Tytuł artykułu
Wybrane pełne teksty z tego czasopisma
Identyfikatory
Warianty tytułu
Symulacja wpływu promieniowania neutronowego na charakterystyki p-n-p tranzystorów bipolarnych
Języki publikacji
Abstrakty
We have developed numerical model and software to simulate the ionizing radiation influence on the bipolar transistor parameters. The software allows to calculate the input and output characteristics, the current transmission coefficient and other parameters under the irradiation for various temperatures, base and collector voltages.
Opracowaliśmy model numeryczny i oprogramowanie do symulacji wpływu promieniowania jonizującego na parametry tranzystorów bipolarnych. Oprogramowanie pozwala obliczyć parametry wejściowe i wyjściowe, aktualny współczynnik transmisji i inne parametry na podstawie napromieniowania dla różnych temperatur, napięć bazy i kolektora.
Wydawca
Czasopismo
Rocznik
Tom
Strony
236--238
Opis fizyczny
Bibliogr. 4 poz., rys., wykr.
Twórcy
autor
- Institut of Applied Physics Problems, Kurchatov str. Minsk, Belarus
autor
- Institut of Applied Physics Problems, Kurchatov str. Minsk, Belarus
autor
- nstitut of Applied Physics Problems, Kurchatov str. Minsk, Belarus
autor
- Lublin University of Technology Nadbystrzycka Str., Lublin, Poland
autor
- Institut of Applied Physics Problems, Kurchatov str. Minsk, Belarus
Bibliografia
- [1] Vologdin E., Lysenko A., Radiation resistance of the bipolar transistors, Moscow Institute of Electronics and Mathematics (2000) (in Russian)
- [2] Zejeger K., Physics of semiconductors, Mir (1977) (in Russian)
- [3] Stepanenko I., Transistor and schemes fundamentals, Energia (1977) (in Russian)
- [4] Vologdin E., Lysenko A., Integral radiation changes of semiconductor parameters, Moscow Institute of Electronics and Mathematics (1998) (in Russian)
Uwagi
Opracowanie ze środków MNiSW w ramach umowy 812/P-DUN/2016 na działalność upowszechniającą naukę.
Typ dokumentu
Bibliografia
Identyfikator YADDA
bwmeta1.element.baztech-604dc539-f1e6-43f7-8d9e-48f7935af7b7