Od koloru do chemometrii - strategie określania grubości i jakości powłoki

• Autorzy: Hellwig Chris , Büttner Torsten , Krause Mario
• Języki publikacji: PL

Słowa kluczowe

PL

powłoka; kolor; grubość; chemometria; jakość

• Wydawca: Grupa Wydawnicza Euro-Media
• Czasopismo: Świat Szkła
• Rocznik: 2022
• Tom: R. 27, nr 1-2
• Strony: 46--48
• Opis fizyczny: Bibliogr. 8 poz., il.

Twórcy

autor

Hellwig Chris

autor

Büttner Torsten

autor

Krause Mario

Bibliografia

• 1. Martina Lindner and Markus Schmid; Metody pomiaru grubości powłok aluminiowych osadzanych z pary stosowanych do szkła opakowaniowego (Thickness Measurement Methods for Physical Vapor Deposited Aluminum Coatings in Packaging Applications): A Review. Coatings 2017, available online http://www.mdpi.com/2079-6412/7/1/9/pdf (accessed on 25.04.2017)
• 2. Gernot Hoffmann; CIELab Color Space; available online http://docs-hoffmann.de/cielab03022003.pdf (accessed on 25.04.2017)
• 3. Wikipedia.Org; Interferencja/Zakłócenia w cienkiej warstwie (Thin-film interference); available online https://en.wikipedia.org/wiki/Thin-film_interference (accessed on 25.04.2017)
• 4. Carl Zeiss Spectroscopy; Podstawy pomiaru grubości warstwy (Basics of layer thickness measurement); available online https://www.zeiss.com/spectroscopy/solutions-applications/layer-thicknessand-coating-measurement.html (accessed on 25.04.2017)
• 5. Mark & Workman; Chemometria w spektroskopii (Chemometrics in Spectroscopy), 1st Edition, Elsevier
• 6. Theiss; Oprogramowanie SCOUT do symulacji widma; (SCOUT spectrum simulaton software); available online http://www.mtheiss.com/download/scout_2.pdf (accessed on 25.04.2017)
• 7. Carl Zeiss Spectroscopy; Pomiar wilgotności (Moisture Measurement); available online https://www.zeiss.com/spectroscopy/solutions-applications/moisturemeasurement.html (accessed on 25.04.2017)
• 8. T. Büttner, C. Hellwig, J. Margraf; Monitorowanie procesów z pewnością zbliżoną do laboratoryjnej (Process Monitoring with lab-like Certainty); Spectronet (2013)