Wyznaczanie granic defektów podpowierzchniowych metodą aktywnej termografii - badania modelowe

• Autorzy: Gryś S. , Minkina W.

Warianty tytułu

EN

Determination of size of the subsurface defect by active thermography – simulation results

• Języki publikacji: PL

Abstrakty

PL

W artykule przedstawiono wyniki badań symulacyjnych, których celem była ocena możliwości wyodrębniania granic defektu, znajdującego się w strukturze badanego materiału, dzięki zastosowaniu kontrastu termicznego i segmentacji, tj. technik przetwarzania termogramów. Zastosowano trójwymiarowy model zjawisk cieplnych zachodzących w próbce materiału, poddawanej zewnętrznemu wymuszeniu cieplnemu.

EN

The paper presents the results of simulation which aim was to assess the possibility of determining the outline of the defect, located in the structure of the material, by use of the thermal contrast and segmentation as the processing techniques in active infrared thermography. The 3D modeling of thermal phenomena in externally heated sample of material was applied.

Słowa kluczowe

PL

badania nieniszczące; defektoskopia; model numeryczny; metoda elementów skończonych

EN

nondestructive testing; flaw detection; numerical model; finite elements method

• Wydawca: Wydawnictwo SIGMA-NOT
• Czasopismo: Przegląd Elektrotechniczny
• Rocznik: 2013
• Tom: R. 89, nr 4
• Strony: 221--223
• Opis fizyczny: Bibliogr. 9 poz., rys.

Twórcy

autor

Gryś S.

• Politechnika Częstochowska, Wydział Elektryczny, Instytut Elektroniki i Systemów Sterowania

autor

Minkina W.

• Politechnika Częstochowska, Wydział Elektryczny, Instytut Elektroniki i Systemów Sterowania

Bibliografia

• [1] Gralewicz G., Owczarek G., Więcek B., Investigations of single and multilayer structures using lock-in thermography - possible applications, JOSE Int. Journal of Occupat. Safety & Ergonomics, 11 (2005), n.2, 211-215
• [2] Więcek B., De Mey G., Termowizja w podczerwieni. Podstawy i zastosowania, Wydawnictwo PAK, Warszawa, 2011.
• [3] Gryś S., Filtered thermal contrast based technique for testing of material by infrared thermography, Opto-electronics Review, 19 (2011), n.2, 234-241
• [4] Gryś S., Wyznaczanie wybranych parametrów defektów materiałowych metodą aktywnej termografii w podczerwieni, rozdział w Minkina W. (red.), Wybrane problemy współczesnej termografii i termometrii w podczerwieni, Wydawnictwo Politechniki Częstochowskiej, Częstochowa, 2011, 41-61
• [5] Gryś S., New thermal contrast definition for defect characterization by active thermography, Measurement, 45 (2012), 1885-1892
• [6] Gryś S., Analysis of temperature-rise of the material surface over hidden defect thermally stimulated in active thermography, Przegląd Elektrotechniczny, 88 (2012), n.9a, 235-238
• [7] Bishop Ch.M., Pattern recognition and machine learning, Springer, 2006.
• [8] Dudzik S., Approximation of thermal background applied to defect detection using the methods of active thermography, Metrology and Measurement Systems, 17 (2010), n.4, 621–636
• [9] Вавилов B.П., Ширяeв B.B., Cпocoб oпpeдeлeниа paзмеров дефектов при тепловом контроле, Дефектоскопия, 1979, n.11, 63-65