Tytuł artykułu
Autorzy
Wybrane pełne teksty z tego czasopisma
Identyfikatory
Warianty tytułu
Automatic laboratory system for measurements of semiconductor devices DC characteristics in various temperatures
Języki publikacji
Abstrakty
Przedstawiona praca miała na celu zaprojektowanie oraz wykonanie stanowiska laboratoryjnego, które umożliwiałoby automatyczny pomiar i wizualizację charakterystyk statycznych i dynamicznych podstawowych elementów półprzewodnikowych - diod prostowniczych i Zenera oraz tranzystorów bipolarnych i polowych, a także badanie wpływu temperatury na właściwości tych elementów. Obecnie wykonanie takiej aparatury jest ułatwione dzięki dostępności dokładnych przetworników analogowo-cyfrowych i cyfrowo-analogowych, przeznaczonych do współpracy z systemami mikroprocesorowymi. Zastosowanie komputera do nadzorowania pracy stanowiska laboratoryjnego umożliwiło łatwy i szybki pomiar oraz rejestrację danych, ich przetwarzanie i wizualizację wyników.
The purpose of this paper was designing and making laboratory position, which can be used in automatic measurements and visualization of static and dynamic characteristics of basic semiconductor devices - reetification and stabilization diodes, bipolar junetion and junetion field-effect transistors. As well we examined temperature influence on properties of these devices. The results of measurements are presented in this paper.
Słowa kluczowe
Wydawca
Rocznik
Tom
Strony
161--171
Opis fizyczny
Bibliogr. 6 poz., rys., wykr.
Twórcy
autor
- Akademia Górniczo-Hutnicza, Kraków, Wydział Elektrotechniki, Automatyki, Informatyki i Elektroniki, Katedra Automatyki
autor
- Akademia Górniczo-Hutnicza, Kraków, Wydział Elektrotechniki, Automatyki, Informatyki i Elektroniki, Katedra Automatyki
Bibliografia
Typ dokumentu
Bibliografia
Identyfikator YADDA
bwmeta1.element.baztech-38a3b4d0-d0c5-4f0a-8f8a-6ee897befefb
JavaScript jest wyłączony w Twojej przeglądarce internetowej. Włącz go, a następnie odśwież stronę, aby móc w pełni z niej korzystać.