PL EN


Preferencje help
Widoczny [Schowaj] Abstrakt
Liczba wyników
Tytuł artykułu

Badania falownika napięcia z węglikowo – krzemowymi tranzystorami JFET o charakterystykach mieszanych

Wybrane pełne teksty z tego czasopisma
Identyfikatory
Warianty tytułu
EN
Research of Voltage Source Inverter with mixed Silicon Carbide JFET transistors
Języki publikacji
PL
Abstrakty
PL
W pracy omówiono problematykę strat mocy w elementach półprzewodnikowych z węglika krzemu (SiC) w zastosowaniu do jednofazowego falownika napięcia, charakteryzującego się wysoką sprawnością energetyczną. Na podstawie danych katalogowych poszczególnych przyrządów półprzewodnikowych (SiC JFET, SiC BJT i SiC MOSFET) w sposób analityczny wyznaczono straty mocy. Wyniki obliczeń porównano z wynikami badań modelu laboratoryjnego jednofazowego falownika o mocy S = 2 kVA.
EN
In this work the problem of the power losses in the semiconductor elements made with silicon carbide (SiC) as applicable to high efficiency single-phase voltage source inverter was presented. Based on data from manufacturers regarding switching energy losses for individual semiconductor devices (SiC JFET, BJT and SiC MOSFET), analytical power loss calculations in leg configuration were determined. The calculations were compared with a measured results obtained from laboratory model single-phase full bridge inverter with rated power S = 2kVA.
Rocznik
Strony
159--163
Opis fizyczny
Bibliogr. 10 poz., rys., tab., wykr.
Twórcy
autor
  • Politechnika Warszawska, Instytut Sterowania i Elektroniki Przemysłowej
autor
  • Politechnika Warszawska, Instytut Sterowania i Elektroniki Przemysłowej
autor
  • Politechnika Warszawska, Instytut Maszyn Elektrycznych
autor
  • Politechnika Warszawska, Instytut Sterowania i Elektroniki Przemysłowej
Bibliografia
  • [1] Zdanowski M., Rąbkowski J., Barlik R., Analiza porównawcza strat mocy w trójfazowych falownikach PWM z elementami aktywnymi z węglika krzemu. Przegląd Elektrotechniczny, 87(2011), nr 10, 101-105
  • [2] Friedrichs P., Silicon Carbide Power semiconductors – New opportunities for high efficiency. 3rd IEEE Conf. On Industrial Electronics and Applications ICIEA 2008, Singapore, 1770-1774
  • [3] Rąbkowski J., Zdanowski M., Trójfazowy falownik prądu PWM z tranzystorami SiC JFET. Elektronika, (2010), nr 2, 23-28
  • [4] Rąbkowski J., Zdanowski M., Barlik R., Sterowniki bramkowe dla tranzystorów z węglika krzemu (SiC) – przegląd rozwiązań. Przegląd Elektrotechniczny, 88(2012), nr 4b, 187-192
  • [5] Bierhoff M.H., Fuchs F.W., Semiconductor Losses in Voltage Source and Current Source IGBT Converters Based on Analytical Derivation. IEEE Power Electronics Specialists Conference, PESC 2004, Aachen, 2836-2842
  • [6] Rąbkowski J., Zdanowski M., Barlik R., Concept of the Bridge Leg with Mixed Normally-ON & Normally-OFF SiC JFETs, 8th Conf. on Compatibility in Power Electronics, Ljubliana, 2013, 286-291
  • [7] www.semisouth.com (2012)
  • [8] www.cree.com (2012)
  • [9] www.fairchildsemi.com (2012)
  • [10] Norma PN-EN-55016-1-1:2010. Wymagania dotyczące aparatury pomiarowej i metod pomiaru zaburzeń radioelektrycznych oraz odporności na zaburzenia. Część 1-1: Aparatura do pomiaru zaburzeń radioelektrycznych i odporności – Aparatura pomiarowa.
Typ dokumentu
Bibliografia
Identyfikator YADDA
bwmeta1.element.baztech-376f9426-8f92-4c8f-8b2f-3d0bc6cca446
JavaScript jest wyłączony w Twojej przeglądarce internetowej. Włącz go, a następnie odśwież stronę, aby móc w pełni z niej korzystać.