Determination the accuracy of TELPOD SVP 45 resistive sensors as tools for measuring the relative displacement of points

• Autorzy: Ćwiąkała P. , Owerko T.

Warianty tytułu

PL

Ocena dokładności czujników opornościowych grupy TELPOD SVP 45 jako narzędzi do pomiarów odkształceń

• Języki publikacji: EN

Abstrakty

EN

Modern measurement technologies allow us to simplify the carrying out of surveys, especially specialist ones. Resistive sensors may prove to be useful during measurements of deformations and strains of structures. These tools allow for the surveying of changes in section lengths and the spacing of expansion gaps. The article will discuss the sensor calibration procedure. In addition, a statistical analysis of the test measurement results of eight sensors of this type will be discussed.

PL

Nowoczesne technologie pomiarowe pozwalają na uproszczenie wykonywania pomiarów geodezyjnych, zwłaszcza specjalistycznych. W pomiarach deformacji i odkształceń obiektów przydatne mogą być czujniki opornościowe. Narzędzia te pozwalają na pomiar zmian długości odcinków i zmian rozstawu szczelin dylatacyjnych. W artykule omówiono procedurę kalibracji czujników. Dodatkowo zawarto w nim analizę statystyczną wyników pomiaru testowego ośmiu czujników tego typu.

Słowa kluczowe

EN

resistive sensors; accuracy; deformation measurements

PL

czujniki rezystancyjne; dokładność; pomiary odkształceń

• Wydawca: AGH University of Science and Technology Press
• Czasopismo: Geomatics and Environmental Engineering
• Rocznik: 2012
• Tom: Vol. 6, no. 3
• Strony: 25--33
• Opis fizyczny: Bibliogr. 7 poz., tab., wykr.

Twórcy

autor

Ćwiąkała P.

• AGH University of Science and Technology, Faculty of Mining Surveying and Environmental Engineering, Krakow, Poland

autor

Owerko T.

• AGH University of Science and Technology, Faculty of Mining Surveying and Environmental Engineering, Krakow, Poland

Bibliografia

• [1] Altman D.G., Bland J.M.: Measurment in medicine: the analysis of metod comparsion studiem. Statistican, Institute of Statisticians, 1983.
• [2] Ćmiel A.: Statystyka matematyczna - materiały do wykładów. AGH, Kraków 2008 (unpublished).
• [3] Górecki P.: Rezystory. Część 1. Elektronika dla Wszystkich, 1/1996, AVT - Korporacja sp. z o. o., Warszawa 1996.
• [4] Jóźwik M., Jaskowski W.: Rezystancyjny system pomiarów zmian długości pomiędzy znakami pomiarowymi. The patent application, P-392572, 2010.
• [5] Popiołek E.: Ochrona terenów górniczych. Wydawnictwa AGH, Kraków 2009.
• [6] Shapiro S., Wilk M.B.: An analysis of variance test for normality (complete samples). Biometrika, vol. 52 (3-4), Oxford University Press, Oxford 1965.
• [7] Wilcoxon F.: Individual comparisons by ranking methods. Biometrics, International Biometric Society, Arlington 1945.