Measurement system for IR absorption

• Autorzy: Neska M.

Warianty tytułu

PL

Układ pomiaru tłumienia promieniowania podczerwonego

• Języki publikacji: EN

Abstrakty

EN

Radiation absorption measurement systems are widely used in the evaluation of different types of materials. They require a stable transceiver radiation measuring circuit. The article presents a transceiver infrared radiation system developed by the author, in which, apart from a stabilized power supply of transmitting and receiving subsystems, the dedicated software for temperature correction of output signals was also used. The system has two measuring circuits at wavelengths of 860 nm and 950 nm. The paper presents characteristics and measurement uncertainties of the system, determined by means of the reference material. This type of a system can be used in systems for IR transmission or reflection tests, and it can be of help in radiation absorbance studies.

PL

Układy pomiaru tłumienia promieniowania znajdują szerokie zastosowanie w ocenie różnych typów materiałów. Wymagają one stabilnego toru nadawczo-odbiorczego promieniowania. W artykule przedstawiono opracowany układ nadawczo-odbiorczy promieniowania podczerwonego, w którym obok stabilizowanych źródeł zasilania podukładów, nadawczego i odbiorczego, zastosowano programową korekcję temperaturową sygnałów wyjściowych. Układ posiada dwa tory pomiarowe o długościach fal 860 i 950 nm. W artykule zaprezentowano charakterystyki i niepewności pomiarowe układu wyznaczone przy wykorzystaniu referencyjnego materiału. Układ tego typu może być zastosowany w systemach badania przepuszczalności lub odbicia światła podczerwonego, czy badaniach absorbancji promieniowania.

Słowa kluczowe

EN

infrared radiation; infrared detector; measurement uncertainty

PL

promieniowanie podczerwone; detektor podczerwieni; niepewność pomiaru

• Wydawca: Wydawnictwo Naukowe Instytutu Technologii Eksploatacji - Państwowego Instytutu Badawczego
• Czasopismo: Problemy Eksploatacji
• Rocznik: 2015
• Tom: no. 1
• Strony: 91--100
• Opis fizyczny: Bibliogr. 23 poz., fot., rys., wykr.

Twórcy

autor

Neska M.

• Institute for Sustainable Technologies – National Research Institute, Radom

Bibliografia

• 1. Rydzkowski T.: Metods of research on polymers sturkture. Crystallinity. Teka Kom. Bud. Ekspl. Masz. Elektrotech. Bud. – OL PAN. 2008, pp. 143–148.
• 2. Seshadri A., Pagilla P. R.: Optimal web guiding. Journal of Dynamic Systems, Measurement, and Control. Vol. 132, no 1/2010, pp. 011006-1–011006-10.
• 3. Rocha W.R.M., Pilling S.: Determination of optical constants n and k of thin films from absorbance data using Kramers–Kronig relationship. Spectrochimica Acta Part A: Molecular and Biomolecular Spectroscopy. 123 (2014), pp. 436–446.
• 4. Herve P., Cedelle J., Negreanu I.: Infrared technique for simultaneous determination of temperature and emissivity. Infrared Physics & Technology. 55 (2012), pp. 1–10.
• 5. Park I.S., Ha J.S.: Thickness measurement of silicon thin film coated on metal mold by analyzing infrared thermal image. International Communications in Heat and Mass Transfer. 36 (2009), pp. 462–466.
• 6. Shams Nateri A., Hajipour A.: Measuring thickness of translucent plastic by scanner. Optik. 125 (2014), pp. 452– 456.
• 7. Scajev P., Karaliunas M., Kuokstis E., Jarasiunas K.: Radiative and nonradiative recombination rates in cubic SiC. Journal of Luminescence. 134 (2013), pp. 588–593.
• 8. Dodd P., Stellwag T., Melloch M., Lundstrom M.: Surface and perimeter recombination in GaAs diodes: an experimental and theoretical investigation. IEEE Transactions on Electron Devices. 38 (1991), pp. 1253–1261.
• 9. Choi J.H., Shin M.W.: Thermal investigation of LED lighting module. Microelectronics Reliability. 52 (2012), pp. 830–835.
• 10. Żagan W.: Podstawy techniki świetlnej. Wydawnictwo Politechniki Warszawskiej. Warsaw 2005 (in Polish).
• 11. Czajka P.: The determination of characteristics of highly-efficient LED diodes impulse work. Maintenance Problems. 2 (2008), pp. 33–44 (in Polish).
• 12. Ohyama S., Iizuka J., Takayama J., Kobayashi A.: Position measurement using an enclosed signal field with pulse-width-modulated function. Sensors and Actuators A. 113 (2004), pp. 54–59.
• 13. Shih N.F., Pai F.J., Chuang W.J., Hong J.W.: Current gain control of near infrared c-Si phototransistors. Solid-State Electronics. 44 (2000), pp. 1399–1404.
• 14. Information on http://www.vishay.com.
• 15. Information on http://www.osram-os.com.
• 16. Evaluation of measurement data – Guide to the expression of uncertainty in measurement. JCGM 100:2008.
• 17. Neska M., Majcher A.: Estimation of the uncertainty of measurement in a two-channel system for tests on the intensity of infrared radiation. Maintenance Problems. 3 (2014), pp. 45–55.
• 18. Majcher A.: Model of the event driver networked control system for the diagnostics use. 10th International Science and Technology Conference: Diagnostics of Processes and Systems. Zamość19. 2011. Maintenance Problems. 2 (2011), pp. 131–140.
• 19. Mazurkiewicz A.: Innovative technological solutions for sustainable development. Published by Institute for Sustainable Technologies-National Research Institute, Radom (Poland) – Shanghai (China), 2010, ISBN 978-83-7204-955-1, pp. 29–61.
• 20. Just P., Ebert L., Echelmeyer T., Roscher M.A.: Infrared particle detection for battery electrode foils. Infrared Physics & Technology. 61 (2013), pp. 254–258.
• 21. Skowroński J., Bojarska M., Neska M.: The concept of the system for parameterization of functionalized membranes. Solid State Phenomena. Vol. 223 (2015), pp. 3–10.
• 22. Kato K., Omoto H., Tomioka T., Takamatsu A.: Visible and near infrared light absorbance of Ag thin films deposited on ZnO under layers by magnetron sputtering. Solar Energy Materials & Solar Cells. 95 (2011), pp. 2352–2356.
• 23. Zbrowski A., Samborski T., Kozioł S.: The model of the system for prototype production of the RFID identifiers. Maintenance Problems. 3(2011), pp. 251–263 (in Polish).