Łączenie danych pomiarowych z dodatkową wiedzą metrologiczną w celu oceny niepewności pomiaru

• Autorzy: Toczek W. , Nagothu B. S.

Identyfikatory

DOI

10.32016/1.60.26

Warianty tytułu

EN

Combining of measurement data with additional metrological knowledge for evaluating the measurement uncertainty

• Konferencja: XXVIII cykl seminarów zorganizowanych przez PTETiS Oddział w Gdańsku ZASTOSOWANIE KOMPUTERÓW W NAUCE I TECHNICE 2018 (XXVIII; 2018; Gdańsk, Polska)
• Języki publikacji: PL

Abstrakty

PL

Przedstawiono modus operandi w ocenie niepewności pomiaru dla krótkich serii pomiarowych. Metoda wykorzystuje dodatkową wiedzę metrologiczną do zwiększenia liczby stopni swobody rozkładu t-Studenta, uzyskiwanego w wyniku bayesowskiej analizy wyników pomiarów. W rezultacie możliwe jest oszacowanie niepewności standardowych dla najkrótszych serii pomiarowych, o długości 2 i 3.

EN

A modus operandi in the expression of uncertainty in measurement is presented. The method uses additional metrological knowledge for increasing the degrees of freedom of Student-t distribution, obtained as a result of bayesian analysis of small numer of observations. In consequence, type A uncertainty evaluation in the cases of 2 and 3 is possible. The method is useful for measurements of homogeneous objects. The constant measurement conditions are required.

Słowa kluczowe

PL

standardowa niepewność pomiaru; krótka seria pomiarowa; dodatkowa wiedza o procesie pomiarowym

EN

standard measurement uncertainty; short measurement series; additional knowledge about measurement process

• Wydawca: Wydział Elektrotechniki i Automatyki Politechniki Gdańskiej
• Czasopismo: Zeszyty Naukowe Wydziału Elektrotechniki i Automatyki Politechniki Gdańskiej
• Rocznik: 2018
• Tom: Nr 60
• Strony: 127--130
• Opis fizyczny: Bibliogr. 8 poz., rys., wykr., tab.

Twórcy

autor

Toczek W.

• Politechnika Gdańska, Wydział Elektroniki, Telekomunikacji i Informatyki, Katedra Metrologii i Optoelektroniki tel.: [phone]

autor

Nagothu B. S.

• Politechnika Gdańska, Wydział Elektroniki, Telekomunikacji i Informatyki, Katedra Metrologii i Optoelektroniki tel.: [phone]

Bibliografia

• 1. BIPM, IEC, IFCC, ILAC, ISO, IUPAC, IUPAP, OIML 2008: Evaluation of measurement data – Guide to the expression of uncertainty in measurement, Joint Committee for Guides In Metrology, JCGM vol. 100.
• 2. Bich W.: Revision of the “Guide to the Expression of Uncertainty in Measurement”. Why and how. Metrologia, 51, 2014, s. 155-158.
• 3. Bich W., Cox M., Michotte C.: Towards a new GUM-an update, Metrologia, 53, 2016, s. 149-159.
• 4. Fotowicz P.: Modyfikacja sposobu obliczania niepewności pomiaru, Pomiary Automatyka Robotyka, Nr 3, 2016, s. 29-32.
• 5. Lira I.: The GUM revision: the Bayesian view toward the expression of measurement uncertainty, Institute of Physics Publishing, European Journal of Physics 37, 2016, s. 1-16.
• 6. Toczek W.: Zastosowanie statystyki bayesowskiej do uzasadnienia zmiany sposobu obliczania standardowej niepewności pomiaru. Zeszyty Naukowe Wydziału Elektrotechniki i Automatyki Politechniki Gdańskiej, 57, 2017, s. 141-146.
• 7. Kacker R., Jones A.: On use of Bayesian statistics to make the guide to the expression of uncertainty in measurement consistent. Metrologia 40, 2003, s. 235-248.
• 8. Gelman A., Carlin J.B., Stern H.S., Dunson D.B., Vehtari A., Rubin D.B.: Bayesian Data Analysis. CRC Press, Taylor & Francis Group, 2014.

Uwagi

PL

Opracowanie rekordu w ramach umowy 509/P-DUN/2018 ze środków MNiSW przeznaczonych na działalność upowszechniającą naukę (2019).