PL EN


Preferencje help
Widoczny [Schowaj] Abstrakt
Liczba wyników
Tytuł artykułu

Obwody logiki odwracalnej odporne na błędy

Treść / Zawartość
Identyfikatory
Warianty tytułu
EN
Fault tolerant reversible logic circuits
Języki publikacji
PL
Abstrakty
PL
Szybkość systemów cyfrowych (w tym nowoczesnych komputerów) ograniczają zjawiska związane ze stratami energii i wydzielaniem ciepła. Rozwiązaniem alternatywnym jest wykorzystanie logiki rewersyjnej w syntezie systemów cyfrowych. W artykule przedstawiono podstawowe bramki rewersyjne oraz przykład ich wykorzystania w syntezie systemów cyfrowych. Zaletą logiki odwracalnej jest możliwość syntezy układów samotestujących i odpornych na błędy. Wykorzystanie tych układów umożliwi konstrukcję bezpiecznych systemów sterowania.
EN
The speed digital systems (including modern computers) limit phenomena associated with energy losses and heat generation. An alternative is to use in the synthesis of reversible logic digital systems. The article presents the main gate reverse and an example of their use in the synthesis of digital systems. The advantage is the possibility of reversible logic synthesis selftesting and fault tolerant systems. The use of these systems will enable the construction of safe control systems.
Rocznik
Strony
73--76
Opis fizyczny
Bibliogr. 7 poz., rys., tab., pełen tekst na CD
Twórcy
  • Uniwersytet TechnologicznoHumanistyczny w Radomiu – Wydział Transportu i Elektrotechniki
autor
  • Uniwersytet Technologiczno-Humanistyczny w Radomiu – Wydział Transportu i Elektrotechniki
Bibliografia
  • 1. Al Mahamud A., Begum Z., Hafiz M. Z., , Rahman M. M., Saiful Islam Md.: “Synthesis of Fault Tolerant Reversible Logic Circuits”. Proceedings of IEEE International Conference on Testing and Diagnosis, Chengdu, China, 2009, s. 1-4
  • 2. Bruce J. W., Kokate P. S., Li X., Shivakumaraiah L., Thornton A.: “Efficient adder circuits based on conservative reversible logic gates”, In Proceedings of IEEE Computer Society Annual Symposium on VLSI, Pittsburg, PA, 2002, s. 83-88
  • 3. Haghparast M., Navi K.: “A novel fault tolerant reversible gate for nanotechnology based systems”, American Journal of Applied Sciences, Vol. 5, No. 5, 2008, s. 519-523
  • 4. Haghparast M., Navi K.: “Design of novel fault tolerant reversible full adder for nanotechnology based systems”, World Applied Sciences Journal, Vol. 3, No. 1, 2008, s. 114-118
  • 5. Landauer R.: “Irreversibility and heat generation in the computational process”. IBM Journal of Research and Development, Vol. 5, Issue 3, 1961, s. 183-191
  • 6. Parhami B.: “Fault-Tolerant Reversible Circuits”. Proceedings of 40th Asilomar Conference on Signals, Systems and Computers, Pacific Grove, CA, 2006, s. 1722-1726
  • 7. Pniewski R., Pniewska J.: ”Symulacja układów z logiką rewersyjną w programie QUCS”. TTS 10/2013
Typ dokumentu
Bibliografia
Identyfikator YADDA
bwmeta1.element.baztech-3a932673-0564-499c-94a5-ad60596aae91
JavaScript jest wyłączony w Twojej przeglądarce internetowej. Włącz go, a następnie odśwież stronę, aby móc w pełni z niej korzystać.