Badanie wpływu domieszki Gd na stopień zdefektowania struktury szkła tellurowego

• Autorzy: Filipecki J. , Golis E. , Kotynia K. , Chamerski K.

Warianty tytułu

EN

Studying influence of element Gd on voids degree of structure the tellurite glass

• Języki publikacji: PL

Abstrakty

PL

Materiałem badawczym było szkło tellurowe. Badaniom poddano szkło bazowe TeO₂-P₂O₃-ZnO-LiNbO₃ oraz szkło domieszkowane gadolinem (TeO₂-P₂O₃-ZnO-LiNbO₃)(Gd₂O₃). W celu dokonania analizy własności strukturalnych wykorzystano metodę pomiarów czasów życia pozytonów PALS (Positron Annihilation Lifetime Spectroscopy). W proponowanej metodzie możliwa jest identyfikacja defektów strukturalnych trudnych do wychwycenia innymi tradycyjnymi metodami pomiarowymi. Przeprowadzone badania wykazały istnienie dwóch składowych czasów życia pozytonów τ₁ i τ₂. W oparciu o model dwustanowy obliczono parametry wychwytu pozytonów, które pozwalają wyciągnąć wnioski o charakterze i stopniu zdefektowania badanych szkieł tellurowych.

EN

The tellurite glass such as: TeO₂-P₂O₃-ZnOLiNbO₃ as a reference glass and (TeO₂-P₂O₃-ZnO-LiNbO₃)(Gd₂O₃) has been studied. The positron lifetime PALS (Positron Annihilation Lifetime Spectroscopy) was used to analyze the structural properties of tellurite glasses. The proposed method, can identify structural defects which are difficult to capture by other traditional methods. The study showed the existence of two components τ₁ and τ_τ. The basis of the two-state model parameters were calculated capture of positrons, which allow you to draw conclusions about the nature and degree of defect studied tellurite glasses.

Słowa kluczowe

PL

szkła tellurowe; defekty; anihilacja; spektroskopia czasów życia pozytonu

EN

tellurite glasses; defects; annihilation; positron lifetime spectroscopy

• Wydawca: Sieć Badawcza Łukasiewicz - Instytut Ceramiki i Materiałów Budowlanych
• Czasopismo: Szkło i Ceramika
• Rocznik: 2015
• Tom: R. 66, nr 1
• Strony: 17--19
• Opis fizyczny: Bibliogr. 14 poz., fot., rys., tab.

Twórcy

autor

Filipecki J.

• Instytut Fizyki, Akademia im. Jana Długosza, Częstochowa

autor

Golis E.

• Instytut Fizyki, Akademia im. Jana Długosza, Częstochowa

autor

Kotynia K.

• Instytut Fizyki, Politechnika Częstochowska

autor

Chamerski K.

• Instytut Fizyki, Akademia im. Jana Długosza, Częstochowa

Bibliografia

• 1. Wasylak J., Kucharski J., Dorosz D., Fistek Ł. (2003), Szkła tellurowe – synteza i właściwości [w:] „Ceramika” 80, s. 99-104.
• 2. Kim S.H., Yoko T. (1995), Nonlinear optical properties of TeO2 based glasses: MOx–TeO2 (M=Sc, Ti, V, Nb, Mo, Ta and W) binary glasses, J. Am. Ceram. Soc., 78, 1061–1065.
• 3. Munoz-Martin D., Villegas M.A., Gonzalo J., Fernandez-Navarro J.M. (2009), Characterisation of glasses in the TeO2-WO3-PbO system, J. European Ceramic Soc. 29 2903-2913.
• 4. El-Mallawany R. (2002), Tellurite Glasses Handbook, Physical Properties and Data, CRC Press, 376.
• 5. Pathrick R.A. (1997), Positron annihilation – a probe for nanoscale voids and free volume. Prog. Polymer Sci., 22, 1-47.
• 6. Jean Y.C. (1993), NATO Advanced Research Workshop, Advances with Positron Spectroscopy of Surfaces, Yarenna, Italy, July 16&17.
• 7. Krause-Rehberg R., Leipner R. (1990), Positron Annihilation in Semiconductors, Defect Studies, Springer, Berlin, Heidelberg, New York, p. 394.
• 8. Shpotyuk O., Filipecki J. (2003), Free volume in vitreous chalcogenide semiconductors: possibilities of positron lifetime study, Wydawnictwo Naukowe WSP, Częstochowa, s. 114.
• 9. Golis E.P., Filipecki J. (2006), Badania efektu Faraday’a w szkłach tlenkowych dla zastosowań w optoelektronice, X Konferencja Naukowa Światłowody i ich Zastosowania, Krasnobród.
• 10. Golis E.P., Reben M., Wasylak J., Filipeck J. (2008), Investigations of tellurite glasses for optoelectronics devices, Optica Applicata, XXXVIII, 1, 163-169.
• 11. Filipecki J., Golis E., Reben M., Filipecka K., Kocela A., Wasylak J. (2013), Positron life time spectroscopy as a method to study of the defect degree materials with disordered structure, Optoelectronics and Advanced Materials–Rapid Communications, 7, 11-12, 1029-1031.
• 12. Kansy J. (1996), Microcomputer program for analysis of positron annihilation lifetime spectra. Nucl. Instr. and Meth. Phys. Res. A 374, 235–244.
• 13. Jean Y.C. (1993), Advances with Positron Spectroscopy of Surfaces, NATO Advanced Research Workshop Yarenna, Italy, July 16&17.
• 14. Reben M., Golis E., Filipecki J., Sitarz M., Kotynia K., Jelen P., Grelowska I. (2014),Voids in mixed-cation silicate glasses: Studies by positron annihilation lifetime and Fourier transform infrared spectroscopies, Spectrochimica Acta Part A: Molecular and Biomolecular Spectroscopy 129, 643-648.