Tytuł artykułu
Wybrane pełne teksty z tego czasopisma
Identyfikatory
Warianty tytułu
EMC aspects in microelectronic hybrid circuit designing
Konferencja
Krajowe Sympozjum : Kompatybilność Elektromagnetyczna w Elektrotechnice i Elektronice EMC'99 (I ; 7-8.10.1999 ; Dobieszków, Polska)
Języki publikacji
Abstrakty
Dokonano identyfikacji podstawowych mechanizmów sprzężeń w mikroelektronicznych układach hybrydowych oraz przeprowadzono badania poziomu zakłóceń przenikających z obwodów zakłócających do zakłócanych poprzez określony rodzaj sprzężenia. Wykazano też jaki wpływ na redukcję poziomu przesłuchu posiadają odpowiednie zmiany w konfiguracji ścieżek przewodzących.
The paper presents issues concerning identification of basic mechanism of couplings in microelectronic hybrid circuit . Measurements of level of disturbances penetrating from disturbing circuit to disturbed one through a given kind of coupling were carried out, on the basis of test circuits in which galvanic, inductive and capacitive couplings have been modelled. The influence of change of path configuration on the crosstalk level reduction has been determined. On the basis of mathematical relationship for parasitic parameters, individual types of couplings in PSPICE programm were modelled and adequate calculations carried out.
Rocznik
Tom
Strony
197--206
Opis fizyczny
Bibliogr. 6 poz.
Bibliografia
- [1]. B. Wisz, Capacitive couplings in asymetrical parallel structures of conducting paths, Proceedings of 21-th Conference of the ISHM Poland Chapter , Ustroń, October 5-8, 1997 str. 277-280.
- [2]. W. Kalita, D. Sperling, B. Wisz, W. Sabat, Electromagnetic couplings in system of parallel conductive layers of thick-film microcircuit, Proc. of the 20-th Conference of ISHM Poland Chapter, Jurata, September 15-18, 1996, str. 165-168.
- [3]. C.S. Walker, Capacitance, inductance and crosstalk analysis, Artech House Inc., London 1990.
- [4]. J. Osowski, Teoria obwodów - tom 2, WNT, Warszawa 1971.
- [5]. Thick Film Materials - katalog firmy ESL.
- [6]. F.M. Tesche, M.V. Ianoz, T. Karlsson, EMC analysis and computional models, John Wiley & Sons, Inc. New York 1997.
Typ dokumentu
Bibliografia
Identyfikator YADDA
bwmeta1.element.baztech-542969aa-4bce-4451-aeee-4a3fdb59a986
JavaScript jest wyłączony w Twojej przeglądarce internetowej. Włącz go, a następnie odśwież stronę, aby móc w pełni z niej korzystać.