Możliwości wykorzystania profili litologicznych opracowywanych na podstawie wyników pomiarów składu chemicznego metodą pXRF na próbkach rdzeniowych i okruchowych

• Autorzy: Kubik Benedykt , Kowalska Sylwia , Skupio Rafał , Zagórska Urszula , Wolański Krzysztof

Warianty tytułu

EN

Possibilities of using lithological profiles prepared on the basis of the results of chemical composition measurements using the pXRF method on core and aggregate samples

• Języki publikacji: PL

Abstrakty

PL

Określenie profilu litologicznego na podstawie pomiarów geofizycznych składu chemicznego sondami typu GEM lub LithoScaner staje się coraz częściej wykorzystywanym narzędziem interpretacji geofizycznej. Analogiczny do pomiarów GEM profil chemiczny, można uzyskać na podstawie pomiarów wykonywanych przenośnym spektrometrem pXRF. Artykuł przedstawia metodykę określania składu mineralnego przewiercanych skał na podstawie tanich i szybkich pomiarów pXRF, w oparciu o modele łączące wyniki analizy składu chemicznego z wynikami badań składu mineralnego (XRD). Dużą zaletą proponowanej metody jest możliwość jej stosowania na próbkach okruchowych, jak również na archiwalnych rdzeniach. Profile litologiczne wykonywane na podstawie analizy składu chemicznego mogą być również stosowane przy profilowaniu geologicznym, dzięki czemu równolegle z opisem sedymentologicznym możemy śledzić zmiany składu mineralnego analizowanych skał, mogą stanowić podstawę interpretacji w ośrodkach cienkowarstwowych, czy wspomagać sterowanie trajektorią otworów kierunkowych.

EN

Determination of lithological profile on the basis of geophysical measurements of chemical composition with GEM or LithoScaner probes is becoming a more and more frequently used tool for geophysical interpretation. A chemical profile analogous to GEM measurements can be obtained on the basis of measurements performed with a portable pXRF spectrometer. The paper presents a methodology for determining the mineral composition of drilled rocks on the basis of cheap and fast pXRF measurements, based on models combining the results of chemical composition analysis with the results of mineral composition tests (XRD). A great advantage of the proposed method is the possibility to use it on aggregate samples, as well as on archival cores. Lithological profiles made on the basis of chemical composition analysis can also be used in geological profiling, so that parallel to sedimentological description we can track changes in mineral composition of analyzed rocks. They can be the basis for interpretation in thin-layer centers or support trajectory control of directional holes.

Słowa kluczowe

PL

otwory wiertnicze; pomiary geofizyczne; profile litologiczne; metoda pXRF

EN

boreholes; geophysical measurements; lithological profiles; pXRF method

• Wydawca: Stowarzyszenie Naukowo-Techniczne Inżynierów i Techników Przemysłu Naftowego i Gazowniczego
• Czasopismo: Wiadomości Naftowe i Gazownicze
• Rocznik: 2020
• Tom: R. 23, Nr 2 (256)
• Strony: 4--8
• Opis fizyczny: Rys.

Twórcy

autor

Kubik Benedykt

• Instytut Nafty i Gazu - Państwowy Instytut Badawczy

autor

Kowalska Sylwia

• Instytut Nafty i Gazu - Państwowy Instytut Badawczy

autor

Skupio Rafał

• Instytut Nafty i Gazu - Państwowy Instytut Badawczy

autor

Zagórska Urszula

• Instytut Nafty i Gazu - Państwowy Instytut Badawczy

autor

Wolański Krzysztof

• Polskie Górnictwo Naftowe i Gazownictwo S.A.

Uwagi

Opracowanie rekordu ze środków MNiSW, umowa Nr 461252 w ramach programu "Społeczna odpowiedzialność nauki" - moduł: Popularyzacja nauki i promocja sportu (2020).