Skuteczność ekranowania ultrakrótkich impulsów elektromagnetycznych przez obudowę z otworem

• Autorzy: Budnarowska Magdalena , Mizeraczyk Jerzy , Bisewski Damian

Identyfikatory

DOI

10.15199/48.2022.02.24

Warianty tytułu

EN

The shielding effectiveness of an ultrashort EM pulses for enclosure with aperture

• Języki publikacji: PL

Abstrakty

PL

W artykule przedstawiono wyniki badań numerycznych pozwalających na określenie skuteczności ekranowania ultrakrótkich impulsów elektromagnetycznych przez obudowę z otworem. W symulacjach numerycznych wykorzystano program CST Studio. Wyniki symulacji zaprezentowane w formie obrazów 2D pola EM wykazały istnienie dwóch faz rozwoju tego pola w obudowie tj.: fazy falowej i fazy interferencyjnej. Obserwacja czasowych zmian pola EM w dwóch charakterystycznych punktach A i B wewnątrz obudowy wykazała, że w obu fazach pola elektryczne i magnetyczne mają postać impulsów falowych przechodzących przez te punkty w czasie znacznie dłuższym niż czas trwania impulsu zaburzającego.

EN

This paper presents results of the numerical simulation of shielding effectiveness of an ultrashort electromagnetic pulses by an enclosure with aperture. The simulation was performed using CST Studio software. In the numerical simulation, the results presented in the form of 2D images of the EM field revealed the existence of two phases of the development of the EM field in the housing: the wave phase and the interference phase. The observation of the changes of the EM field at two characteristic points A and B in an enclosure with aperture showed that induced field is long-lasting compared to the exposure time of the external disturbing pulse.

Słowa kluczowe

PL

elektromagnetyczny ultrakrótki impuls wysokiej mocy; skuteczność ekranowania; obudowa ekranująca z otworem; ekranowanie pola elektromagnetycznego; EMI; EMC; CST Studio

EN

ultrashort high-power electromagnetic pulse; shielding effectiveness; shielding enclosure with aperture; shielding box; electromagnetic field shielding; EMI; EMC; CST studio

• Wydawca: Wydawnictwo SIGMA-NOT
• Czasopismo: Przegląd Elektrotechniczny
• Rocznik: 2022
• Tom: R. 98, nr 2
• Strony: 110--113
• Opis fizyczny: Bibliogr. 9 poz., rys.

Twórcy

autor

Budnarowska Magdalena

• Uniwersytet Morski w Gdyni, Katedra Elektroniki Morskiej, ul. Morska 81-87, 81-225 Gdynia

• https://orcid.org/0000-0002-5341-758

autor

Mizeraczyk Jerzy

• Uniwersytet Morski w Gdyni, Katedra Elektroniki Morskiej, ul. Morska 81-87, 81-225 Gdynia

• https://orcid.org/0000-0002-5173-3592

autor

Bisewski Damian

• Uniwersytet Morski w Gdyni, Katedra Elektroniki Morskiej, ul. Morska 81-87, 81-225 Gdynia

Bibliografia

• [1] Sabath, F. (2008). System oriented view on high-power electromagnetic (HPEM) effects and intentional electromagnetic interference (IEMI). Proceedings of the XXIX URSI General Assembly.
• [2] D.V. Giri, F.M. Tesche, Classification of Intentional Electromagnetic Environments (IEME), IEEE Transactions on Electro-magnetic Compatibility (Volume: 46, Issue: 3, Aug. 2004, pp. 322 - 328.
• [3] Norma IEC 61000-2-13, Electromagnetic compatibility (EMC) – Part 2-13: Environment – High-power electromagnetic (HPEM) environments – Radiated and conducted, First edition 2005-03.
• [4] Giri, D.V.; Tesche, F.M. An Overview of High-Power Electromagnetic (HPEM) Radiating and Conducting Systems, Circuit and Elec-tromagnetic Notes, Note 50, 1-19, 2006.
• [5] Kopp, C.; Pose, R. The Impact of Electromagnetic Radiation Considerations on Computer System Architecture, Dept. of Computer Science, Monash University, Clayton, Victoria, Australia, 2016.
• [6] Sabath, F. Threads of Electromagnetic Terrorism, EUROEM 2012, Book of abstracts, EUROEM 2012 – ONERA, Toulouse, France, 2012.
• [7] High Power Microwave Technology and Effects, University of Maryland, Short Course Presented to MSIC Redstone Arsenal, Alabama August 8-12, 2005.
• [8] Hwang, S. M.; Hong, J. I; Huh, C. S. Characterization of the susceptibility of integrated circuits with induction caused by high power microwaves, Progress In Electromagnetics Research, PIER, vol. 81, pp. 61-72, 2008.
• [9] Fei, X.; Bing, C.; Chenglong, L. Damage efficiency research of PCB components under strong electromagnetic pulse, Applied Mechanics and Materials, vol. 130-134, pp. 1383-1386, 2012
• [10] www.cst.com.