Automatic detection of the flame during the determination of the comparative tracking indices

• Autorzy: Sikora A. , Adamowska M. , Wałecki M. , Pieczarka M.

Warianty tytułu

PL

Automatyczne wykrywanie obecności płomienia w badaniach odporności dielektryków na łuk elektryczny

• Języki publikacji: EN

Abstrakty

EN

The determination of the Comparative Tracking Index (CTI) according to PN-EN 60112:2003 standard is a time-consuming process, which can last for several hours. In this work, a solution based on advanced image processing, allows the detection of the flame occurrence on the sample’s surface during the complex test procedure, is presented. By reducing staff involvement an automated detection of flame allows to decrease the costs of the procedure. In the paper, the principles of the algorithms development and their performance verification results are presented.

PL

Badania odporności materiałów dielektrycznych na działanie łuku elektrycznego (prądów pełzających) zgodnie z normą PN-EN 60112:2003 są procesem długotrwałym, mogącym trwać kilka godzin. W pracy zaprezentowano bazujące na zaawansowanej analizie obrazu rozwiązanie umożliwiające wykrycie płomienia na powierzchni materiału. Opracowany system pozwolił obniżyć koszty realizacji badań poprzez redukcję zaangażowania pracowników. W pracy zaprezentowano podstawy działania algorytmów oraz wyniki weryfikacji skuteczności ich działania.

Słowa kluczowe

EN

Comparative Tracking Index determination; flame detection; advanced image processing

PL

badanie odporności na działanie łuku elektrycznego; detekcja płomienia; przetwarzanie zaawansowane obrazu

• Wydawca: Wydawnictwo SIGMA-NOT
• Czasopismo: Przegląd Elektrotechniczny
• Rocznik: 2013
• Tom: R. 89, nr 8
• Strony: 218--220
• Opis fizyczny: Bibliogr. 13 poz., il., tab., wykr.

Twórcy

autor

Sikora A.

• Instytut Elektrotechniki, Oddział Technologii i Materiałoznawstwa Elektrotechnicznego we Wrocławiu, ul. M. Skłodowskiej-Curie 55/61, 50-369 Wrocław

autor

Adamowska M.

• Instytut Elektrotechniki, Oddział Technologii i Materiałoznawstwa Elektrotechnicznego we Wrocławiu, ul. M. Skłodowskiej-Curie 55/61, 50-369 Wrocław

autor

Wałecki M.

• Instytut Elektrotechniki, Oddział Technologii i Materiałoznawstwa Elektrotechnicznego we Wrocławiu, ul. M. Skłodowskiej-Curie 55/61, 50-369 Wrocław

autor

Pieczarka M.

• Wydział Elektroniki Mikrosystemów i Fotoniki, Politechnika Wrocławska, ul. Janiszewskiego 11/17, 50-372 Wrocław

Bibliografia

• [1] Arora R., Mosch W., High Voltage Insulation Engineering, New Age International (P) Ltd., Publishers, 2008
• [2] IEC 60112:2003(E) Method for the determination of the proof and the comparative tracking indices of solid insulating materials, 2003-12-01, European Committee for Electrotechnical Standardization.
• [3] PN-EN 60112:2003 Metoda wyznaczania wskaźników porównawczych i odporności na prądy pełzające materiałów elektroizolacyjnych stałych, Polski Komitet Normalizacyjny, 2003-11-15.
• [4] Sikora A., Bednarz Ł., Utilization of digital processing of the optical scanning field view for tip-sample distance estimation during the approach procedure, Acta Physica Polonica A, 116 (2009) 99-101.
• [5] Sikora A., Bednarz Ł., The accuracy of optically supported fast approach solution for scanning probe microscopy (SPM) measuring devices, Measurement Science and Technology, 22 (2011) 094015.
• [6] Sikora A., Dorofiejczyk P., Utilization of advanced image processing algorithms in computer controlled digital measurement devices calibration stand, Proceedings of Electrotechnical Institute, 253 (2011), pp. 53-60.
• [7] Hickman D., Swan L., Riley T., Humpoletz C., The application of advanced image processing to rescue camera systems, Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering, 7661 (2012) 76610A.
• [8] Huang Y., McMurran R., Dhadyalla G., Jones R. P., Mouzakitis A., Model-based testing of a vehicle instrument cluster for design validation using machine vision, Measurement Science and Technology, 20(6),(2009) 065502.
• [9] Warren R., Fischer A., Determining the position of runways from UAV video, Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering, 7332 (2009) 733207.
• [10] http://poland.ni.com/labview, accessed 10.09.2012.
• [11] Roth D. J., Parker B. H., Rapchun D. A., NASA Scientific Investigations and Virtual Instruments, Books LLC, Reference Series 2012.
• [12] http://sine.ni.com/cs/app/doc/p/id/cs-10795, accessed 10.09.2012.
• [13] Sikora A., Bednarz Ł., The implementation and the performance analysis of the multi-channel software-based lockin amplifier for the stiffness mapping with atomic force microscope (AFM), Bulletin of the Polish Academy of Sciences: Technical Sciences, 60(1) (2012), 83-88.