Analiza przyczynowo-skutkowa awarii maszyn i charakterystyka bazy TPM_f v02 do analizy i kontroli realizacji programu TPM w odlewni precyzyjnej

• Autorzy: Pisarek B.

Warianty tytułu

EN

Cause–and-effect analysis of failure of machines and characteristic of TPM_f v02 database for analysis in precision foundry and control of realization of program TPM

• Języki publikacji: PL

Abstrakty

PL

W pracy przedstawiono wykorzystanie ważonych diagramów Ishikawy i diagramów Pareto do analizy przyczyn awarii maszyn i urządzeń oraz autorską bazę danych TPM_f v02 opracowaną w MS Access służącą do analizy efektywności prac związanych z wdrażaniem programu TPM, jak i kontroli jego funkcjonowania w przedsiębiorstwie. Baza ta może być wykorzystywana samodzielnie lub np. jako moduł poszerzający możliwości systemów informatycznych typu MRP lub ERP (dla małych i średnich przedsiębiorstw) umożliwiających obsługę sfery produkcyjnej z wymianą danych z systemem Microsoft Access, Microsoft Excel i Microsoft Project przez pliki tekstowe, różnego typu wydruki i zestawienia. Pozwala ona na usprawnianie zarządzania działalnością przedsiębiorstwa nie tylko w zakresie całościowego produktywnego utrzymania ciągłości ruchu maszyn, urządzeń i oprzyrządowania, ale również planowania produkcji.

EN

It present use of Ishikawa diagrams and Pareto diagrams for analysis of causes of failures of machines and TPM_f v02 database with copyright elaborated with use Microsoft Access. This database is as for analysis of efficiency of work related with accustoming TPM program and in enterprise control of function. It can be taken ad-vantage independently or as unit widen capability computerized information systems type MRP or in enterprise ERP enabled service of productive sphere for small and medium enterprises with data exchange with Microsoft Access, Microsoft Excel and Microsoft Project system by text files, printouts and listings. TPM_f v02 database allows improvement of management in range activity of enterprise not only TPM, but planning of production also.

Słowa kluczowe

PL

odlewnia precyzyjna; program TPM; diagram Ishikawy; diagram Pareto; systemy informatyczne typu MRP

EN

precision foundry; TPM program; Ishikawa diagram; Pareto diagram; weight factors; systems type MRP; ERP

• Wydawca: Komisja Odlewnictwa Polskiej Akademii Nauk Oddział w Katowicach
• Czasopismo: Archiwum Odlewnictwa
• Rocznik: 2005
• Tom: R. 5, nr 17
• Strony: 405--416
• Opis fizyczny: Bibliogr. 13 poz., rys., tab., wykr.

Twórcy

autor

Pisarek B.

• Politechnika Łódzka, Katedra Systemów Produkcji, ul. Stefanowskiego 1/15, 90-924 Łódź

Bibliografia

• [1] Downarowicz O.: System eksploatacji. Zarządzanie zasobami techniki, Wydawnictwo ITE, Politechnika Gdańska, (2003).
• [2] Elliot B.R., Hill G.: Total Productive Maintenance - Is it time to move on?, Logistics Solutions, Vol.1, issue 3, (1999).
• [3] Utrzymanie ruchu [dokument elektroniczny] – Dokument tekstowy – Tryb do-stępu: http://www.utrzymanieruchu.pl/poradnik_dla_menadzerow.php4?art=42.
• [4] Współczynnik całkowitej efektywności parku maszynowego – OEE [dokument elektroniczny] – Dokument tekstowy – Tryb dostępu: http://www.oeetoolkit.nl/.
• [5] Lean Manufacturing [dokument elektroniczny] – Plik pdf – Tryb dostępu: http://www.lean.info.pl/pdf/TOTAL_PRODUCTIVE_MAINTENANCE.pdf.
• [6] TPM Total Productive Maintenance ou Maintenance Productive Totale [dokument elektroniczny] - Plik tekstowy - Tryb dostępu: http://membres.lycos.fr/hconline/maintenance/tpm_us.htm.
• [7] SYSKLASS Techniczne Przygotowanie Produkcji [dokument elektroniczny] - Plik tekstowy - Tryb dostępu: http://www.sysklass.pl/.
• [8] Pisarek B.: Możliwości zastosowania systemu „SYSKLASS” w procesie technicznego przygotowania produkcji jednostkowej i małoseryjnej odlewów – zarządzanie produkcją, Archiwum Odlewnictwa, PAN, s. 249-260, Rocznik 4, Nr 12 , (2004).
• [9] Dietrich E., Schulze A.: Metody statystyczne w kwalifikacji środków pomiarowych maszyn i procesów produkcyjnych. Notika Systems, Warszawa (2000).
• [10] Gwiazda A.: Koncepcja ważonego wykresu Ishikawy. Wyd. SIGMA-NOT, Problemy jakości, kwiecień, Warszawa (2005).
• [11] FMEA - Failure Mode and Effect Analysis – FMEA Information Centre: Index [dokument elektroniczny] - Plik tekstowy - Tryb dostępu: http://www.fmeainfocentre.com/.
• [12] Single Minute Exchange of Die [dokument elektroniczny] - Plik tekstowy - Tryb dostępu: http://www.geocities.com/parthadeb/smed.html.
• [13] Poka-Yoke (Mistake Proofing) [dokument elektroniczny] - Plik tekstowy - Tryb dostępu: http://www.isixsigma.com/tt/poka_yoke/.