Structural characterization of sintered DistaloyAE and DistaloyHP

• Autorzy: Skrzypek S. J. , Bergmark A. , Goły M.

Warianty tytułu

PL

Charakterystyka strukturalna spieków ze stopowych proszków DistaloyAE i DistaloyHP

• Języki publikacji: EN

Abstrakty

EN

The purpose of this paper is to elaborate X-ray diffraction methodology to characterize some chosen qualitative parameters of diffusion alloyed PM steel DistaloyAE and DistaloyHP. The beneficial feature of diffraction methods is the non-destructive character and large number of structural information contained in diffraction pattern. X-ray diffraction have large potential in analysis of technological operations and fatigue or corrosion life. Qualitative and quantitative phase analysis and residual stresses (01) obtained by the classical sin2 Ψ and modified g-sin2 Ψ are presented. The profile diffraction line analysis was used to determine lattice distortion and average crystallite size (D). In H6 and H8 samples distortions are higher than in A5 and A8. The decreases versus depth and largest values appear in about 4 um thick surface layer of A samples and in about 4÷10 um thick surface layer of H one. In all samples occurred tensile stresses. Higher value of stresses was in H samples.

PL

Zastosowano specjalną metodologię rentgenowskich metod dyfrakcyjnych w celu scharakteryzowania warstw wierzchnich spieków wykonanych z dwóch stopów DistaloyAE and DistaloyHP. Drugim celem było potencjalne zastosowanie dyfrakcyjnych metod jako sposobu nieniszczącej kontroli jakości procesu technologii spiekania, a także nieniszczących obserwacji strukturalnych efektów zmęczeniowych i korozyjnych stopowych stali spiekanych. Cele zrealizowano, stosując jakościową i ilościową dyfrakcyjną analizę fazową, dyfrakcyjną metodę pomiaru makroskopowych naprężeń własnych (01) i metodę analizy profilu linii dyfrakcyjnej umożliwiające wyznaczenie mikroodkształceń sieci krystalicznej oraz średniej wielkości ziarna (D). Średnia wielkość ziama w próbkach A5 i A8 jest prawie dwukrotnie Większa niż w próbkach H6 i H8. Mikroodkształcenia sieci krystalicznej są większe w próbkach H6 i H8. We wszystkich próbkach maleje wraz ze wzrostem głębokości. Maksymalne wartości mikroodkształceń występowały dla grubości warstwy ok. 4 um dla próbek A i do 10 um dla próbek H. We wszystkich próbkach występowały naprężenia rozciągające. Większe wartości naprężeń występowały dla próbek H.

Słowa kluczowe

EN

retained austenite; residual stresses; surface layer; sintered alloys; non-destructive X-ray diffraction methods; quantitative X-ray diffraction phase analysis; sin 2Psi X-ray method

PL

spieki stopowe; austenit szczątkowy; makroskopowe naprężenia własne; nieniszczące metody dyfrakcyjne; yfrakcyjna analiza fazowa dilościowa; dyfrakcyjna analiza fazowa jakościowa; metoda sin2Ψ; analiza profilu linii dyfrakcyjnej

• Wydawca: Wydawnictwo SIGMA-NOT
• Czasopismo: Inżynieria Materiałowa
• Rocznik: 2013
• Tom: Vol. 34, nr 4
• Strony: 370--373
• Opis fizyczny: Bibliogr. 8 poz., rys., tab.

Twórcy

autor

Skrzypek S. J.

• AGH Akademia Gómiczo-Hutnicza, Wydział Inżynierii Metali i Informatyki Przemysłowej, Kraków

autor

Bergmark A.

• Höganäs AB, Research and Development S-263 83 Sveden

autor

Goły M.

• AGH Akademia Gómiczo-Hutnicza, Wydział Inżynierii Metali i Informatyki Przemysłowej, Kraków

Bibliografia

• [1] Skrzypek S. J.: New approach to residual macro-stresses measurement due to grazing angle X-ray diffraction geometry. Rozprawy i Monografie 108, Uczelniane Wyd. Nauk.-Dydaktyczne AGH, Kraków (2002).
• [2] Skrzypek S. J., Baczmanski A., Ratuszek W., Kusior E.: New approach to stress analysis based on grazing-incidence X-ray diffraction. Journal of Applied Crystallography 34 (2001) 427÷435.
• [3] Cullity B. D., Stock S. R.: Elements of X-ray diffraction. Third Edition, Prentice Hall, Upper Saddle River, NJ0745 8 2003.
• [4] Karp J., Pofelska-Filip I.: Rentgenowska ilościowa analiza fazowa RIAF austenitu w stalach. Hutnik (1979) 253÷269.
• [5] Macherauch E., Wohlfart H.: Prinzipien der quantitativen röntgeno- graphischen Phasenanalyse (RPA). HMT 27 (1972) 230÷244.
• [6] Skrzypek S. J.: Surfaces, coatings and their residual stresses – new methodological approach. Proc. of XVII Conf. Applied Crystallography, Editors H. Morawiec, D. Stróż, Word Scientific-Singapore-London-Hong Kong (1998) 417÷422.
• [7] Bojarski Z., Bołd T.: Rentgenograficzne metody wyznaczania zniekształceń sieciowych i wielkości bloków materiałów polikrystalicznych. Prace Inst. Hut. 22 (1970) 115÷127.
• [8] Warren B. E., Averbach B. L.: the separation of cold-work distortion and particle size broadening in X-Ray patterns. J. Appl. Phys. 23 (1952) 497.