSFET, PDF file available from: www.irf.com, (2003)

Uwagi

Opracowanie ze środków MNiSW w ramach umowy 812/P-DUN/2016 na działalność upowszechniającą naukę.