Powiadomienia systemowe
- Sesja wygasła!
Tytuł artykułu
Autorzy
Treść / Zawartość
Pełne teksty:
Identyfikatory
Warianty tytułu
Metoda ba yesowskiej estymacji wartości oczekiwanej dla produktów o rozkładzie wykładniczym wykorzystująca dane o niezaistniałych uszkodzeniach
Języki publikacji
Abstrakty
This paper investigate an E-Bayesian estimation as a reliability analysis method for the seekers to deal with the zero-failure life testing data. Firstly, we introduce an E-Bayesian estimation for the exponential distribution, and then propose a zero-failure model with assumptions. Using the proposed model, we set up a series of life tests for the seekers, and apply the E-Bayesian estimation on the observed zero-failure data to calculate the failure rate and reliability of the seekers. Finally, the reliability estimation results of the seekers demonstrate the performance of the proposed method.
W pracy analizowano estymację bayesowską wartości oczekiwanej jako metodę analizy niezawodności urządzeń naprowadzających w przypadkach, gdy dane z badań trwałości są danymi o uszkodzeniach niezaistniałych (zerowych). W pierwszej części pracy opisano E-estymację bayesowską dla rozkładu wykładniczego, a następnie zaproponowano model uszkodzeń niezaistniałych oraz opisano jego założenia. Wykorzystując zaproponowany model, zaprojektowano i zrealizowano serię badań trwałości urządzeń naprowadzających jak również zastosowano E-estymację bayesowską w celu obliczenia intensywności uszkodzeń oraz niezawodności badanych urządzeń. Wyniki oceny niezawodności urządzeń naprowadzających potwierdzają przydatność proponowanej metody.
Czasopismo
Rocznik
Tom
Strony
445--449
Opis fizyczny
Bibliogr. 15 poz., tab.
Twórcy
autor
- Institute of Reliability Engineering University of Electronic Science and Technology of China No. 2006, Xiyuan Avenue, West Hi-Tech Zone Chengdu, Sichuan, 611731, P. R. China
autor
- Institute of Reliability Engineering University of Electronic Science and Technology of China No. 2006, Xiyuan Avenue, West Hi-Tech Zone Chengdu, Sichuan, 611731, P. R. China
autor
- Institute of Reliability Engineering University of Electronic Science and Technology of China No. 2006, Xiyuan Avenue, West Hi-Tech Zone Chengdu, Sichuan, 611731, P. R. China
autor
- Institute of Reliability Engineering University of Electronic Science and Technology of China No. 2006, Xiyuan Avenue, West Hi-Tech Zone Chengdu, Sichuan, 611731, P. R. China
autor
- Institute of Reliability Engineering University of Electronic Science and Technology of China No. 2006, Xiyuan Avenue, West Hi-Tech Zone Chengdu, Sichuan, 611731, P. R. China
Bibliografia
- 1. Bartholomew D J. A problem in life testing. Journal of the American Statistical Association 1957; 52(279): 350-355, http://dx.doi.org/10.1080/01621459.1957.10501394.
- 2. Chow S C and Shao J. Test for batch-to-batch variation in stability analysis. Statistics in medicine 1989; 8(7): 883-890, http://dx.doi.org/10.1002/sim.4780080712.
- 3. Chow S C and Shao J. Estimating drug shelf-life with random batches. Biometrics 1991; 1071-1079, http://dx.doi.org/10.2307/2532659.
- 4. Han M and Ding Y. Synthesized expected Bayesian method of parametric estimate. Journal of Systems Science and Systems Engineering 2004; 13(1): 98-111, http://dx.doi.org/10.1007/s11518-006-0156-0.
- 5. Han M. Expected Bayesian estimation of failure probability and its character. Acta Mathematica Scientia 2007; 3: 013.
- 6. Han M. The synthesize hierarchical Bayesian estimation of failure rate of zero-failure data, Operations Research and Management Science 1999; 8(1): 1-5.
- 7. Han M. The hierarchical Bayesian estimation of failure-rate of exponential distribution of zero-failure data. Journal of Engineering Mathematics 1998; 15(4): 135-138.
- 8. Han M. E-Bayesian estimation and hierarchical Bayesian estimation of failure rate. Applied Mathematics A Journal of Chinese Universities 2008; 23(4): 399-407.
- 9. Liu Y F. Some applications of Bayes method in the study for the reliability of zero-failure data. China: Wenzhou University 2011.
- 10. Mao S, Tang Y and Wang L. Reliability Statistics. Beijing: Higher Education Press 2008.
- 11. Mao S. Statistical analysis of zero failure data. Mathematical Statistics and Applied Probability 1989; 4: 489-506.
- 12. Martz Jr H F and Waller R A. Bayesian Zero-Failure (BAZE) reliability demonstration testing procedure. J. Qual. Technol 1979; 11(3).
- 13. Miller K W, Morell L J, Noonan R E, et al. Estimating the probability of failure when testing reveals no failures. IEEE Transactions on Software Engineering 1992; 18(1): 33-43, http://dx.doi.org/10.1109/32.120314.
- 14. Wu X. Inspection with errors. Chinese Journal of Applied Probability and Statistics 1993; 9(3): 310-318.
- 15. Xu T, Liu H and Chen Y. Synthetic expected Bayesian estimation of failure rate in the case of zero failure data. Journal of Applied Statistics and Management 2011; 30(4): 644-654.
Typ dokumentu
Bibliografia
Identyfikator YADDA
bwmeta1.element.baztech-431e5120-a147-427c-845d-b10e7ce171b3