Optica Applicata - Tom Vol. 45, nr 4 (2015) - BazTech - Yadda

Tom - szczegóły

Tytuł artykułu

Vol. 45, nr 4

Czasopismo

Optica Applicata

Wydawca

Oficyna Wydawnicza Politechniki Wrocławskiej

Rocznik

2015

Identyfikatory

Zawartość wolumenu

Vol. 45, nr 4
- artykuł: Converged ultra-wideband and multi-level wired signal downstream transport over single wavelength in wavelength-division multiplexing passive optical network (Ma H, Wang F., Wang W., Zhang X, Yu Q.), s. 433--445
- artykuł: Study of all-optical logic XOR gate based on linear optical amplifier cross-gain modulation (Li X, Jin J, Li H, Zhang Q), s. 447--457
- artykuł: Timing measurement and simulation of the activation process in gigabit passive optical networks (Horvath T., Munster P., Jurcik M, Koci L, Filka M.), s. 459--471
- artykuł: Performance analysis of optimized non-zero dispersion shifted fiber without amplification and without dispersion compensation for wavelength division multiplexing optical networks (Priya R., Sivanantharaja A., Selvendran S.), s. 473--490
- artykuł: Estimation of acoustically induced refractive index perturbation in silicon and germanium slab for optical applications (Sharma G., Kumar S., Kumar D., Singh V.), s. 491--500
- artykuł: Absorption coefficient along a propagated ultra-short laser pulse in the air based on Kramers–Kronig relations (Malekshahi M, Naghavi K), s. 501--512
- artykuł: A simple and practical color image encryption with the help of QR code (Deng X, Zhu X.), s. 513--521
- artykuł: Feature extraction of molten pool for laser welding quality real-time inspection (Zhang J, Yin H, Huang H, Yang R, Yang J, Li Y), s. 523--533
- artykuł: Electroluminescence of InGaN/GaN heterostructures at the reverse bias and nitrogen temperature (Veleschuk V, Vlasenko A, Kisselyuk M, Vlasenko Z, Khmil D, Borshch V), s. 535--543
- artykuł: Predicting emission spectra of fluorescent materials from their absorbance spectra using the artificial neural network (Shams-Nateri A, Piri N), s. 545--557
- artykuł: Significance of features in object recognition using depth sensors (Harasymowicz-Boggio B., Chechlinski L, Siemiatkowska B.), s. 559--571
- artykuł: The impact of atomic layer deposition technological parameters on optical properties and morphology of Al2O3 thin films (Dobrzanski L. A., Szindler M., Szindler M., Hajduk B., Kotowicz S.), s. 573--583
- artykuł: Transparent yttrium oxide ceramics as potential optical isolator materials (Kruk A, Wajler A, Mrozek M, Zych L, Gawlik W, Brylewski T), s. 585--594

rozwiń roczniki

JavaScript jest wyłączony w Twojej przeglądarce internetowej. Włącz go, a następnie odśwież stronę, aby móc w pełni z niej korzystać.