PL EN


Preferencje help
Widoczny [Schowaj] Abstrakt
Liczba wyników
Tytuł artykułu

Przestrzennie skorelowana, submikrometrowa analiza właściwości morfologicznych, mechanicznych i chemicznych kompozycji epoksydowej domieszkowanej nanokrzemionką

Identyfikatory
Warianty tytułu
EN
Spatially correlated submicron morphological, mechanical and chemical analysis of the nanosilicate- doped epoxy
Języki publikacji
PL
Abstrakty
PL
Submikrometrowe badania nanomateriałów są źródłem cennych informacji o ich unikatowych właściwościach. Jednak ze względu na często występujące niejednorodności materiałów, w zależności od lokalizacji wykonanych pomiarów, różnice między uzyskanymi wynikami mogą wynosić nawet kilkaset procent, istotnie utrudniając uzyskanie spójnych i miarodajnych rezultatów pomiarów przeprowadzanych z wykorzystaniem wielu metod i narzędzi diagnostycznych. Wobec powyższego konieczne jest zastosowanie łatwych w implementacji rozwiązań, pozwalających na skuteczną korelację przestrzenną uzyskanych wyników. W niniejszej pracy zaprezentowano zastosowanie nanomarkerów, wytwarzanych za pomocą sondy mikroskopu sił atomowych, w wieloetapowym procesie pomiarowym. Wykorzystanie wytworzonych nanostruktur umożliwiło przeprowadzenie analizy właściwości morfologicznych, mechanicznych oraz chemicznych kompozycji ściśle określonych struktur próbki epoksydowej domieszkowanej nanokrzemionką.
EN
Submicron investigations of the nanomaterials are the source of valuable data about their unique properties. However, due to often nonhomogeneities of the materials, the results of local properties measurements may vary even few hundred percents as various areas are analyzed. Therefore one needs the solution that would be easy to implement and provide effective positioning of the sample in order to obtain coherent and reliable outcome of the measurements carried out using various methods and diagnostic methods. In this work the utilization of the nanomarkers developed with the atomic force microscopy probe for multi-stage measurement procedure is presented. The application of the developed nanostructures allowed to perform spatially correlated analysis of the morphological, mechanical and chemical properties of the epoxy matrix with nanosilicate filler.
Rocznik
Strony
14--16
Opis fizyczny
Bibliogr. 24 poz., il., wykr.
Twórcy
autor
  • Instytut Elektrotechniki, Oddział Technologii i Materiałoznawstwa Elektrotechnicznego we Wrocławiu
autor
  • Instytut Elektrotechniki, Oddział Technologii i Materiałoznawstwa Elektrotechnicznego we Wrocławiu
autor
  • Instytut Elektrotechniki, Oddział Technologii i Materiałoznawstwa Elektrotechnicznego we Wrocławiu
autor
  • Instytut Elektrotechniki, Oddział Technologii i Materiałoznawstwa Elektrotechnicznego we Wrocławiu
Bibliografia
  • [1] Bonhomme P., Beorchia A., Image synthesis in the electron microscope, (1985) Ultramicroscopy, 17 (2), pp. 127–131.
  • [2] Robinson V. N. E., The elimination of charging artefacts in the scanning electron microscope, (1975) Journal of Physics E: Scientific Instruments, 8 (8), art. no. 009, pp. 638–640.
  • [3] Binnig G., Quate C. F., Gerber C.: Atomic force microscope. Phys. Rev. Lett., 56, pp. 930–933, 1986.
  • [4] Bhushan B., Marti O.: Scanning Probe Microscopy – Principle of Operation, Instrumentation, and Probes. Springer Handbook of Nanotechnology, pp. 573–617, 2010.
  • [5] Andrzej Sikora, Alicja Kędzia: Quantitative comparison of the dura mater tissue structures measured with atomic force microscopy, Advances in Clinical and Experimental Medicine 21 (4), 487–493, 2012.
  • [6] Bhushan B.: Nanotribology and nanomechanics. Wear, 259 (7)–(12), pp. 1507–1531, 2005.
  • [7] Ihalainen P., Järnström J., Määttänen A., Peltonen J.: Nano-scale mapping of mechanical and chemical surface properties of pigment coated surfaces by torsional harmonic atomic force microscopy. Colloids and Surfaces A: Physicochemical and Engineering Aspects, 373 (1)–(3), pp. 138–144, 2011.
  • [8] Trdan U., Grum J., SEM/EDS characterization of laser shock peening effect on localized corrosion of Al alloy in a near natural chloride environment, (2014) Corrosion Science, 82, pp. 328–338.
  • [9] Mielcarek W., Gubański A., Paściak G., Prociów K., Warycha J., Wrobel J. M., The effect of bismuth oxide polymorph forms on degradation processes in ZnO varistors, (2013) Ceramics International, 39 (7), pp. 8219–8226.
  • [10] Nanomateriały inżynierskie konstrukcyjne i funkcjonalne, Krzysztof Kurzydłowski, Małgorzata Lewandowska, Wydawnictwo Naukowe PWN, 2011.
  • [11] Kasprzak W., Nadolny Z., Walczak K., Siodła K., Sikorski W., Jóźwiak K., Paściak G., Moroń L. The influence of barium titanate as a filler in impregnating epoxy resin on chosen electrical parameters of obtained material (2009) Materials Science- Poland, 27 (4), pp. 1219–1227.
  • [12] Krause T., Moroń L., Motyl E., Zyłka P., Space charge decay in low density polyethylene -montmorillonite clay multilayer nanocomposites (2009) Materials Science- Poland, 27 (4), pp. 1189–1198.
  • [13] Motyl E., Moroń, L., Karaś K., Space charge measurements on epoxy resin filled with micro- And nano- sized particles (2008) Przegląd Elektrotechniczny, 84 (10), pp. 112–116.
  • [14] Mazurek B., Moroń L., Zawadzka E., Polymer nanocompositesstructure and dielectric properties (2008) Przegląd Elektrotechniczny, 84 (4), pp. 80–83.
  • [15] Romanus H., Schadewald J., Cimalla V., Niebelschütz M., Machleidt T., Franke K.-H., Spiess L., Ambacher O., 2007, Markers prepared by focus ion beam technique for nanopositioning procedures, Microelectronic Engineering 84 (3), 524–527.
  • [16] Kregting R., Gielen S., Driel W. V., Alkemade P., Miro H., Kamminga J. D., 2011, Local stress analysis on semiconductor devices by combined experimental-numerical procedure, Microelectronics Reliability 51 (6), 1092–1096.
  • [17] Rust M. A., Todd R. I., 2007, High resolution surface studies of superplastic deformation, Materials Science Forum, 551-552, 615–620.
  • [18] Andrzej Sikora, Development and utilization of the nanomarkers for precise AFM tip positioning in the investigation of the surface morphology change, Optica Applicata, 43 (1), (2013) 163–171.
  • [19] Andrzej Sikora, Improvement of the scanning area positioning repeatability using the nanomarkers developed with nanoscratching method, Measurement Science and Technology, 25 (2014) 055401.
  • [20] D. Nečas, P. Klapetek, Gwyddion: An open-source software for SPM data analysis, Central European Journal of Physics, 10 (1), (2012) 181-188.
  • [21] http://gwyddion.net/, dostęp w dniu 28.03.2014.
  • [22] http://www.imagemet.com/WebHelp6/Default.htm#Roughness Parameters/Roughness_Parameters.htm, dostęp w dniu 28.03.2014.
  • [23] Magonov S. N. S., Elings V., Whangbo M.-H.: Phase imaging and stiffness in tapping-mode atomic force microscopy. Surface Science, 375 (2)–(3), p. L385-L391, 1997.
  • [24] Anczykowski B., Gotsmann B., Fuchs H., Cleveland J. P., Elings V. B.: How to measure energy. dissipation in dynamic mode atomic force microscopy. Applied Surface Science, 140 (3)–(4), pp. 376–382, 1999.
Typ dokumentu
Bibliografia
Identyfikator YADDA
bwmeta1.element.baztech-5ca5daed-d92e-47da-a983-ebdf9f3a6f58
JavaScript jest wyłączony w Twojej przeglądarce internetowej. Włącz go, a następnie odśwież stronę, aby móc w pełni z niej korzystać.