Wpływ próbkowania spiralnego na parametry 3D w pomiarach topografii powierzchni

• Autorzy: Majchrowski R. , Cellary A. , Wieczorowski M.

Warianty tytułu

EN

The influence of spiral sampling on surface topography parameters

• Języki publikacji: PL

Abstrakty

PL

W artykule przedstawiono algorytm do symulacji pomiaru topografii powierzchni metodą próbkowania spiralnego z zastosowaniem pakietu Matlab. Większość profilometrów stykowych opartych jest na zasadzie próbkowania prostokątnego, dlatego parametry przestrzenne charakteryzujące topografię powierzchni też obliczane są z siatki prostokątnej. Jest to powodem zastosowania interpolacji siatki spiralnej do siatki prostokątnej. Między innymi procedura ta wprowadza różnice pomiędzy parametrami 3D uzyskanymi z próbkowania prostokątnego, a próbkowania spiralnego. Przedstawiony algorytm został opracowany w celu zdeterminowania różnic pomiędzy parametrami uzyskanymi z siatki prostokątnej, a siatki spiralnej.

EN

In this paper, the authors present the result of simulating for surface measurement based on spiral grid using Matlab software. Most of the topography surface measurement instruments work using the parallel profiles to obtain surface texture. The novel stylus based measurement instrument that use the spiral sampling is the answer of the question of faster surface topography measurements method. The presented results of comparing three-dimensional surface parameters obtaining from simulating measurement surface based on a rectangular grid and based on a spiral grid is the first step to determine and characterize the influence of spiral sampling on surface topography parameters. It can make further possible to take this method into industry as fast surface topography measurement method based on stylus profilometer.

Słowa kluczowe

PL

topografia powierzchni; próbkowanie spiralne; pomiary; spirala Archimedesa

EN

spiral sampling; surface topography measurement

• Wydawca: Wydawnictwo PAK
• Czasopismo: Pomiary Automatyka Kontrola
• Rocznik: 2007
• Tom: R. 53, nr 9 bis
• Strony: 511--514
• Opis fizyczny: Bibliogr. 7 poz., rys., tab., wykr., wzory

Twórcy

autor

Majchrowski R.

• Politechnika Poznańska, Instytut Technologii Mechanicznej, Zakład Metrologii i Systemów Pomiarowych

autor

Cellary A.

• Politechnika Poznańska, Instytut Technologii Mechanicznej, Zakład Metrologii i Systemów Pomiarowych

autor

Wieczorowski M.

• Politechnika Poznańska, Instytut Technologii Mechanicznej, Zakład Metrologii i Systemów Pomiarowych

Bibliografia

• [1] Cellary A., Wieczorowski M., Siatki próbkowania w pomiarach topografii powierzchni, Materiały Krajowego Kongresu Metrologii: „Nowe Wyzwania i Wizje Metrologii”. Gdańsk, 1998, vol. 4, pp. 71-76.
• [2] Wieczorowski M., Sampling on aspiral for surface topography, Metrology and measurment systems. PWN, 2001, Volume IX, pp. 195-208.
• [3] Wieczorowski M., Spiral sampling as a fast way of data acquisition in surface topography, International Journal of Machine Tools & Manufacture 41, 2001, pp. 2017-2022.
• [4] Majchrowski R., Pomiar topografii powierzchni metodą próbkowania spiralnego, V International Scientific - Technical Conference for PhD Students, Automation and CA Systems in Technology Planning and in Manufacturing, Giewartów, 2004, pp. 139-143.
• [5] Zalewski A, Cegła R., Matlab - obliczenia numeryczne i ich zastosowania, Wydawnictwo Nakom, Poznań 1997.
• [6] Mathia T., Zahouani H., The development of methods for characterisation of rougness in three dimensions, ECSC-EEC-EAEC, Brussels-Luxembourg and Authors, 1993.
• [7] Thomas. T. R., Rough Surfaces. Imperial College Press. 1999, Second Edition.

Uwagi

PL

Praca realizowana w ramach grantu promotorskiego finansowanego ze środków na naukę w latach 2006-2008.