Tytuł artykułu
Wybrane pełne teksty z tego czasopisma
Identyfikatory
Warianty tytułu
System pomiaru ETP z optyczna detekcją do kontroli jakości procesów przepływu
Języki publikacji
Abstrakty
Multi-phase flow measurement technologies are still built and improved. There is a clear trend in the industry to implement more optimum related functions, where the focus is put on an active control and the monitoring system. Control related active optimum functions can only be realised with a system that allows the electronic control. Electrical capacitance tomography (ECT) is a method of imaging cross-sections of vessels and pipelines containing dielectric material. Permittivity distribution is determined with a multi-electrode sensor and interpreted by software. This paper provides description of the device as well as results of exemplary measurements.
Technologie pomiarowe przepływu wielofazowego są wciąż budowane i ulepszane. Istnieje wyraźna tendencja w przemyśle do realizacji funkcji związanych z bardziej optymalnym sterowaniem, w którym nacisk kładziony jest na aktywną kontrolę i system monitoringu. Optymalizacja funkcji do aktywnej kontroli może być realizowana tylko w systemie, który umożliwia sterowanie elektroniczne. Elektryczna tomografia pojemnościowa (ETP) jest metodą obrazowania przekrojów naczyń i rurociągów zawierających materiał dielektryczny. Przenikalność elektryczna jest wyznaczana za pomocą czujnika wieloelektrodowego i interpretowana przez oprogramowanie. Niniejszy dokument zawiera opis urządzenia, jak również przykładowe wyniki pomiarów.
Wydawca
Czasopismo
Rocznik
Tom
Strony
157--160
Opis fizyczny
Bibliogr. 15 poz., fot., rys., wykr.
Twórcy
autor
- Netrix S.A., Research and Development Center, Związkowa 26, 20-148 Lublin
autor
- Netrix S.A., Research and Development Center, Związkowa 26, 20-148 Lublin
autor
- Netrix S.A., Research and Development Center, Związkowa 26, 20-148 Lublin
autor
- Netrix S.A., Research and Development Center, Związkowa 26, 20-148 Lublin
autor
- Institute of Electronics and Information Technology, Lublin University of Technology, Lublin, Poland
- Electrotechnical Institute, ul. Pożaryskiego 28, 04-703 Warszawa
Bibliografia
- [1] Adler A., Lionheart W.R.B., Uses and abuses of EIDORS: an extensible software base for EIT, Physiological Measurement (2006), Vol. 27
- [2] Analog Devices Technical Documents, 24-Bit Capacitance-to- Digital Converter with Temperature Sensor AD7745/AD7746, Analog Devices, April (2005)
- [3] Atmel Technical Documents, 8-bit Microcontroller with 16/32K Bytes of ISP Flash and USB Controller ATmega16U4/ATmega32U4, Atmel, November (2010)
- [4] Beck M. S., Byars M., Dyakowski T., Waterfall R., He R., Wang S. J., Yang W. Q.: Principles and Industrial Applications of Electrical Capacitance Tomography, Measurement and Control, September (1997), Vol. 30, No. 7
- [5] Filipowicz S.F., Rymarczyk T.: Tomografia Impedancyjna, pomiary, konstrukcje i metody tworzenia obrazu. BelStudio, Warsaw (2003)
- [6] Huang S. M., Plaskowski A., Xie C. G., Beck M. S.: Electronic Letters (1988), Vol. 24
- [7] Hexmoor H., McLaughlan B., Tuli G.: Natural human role in supervising complex control systems, Journal of Experimental & Theoretical Artificial Intelligence, March (2009), Vol. 21/1
- [8] Ostrowski K. L., Luke S. P., Williams R. A.: Simulation of the performance of electrical capacitance tomography for measurement of dense phase pneumatic conveying, Chemical Engineering Journal (1997), Vol. 68
- [9] Rymarczyk T.: Using electrical impedance tomography to monitoring flood banks, International Journal of Applied Electromagnetics and Mechanics (2014), 45, 489–494
- [10] Rymarczyk T.: Characterization of the shape of unknown objects by inverse numerical methods, Przegląd Elektrotechniczny (2012), 88, 7b/2012, 138-140
- [11] Rymarczyk T.: New Methods to Determine Moisture Areas by Electrical Impedance Tomography, International Journal of Applied Electromagnetics and Mechanics (2016), v.08, 1-9, DOI:10.3233/JAE-16207
- [12] Sankowski D., Sikora J.: Electrical capacitance tomography: Theoretical basis and applications, Wydawnictwo Instytutu Elektrotechniki, Warszawa (2010)
- [13] Smolik W. T., Szabatin R.: Non-invasive imaging of dynamic processes in ir-Lift chemical reactor using electrical capacitance tomograph, IWPT-4, Chengdu, China, September (2011), 21-22
- [14] Texas Instruments Technical Documentation, CMOS Analog Multiplexers/Demultiplexers CD4067B, CD4097B Types, Harris Semiconductor, June (2003)
- [15] Wang M.: Industrial Tomography: Systems and Applications, Elsevier (2015)
Typ dokumentu
Bibliografia
Identyfikator YADDA
bwmeta1.element.baztech-57b016f0-16aa-4214-8745-868c7b0b8562