Lokalizacja uszkodzeń w częściach analogowych wbudowanych systemów elektronicznych z uwzględnieniem tolerancji elementów

• Autorzy: Czaja Z.

Warianty tytułu

EN

Fault localization in analog parts of embedded electronic systems taking into account tolerances of elements

• Języki publikacji: PL

Abstrakty

PL

W artykule przedstawiono nową metodę detekcji i lokalizacji uszkodzeń parametrycznych elementów pasywnych w częściach analogowych elektronicznych systemów wbudowanych sterowanych mikrokontrolerami. Metoda pozwala na detekcję i lokalizację uszkodzeń w układach z tolerancjami. W części pomiarowej metody badany układ pobudzany jest impulsem prostokątnym generowanym przez mikrokontroler, a jego odpowiedź jest próbkowana przez wewnętrzny przetwornik A/C mikrokontrolera. Następnie mikrokontroler wykonuje detekcję i lokalizację uszkodzeń opierając się na algorytmie bazującym na słowniku uszkodzeń, wygenerowanym na podstawie rodziny pasów lokalizacyjnych opisującej właściwości układu badanego.

EN

In the paper the new method of soft fault detection and localisation of passive elements in analog parts of electronic embedded systems controlled by microcontrollers is presented. The method enables to detect and to localize faults in circuits with tolerances. In the measurement part of the method the tested circuit is stimulated by a square impulse generated by the microcontroller, and its response is sampled by the internal ADC of the microcontroller. Next, the microcontroller realizes the fault detection and localisation according to the algorithm, which bases on the fault dictionary. The fault dictionary was generated from the family of localisation belts, which describes proprieties of the tested circuit.

Słowa kluczowe

PL

detekcja uszkodzeń; lokalizacja uszkodzeń; samotestowanie; BIST; elektroniczne systemy wbudowane; mikrokontrolery

EN

fault detection and localization; self-testing; BIST; electronic embedded systems; microcontrollers

• Wydawca: Wydawnictwo PAK
• Czasopismo: Pomiary Automatyka Kontrola
• Rocznik: 2007
• Tom: R. 53, nr 9 bis
• Strony: 731--734
• Opis fizyczny: Bibliogr. 5 poz., rys., tab., wzory

Twórcy

autor

Czaja Z.

• Politechnika Gdańska, Wydział Elektroniki, Telekomunikacji i Informatyki, Katedra Optoelektroniki i Systemów Elektronicznych

Bibliografia

• [1] Czaja Z.: About fault diagnosis methods of analog electronic circuits based on the time response to a square impulse and identification curves in multidimensional spaces, Proc. of Join International IMEKO TC1 + TC-7 Symposium, Germany, Ilmenau, 2005, in CDROM.
• [2] Czaja Z.: A diagnosis method of analog parts of mixed-signal systems controlled by microcontrollers, Measurement, Vol. 40, Issue 2, February, 2007, pp. 158-170.
• [3] Atmel Corporation: 8-bit AVR microcontroller with 16k Bytes In-System Programmable Flash, ATmega16, ATmega16L, PDF file, 2003.
• [4] Czaja Z.: Testing method of analog parts for mixed signal microsystems based on microcontrollers, Proc. of IMEKO TC-4 Symposium, Athens, Greece, 29th September 1st October 2004, Vol. 1, pp. 272-277.
• [5] Czaja Z.: Wejściowo-wyjściowa metoda detekcji uszkodzeń w elektronicznych układach analogowych uwzględniająca tolerancje elementów, Proc. of Diagnostics 2004, September 6-9, 2004. Poznań, Poland, vol. 30, t. 1, pp. 119-122.