Diagnostyka dokładności wskazań mikroprocesorowego warstwomierza elektromagnetycznego

• Autorzy: Tabisz R. A.

Warianty tytułu

EN

Accuracy diagnostic of the electromagnetic and microprocessor thickness gauge

• Konferencja: XLVI Międzyuczelniana Konferencja Metrologów MKM’2014 i XIX Międzynarodowe Seminarium Metrologów MSM’2014 (XLVI i XIX; 13-16.09.2014; Gdańsk-Sztokholm, Polska-Szwecja)
• Języki publikacji: PL

Abstrakty

PL

Przedstawiono jeden z wariantów programu ćwiczenia laboratoryjnego, którego celem jest poznanie zasad diagnozowania dokładności wskazań mikroprocesorowego warstwomierza przeznaczonego do pomiaru grubości powłok niemagnetycznych naniesionych na podłoże magnetyczne. Prezentowany program ćwiczenia obejmuje takie zagadnienia jak: ustalenie warunków pomiaru, wykonanie pomiarów, wzorcowanie, wyznaczenie funkcji korekcyjnej oraz analizę otrzymanych wyników pomiarów i wzorcowań. W rezultacie wykonanych działań możliwe jest uzyskanie odpowiedzi na następujące pytania: Czy warstwomierz wskazuje z dokładnością zgodną z deklarowaną przez jego producenta? Czy można korzystać z funkcji przetwarzania, którą przygotował producent? Czy warto wyznaczać funkcję korekcyjną? Zaprezentowano przykładowe wyniki pomiarów i wzorcowań uzyskane podczas realizacji poszczególnych etapów ćwiczenia oraz wnioski wyciągnięte na podstawie tych wyników.

EN

The paper presents a variant of the exercise laboratory whose purpose is to know the principles of accuracy diagnosis of the microprocessor and electromagnetic thickness gauge, designed to measure the thickness of non-magnetic coatings deposited on magnetic substrates. The presented exercise program covers such topics as: to determine the conditions of measurement, performance measurement, calibration, identification of corrective functions and an analysis of the results of measurements and calibrations. As a result of the activities carried out, it is possible to answer the following questions: If thickness gauge indicates with accuracy which was declared by the manufacturer? Can I use a conversion function which prepared the manufacturer? Is the correction function is useful? Examples of the results of measurements and calibrations obtained during the various stages of the exercise and the conclusions drawn from these results are presented.

Słowa kluczowe

PL

warstwomierz elektromagnetyczny; ocena dokładności; ćwiczenie laboratoryjne

EN

electromagnetic thickness gauges; accuracy evaluation; laboratory exercise

• Wydawca: Wydział Elektrotechniki i Automatyki Politechniki Gdańskiej
• Czasopismo: Zeszyty Naukowe Wydziału Elektrotechniki i Automatyki Politechniki Gdańskiej
• Rocznik: 2014
• Tom: Nr 38
• Strony: 73--76
• Opis fizyczny: Bibliogr. 7 poz., rys., tab., wykr., fot.

Twórcy

autor

Tabisz R. A.

• Politechnika Rzeszowska, Wydział Elektrotechniki i Informatyki, Katedra Metrologii i Systemów Diagnostycznych, Al. Powstańców Warszawy 12, 35-959 Rzeszów, tel.: [phone]

Bibliografia

• 1. PN-EN ISO 2178:1998 Powłoki niemagnetyczne na podłożu magnetycznym-pomiar grubości powłok -Metoda magnetyczna.
• 2. PN-EN ISO 2808:2008 Farby i lakiery – Oznaczanie grubości powłok.
• 3. Dziatlik A.: Warstwomierze. Pomiar grubości powłok. Elektronizacja Nr 4/1991, s. 17-20.
• 4. Janiczek R., Ptak P.: Przetworniki indukcyjnościowe w pomiarach grubości warstw wierzchnich. Przegląd Elektrotechniczny, r. 83 Nr 1/2007, s. 86-90.
• 5. PKN-ISO/IEC Guide 99:2010 Międzynarodowy słownik metrologii. Pojęcia podstawowe i ogólne oraz terminy z nimi związane (VIM). PKN Warszawa 2010.
• 6. Tabisz R.A.: Validation of industrial measurement processes. Transverse Disciplines in Metrology. ISTE Wiley 2009, s.792-801.
• 7. PN-EN ISO 4518:2001 Powłoki metalowe. Pomiar grubości powłok. Metoda profilometryczna.