Optimization of processes designed for ensuring the quality and reliability of electronics using cumulative models of defectiveness and total production expenses

• Autorzy: Bobalo Y. , Nedostup L. , Kiselychnyk M. , Melen M.

Identyfikatory

DOI

10.15199/48.2016.01.38

Warianty tytułu

PL

Optymalizacja procesu projektowania zapewniająca jakość i niezawodność układów elektronicznych

• Języki publikacji: EN

Abstrakty

EN

The paper offers an approach to solving the problem of ensuring the quality and reliability of electronics using a comprehensive optimization of manufacturing processes by means of the criteria of minimization of defectiveness and total expenses with application of end-to-end mathematical models.

PL

W artykule opisano sposób rozwiązania problem zapewnienia jakości I niezawodności elektroniki. Wykorzystano optymalizację procesu wytwarzania z kryterium minimalizacji defektów bazując na modelu matematycznym.

Słowa kluczowe

EN

quality; reliability; defectiveness; manufacturing process

PL

jakość; niezawodność; proces produkcji

• Wydawca: Wydawnictwo SIGMA-NOT
• Czasopismo: Przegląd Elektrotechniczny
• Rocznik: 2016
• Tom: R. 92, nr 1
• Strony: 155--158
• Opis fizyczny: Bibliogr. 4 poz., rys.

Twórcy

autor

Bobalo Y.

• Lviv Polytechnic National University, Institute of Telecommunications, Radioelectronics and Electronic Engineering, 12 S. Bandery Street, 79013, Lviv, Ukraine

autor

Nedostup L.

• Lviv Polytechnic National University, Institute of Telecommunications, Radioelectronics and Electronic Engineering, 12 S. Bandery Street, 79013, Lviv, Ukraine

autor

Kiselychnyk M.

• Lviv Polytechnic National University, Institute of Telecommunications, Radioelectronics and Electronic Engineering, 12 S. Bandery Street, 79013, Lviv, Ukraine

autor

Melen M.

• Lviv Polytechnic National University, Institute of Telecommunications, Radioelectronics and Electronic Engineering, 12 S. Bandery Street, 79013, Lviv, Ukraine

Bibliografia

• [1] Yu. Bobalo, L. Nedostup, M. Kiselychnyk, Quality and reliability of electronics. Elements of theory and techniques for their ensuring: monography, Lviv, Ukraine: Lviv Polytechnic National University, 2013. (Ukrainian)
• [2] Yu. Bobalo, L. Nedostup, M. Kiselychnyk, M. Melen, P. Zayarnyuk, Forecasting the Quasi-Deterministic Parameters’ Drifts of Radioelectronics Apparatus on the Basis of Quantile Zones Techniques, Przeglad Elektrotechniczny. 89 (2013), nr 2a, 270-272.
• [3] Yu. Bobalo, L. Nedostup, M. Kiselychnyk, M. Melen, Research into emergence of radio electronic devices quality forming systems, Przeglad Elektrotechniczny, 87 (2011), nr 5, 14-16.
• [4] Yu. Bobalo, L. Nedostup, M. Kiselychnyk, M. Melen, Predicting the reliability of radio-electronic devices by the monitoring of production defectiveness, Przeglad Elektrotechniczny, 88 (2012), nr 3a, 34-36.

Uwagi

Opracowanie ze środków MNiSW w ramach umowy 812/P-DUN/2016 na działalność upowszechniającą naukę.