Device for emissivity estimation in LWIR range

• Autorzy: Olbrycht R.
• Języki publikacji: EN

Abstrakty

EN

The paper deals with the influence of emissivity on infrared measurements (Tab. 1; Fig. 1-3) and presents the developed device for emissivity estimation (Fig. 4). There is comparison shown between the reference emissivity values measured with thermal camera (Fig. 5) and estimated with the developed device (Tab. 2). Obtained results are in good agreement for three examined samples with emissivity ranging from 0.1 to 0.95.

Słowa kluczowe

EN

emissivity; infrared; thermal camera

• Wydawca: Wydawnictwo PAK
• Czasopismo: Measurement Automation Monitoring
• Rocznik: 2017
• Tom: Vol. 63, No. 3
• Strony: 90--93
• Opis fizyczny: Bibliogr. 6 poz., rys., tab., wykr., wzory

Twórcy

autor

Olbrycht R.

• Lodz University of Technology, Institute of Electronics 211/214 Wólczańska St., 90-924 Łódź, Poland

Bibliografia

• [1] Madding R.: Emissivity measurement and temperature correction accuracy considerations. Proc. SPIE 3700, Thermosense XXI, 393, 1999, doi:10.1117/12.342307
• [2] Minkina W., Dudzik, S.: Infrared Thermography: Errors and Uncertainties. John Wiley & Sons, Ltd, Chichester, UK, 2009, doi: 10.1002/9780470682234
• [3] Więcek B., De Mey G.: Termowizja w podczerwieni. PAK, Warszawa, 2011.
• [4] Melexis, MLX90614 Product Datasheet. Available online: https:// www.melexis.com/-/media/files/documents/datasheets/mlx90614-datasheet-melexis.pdf [2017.06.18]
• [5] Pacholski K., Więcek B.: Practical assessment of accuracy of thermographic indirect measurements, Measurement Automation Monitoring, 2015, vol. 61, no. 6, 2015.
• [6] Więcek B., Pacholski K., Olbrycht R., Strąkowski S., Kałuża M., Borecki M., Wittchen W., Termografia i spektrometria w podczerwieni. Zastosowania przemysłowe, Wydawnictwa Naukowe PWN, Warszawa, 2017.

Uwagi

PL

Opracowanie ze środków MNiSW w ramach umowy 812/P-DUN/2016 na działalność upowszechniającą naukę (zadania 2017).