Skala mikro i nano Nowe możliwości w Zakładzie Metrologii i Systemów Pomiarowych

• Autorzy: Wieczorowski Michał , Gapiński Bartosz , Talar Rafał , Stachowska Ewa , Jakubowicz Michał , Grochalski Karol , Kucharski Dawid , Marciniak-Podsadna Lidia , Mietliński Patryk , Swojak Natalia
• Języki publikacji: PL

Abstrakty

PL

W artykule przyglądamy się pomiarom w skali mikro oraz nano. Jakie są trendy rozwoju oraz jakie możliwości w tym zakresie ma Politechnika Poznańska? Z artykułu dowiesz się: jakie trendy rozwojowe towarzyszą pomiarom w skali mikro i nano; jakie możliwości w tym zakresiema Politechnika Poznańska; jak przedstawia się perspektywa w zakresie metrologii dla Polski na tle innych krajów Europy.

Słowa kluczowe

PL

laboratorium pomiarowe; metrologia 4.0; Zakład Metrologii i Systemów Pomiarowych; Politechnika Poznańska; skaningowa interferometria koherentna; mikroskopia różnicowania ogniskowego

• Wydawca: ELAMED Media Group
• Czasopismo: Stal, Metale & Nowe Technologie
• Rocznik: 2024
• Tom: nr 7-8
• Strony: 52--55
• Opis fizyczny: Bibliogr. 3 poz., fot.

Twórcy

autor

Wieczorowski Michał

• Politechnika Poznańska ‒ Instytut Technologii Mechanicznej

autor

Gapiński Bartosz

• Politechnika Poznańska ‒ Instytut Technologii Mechanicznej

autor

Talar Rafał

• Politechnika Poznańska ‒ Instytut Technologii Mechanicznej

autor

Stachowska Ewa

• Politechnika Poznańska ‒ Instytut Technologii Mechanicznej

autor

Jakubowicz Michał

• Politechnika Poznańska ‒ Instytut Technologii Mechanicznej

autor

Grochalski Karol

• Politechnika Poznańska ‒ Instytut Technologii Mechanicznej

autor

Kucharski Dawid

• Politechnika Poznańska ‒ Instytut Technologii Mechanicznej

autor

Marciniak-Podsadna Lidia

• Politechnika Poznańska ‒ Instytut Technologii Mechanicznej

autor

Mietliński Patryk

• Politechnika Poznańska ‒ Instytut Technologii Mechanicznej

autor

Swojak Natalia

• Politechnika Poznańska ‒ Instytut Technologii Mechanicznej

Bibliografia

• 1. Pawlus P. et al.: Comparison of results of surface texture measurement obtained with stylus methods and optical methods. „Metrology and Measurement Systems”, 25 (3), 2018, 589-602.
• 2. Gapiński B. i in.: Bezstykowe pomiary nierówności powierzchni – cz. II. „Stal Metale & Nowe Technologie”, 5-6, 2019, 134-135.
• 3. Wieczorowski M. et al.: A novel approach to using artificial intelligence in coordinate metrology including nano scale. „Measurement”, 217, 2023, 113051.