Symulacja przetwarzania w torze pomiarowym z częstotliwościowym nośnikiem informacji w LabVIEW

• Autorzy: Warda P.

Warianty tytułu

EN

Slotted line with frequency carrier of information simulation in LabVIEW

• Języki publikacji: PL

Abstrakty

PL

W artykule opisano sposób realizacji symulacji przetwarzania informacji w torze z częstotliwościowym nośnikiem informacji. Zaproponowano strukturę symulowanego toru. Przedstawiono sposób realizacji proponowanej struktury. Omówiono sposób konfiguracji opracowanego modelu symulacyjnego toru pomiarowego. Przedstawiono przykładowe efekty pracy przyrządu.

EN

In order to both convert and send information about measurement quantities, the slotted line with a frequency data carrier is increasingly often used. Regarding to the fact, that testing new constructions is expensive, the better way is to evaluate new ideas using simulations. In order to test numerical conversion, it is possible to use basic programming languages and dedicated software platforms. LabVIEW software was chosen for simulation purposes of the slotted line with frequency data carrier of information, because it is dedicated to control, metrological research and industrial solutions. Only basic components of the LabVIEW were used to develop new virtual instruments (VI) – a simulator of all parts of the slotted line with a frequency data carrier of information. It consists of a “physical-quantity-to-frequency” converter (X/f), a “frequency-to-code” converter (f/N), an analysing module, a visualisation module and a data saving module (Fig.1). Such an approach gives a very elastic diagram, which can be useful for extension of the simulator functionality. The presented solution (Fig.6) is useful for fast and easy evaluation of new methods. The designed simulator can convert signals with the accuracy better than 0,002%. It is enough for preliminary tests before implementation new concepts in real models. The example of the obtained results for the sinusoidal testing signal with amplitude 4,75V, frequency 1Hz and constant component 5,25V is presented in Fig. 7.

Słowa kluczowe

PL

symulacja; tor z częstotliwościowym nośnikiem informacji; pomiar częstotliwości; LabVIEW

EN

simulation; slotted line with a frequency carrier of information; frequency measurement; LabVIEW

• Wydawca: Wydawnictwo PAK
• Czasopismo: Pomiary Automatyka Kontrola
• Rocznik: 2014
• Tom: R. 60, nr 8
• Strony: 603--606
• Opis fizyczny: Bibliogr. 10 poz., rys., wykr.

Twórcy

autor

Warda P.

• Politechnika Lubelska, ul.Nadbystrzycka 38D, 20-618 Lublin

Bibliografia

• [1] CTM-PER Conntinous-Period Counter, User’s Guide, Keithley MetraByte Co.1990.
• [2] Pawłowski E.: Symulacja sygnału czujnika z wyjściem częstotliwościowym, Przegląd Elektrotechniczny, nr 10b/2012, vol. 88, ISSN 0033-2097, s. 78-81.
• [3] Warda P.: Metoda zmniejszenia wartości błędu uśredniania w systemie pomiarowym wykorzystującym przetwornik „napięcie - częstotliwość", Pomiary Automatyka Kontrola, Nr 11/2011.
• [4] Jasik J.R.: Przetwarzanie sygnałów pomiarowych w systemach z częstotliwościowym nośnikiem informacji, Wydawnictwo Politechniki Lubelskiej, Lublin 2003.
• [5] Świsulski D.: Cyfrowa rejestracja sygnałów impulsowych z częstotliwościowym nośnikiem informacji. Politechnika Gdańska, seria Monografie nr 67, Gdańsk 2006.
• [6] Pawłowski E.: Spectrum analysis of measuring signals in sensors circuits with frequency output. Optoelectronic and Electronic Sensors IV, 06/13-06/16/00 Gliwice, Poland, Proceedings of SPIE, Vol. 4516, pp. 181-186, pub. August 2001, ISSN 0277-786X.
• [7] Jakubiec J., Błędy i niepewności danych w systemie pomiarowosterującym, Wydawnictwo Politechniki Śląskiej, Gliwice 2010.
• [8] Warda P.: Wybrane problemy z oszacowaniem błędu przetwarzania w torze z częstotliwościowym nośnikiem informacji, Przegląd Elektrotechniczny - 2013, nr 5, vol. 89, s. 272-274.
• [9] Warda P.: Generator z modulacją częstotliwości jako źródło sygnału testującego dla toru pomiarowego z częstotliwościowym nośnikiem informacji, Przegląd Elektrotechniczny, R. 86 NR 8/2010.
• [10] Kirianaki N. V., Yurish S. Y., Shpak N. O., Deynega V. P.: Data acquisition and signal processing for smart sensors. John Wiley & Sons, Ltd, Baffins Lane, 2001.