Tytuł artykułu
Treść / Zawartość
Pełne teksty:
Identyfikatory
Warianty tytułu
Analiza wytrzymałości interfaz Cu/α−Al2O3 jako klucz do racjonalnego projektowania kompozytów
Języki publikacji
Abstrakty
Electron back-scattered diffraction (EBSD) studies carried out for the Cu/α−Al2O3 composites manufactured by pulsed laser deposition method and by the powder metallurgy enable to uncover a set of orientation relationships characteristic for materials of this type. The identified interfaces are categorized according to the bonding strength. Additionally, their microstructure is reproduced by molecular dynamic (MD) simulations. The obtained classification of the phase boundaries constitutes key information for effective composite design.
Badania EBSD (Electron Back-Scattered Diffraction) przeprowadzone dla kompozytów Cu/α−Al2O3 wytworzonych metodą ablacji laserowej (Pulsed Laser Deposition) oraz metalurgii proszków umożliwiły odkrycie zbioru związków orientacji charakterystycznych dla tego typu materiałów. Zidentyfikowane warstwy przejściowe skategoryzowano zgodnie z wytrzymałością wiązania. Dodatkowo, ich mikrostrukturę odtworzono za pomocą symulacji dynamiki molekularnej (MD). Otrzymana klasyfikacja granic fazowych stanowi kluczową informację do efektywnego projektowania kompozytów.
Wydawca
Czasopismo
Rocznik
Tom
Strony
1953--1956
Opis fizyczny
Bibliogr. 14 poz., rys., tab.
Twórcy
autor
- AGH University of Science and Technology, Department of Strength And Fatigue of Materials And Structures
autor
- Institute of Metallurgy and Materials Science Pas, Cracow, Poland
autor
- Agriculture University in Krakow, Department of Engineering and Machinery for Food Industry, Al. Mickiewicza 30, 30-059 Krakow, Poland
autor
- AGH University of Science and Technology, Department of Strength And Fatigue of Materials And Structures
Bibliografia
- [1] J. F. Bartolomé, J. I. Beltrán, C. F. Gutiérrez-González, C. Pecharromán, M. C. Muñoz, J. S. Moya, Acta Mater. 56, 3358 (2008).
- [2] A. R. S. Gautam, J. M. Howe, Philos. Mag. 91, 3203 (2011).
- [3] K. Nalepka, K. Sztwiertnia, P. Nalepka, Preferred orientation relationships at the Cu/-Al2O3 interface: identification and theoretical explanation, submitted.
- [4] K. Nalepka, J. Hoffman, S. Kret, P. Nalepka, Z. Szymanski, Appl. Phys. A-Mater. 117, 169 (2014).
- [5] M. W. Finnis, J. Phys.-Condens. Mat. 8, 5811 (1996).
- [6] R. Benedek, D. N. Seidman, C Woodward, J. Phys.-Condens. Mat. 14, 2877 (2002).
- [7] K. Nalepka, Eur. Phys. J. B 85, 45 (2012).
- [8] B. Fultz, J. M. Howe, Transmission Electron Microscopy and Diffractometry of Materials, Berlin 2001.
- [9] W. Yu, S. Shen, Comp. Mater. Sci. 48, 228 (2010).
- [10] S. Curiotto, H. Chien, H. Meltzman, P. Wynblatt, G. S. Rohrer, W. D. Kaplan, D. Chatain, Acta Mater. 59, 5320 (2011).
- [11] Y. Long, N. X. Chen, J. Phys.-Condens. Mat. 21, 315003 (2009).
- [12] A. F. Voter, Los Alamos Unclassied Technical Report No. LAUR 93-3901 (1993).
- [13] K. Nalepka, Comp. Mater. Sci. 56, 100 (2012).
- [14] K. Nalepka, Bull. Pol. Acad. Sci.-Te. 61, 441 (2013).
Uwagi
EN
This work was supported, within the framework of the Project 11.11.130.639, by the Ministry of Science and Higer Education
Typ dokumentu
Bibliografia
Identyfikator YADDA
bwmeta1.element.baztech-5e4a8225-e16f-4e24-a8a3-3c2d636c48d5