Rozwój metod charakteryzacji materiałów w zakresie subterahercowym

• Autorzy: Godziszewski K. , Yashchyshyn Y

Identyfikatory

DOI

10.15199/13.2015.7.9

Warianty tytułu

EN

Development of material characterization methods in sub-terahertz range

• Języki publikacji: PL

Abstrakty

PL

W artykule przedstawiono problematykę charakteryzacji materiałów w zakresie subterahercowym, ze szczególnym uwzględnieniem quasi-optycznych metod pomiarowych. Zaprezentowany został system pomiarowy opracowany w Instytucie Radioelektroniki PW umożliwiający charakteryzację różnorodnych materiałów w paśmie do 0,5 THz. Omówiono także nową metodę pomiarową wykorzystującą ideę interferometru z możliwościami współczesnego, wektorowego analizatora obwodów, dzięki której możliwe jest bardzo precyzyjne wyznaczanie przenikalności elektrycznej badanych materiałów.

EN

The paper presents techniques of material characterization in sub-terahertz range with particular focus on quasi-optical techniques. Measurement setup developed in the Institute of Radioelectronics, Warsaw University of Technology for characterization of different types of materials is demonstrated. Novel measurement technique based on idea of interferometer and capabilities of modern VNA is also described. This method enables to determine of the permittivity with very high precision.

Słowa kluczowe

PL

charakterystyka materiału; techniki pomiarowe; zakres subterahercowy

EN

material characterization; measurement techniques; sub-terahertz range

• Wydawca: Wydawnictwo SIGMA-NOT
• Czasopismo: Elektronika : konstrukcje, technologie, zastosowania
• Rocznik: 2015
• Tom: Vol. 56, nr 7
• Strony: 42--44
• Opis fizyczny: Bibliogr. 9 poz., wykr.

Twórcy

autor

Godziszewski K.

• Politechnika Warszawska, Instytut Radioelektroniki

autor

Yashchyshyn Y

• Politechnika Warszawska, Instytut Radioelektroniki

Bibliografia

• [1] S. Chen, M. N. Afsar, D. Sakdatorn, “Dielectric parameter measurements of SiC at millimeter and submillimeter wavelengths”, IEEE Transaction on Instrumentation and Measurement, vol. 57, nr 4, str. 706–715, 2008.
• [2] A. L. Cullen, P. K. Yu, “Measurement of permittivity by means of an open resonator”, Proc. Royal Society of London. Series A, Mathematical and Physical Sciences, vol. 380, str. 49–71, 1982.
• [3] S. Trabelsi, S. O. Nelson, “Nondestructive sensing of physical properties of granular materials by microwave permittivity measurement”, IEEE Transaction on Instrumentation and Measurement, vol. 55, nr 3, str. 953–963, 2006.
• [4] K. Godziszewski, Y. Yashchyshyn, E. Pawlikowska, E. Bobryk, M. Szafran, “Development and measurements of ferroelectric ceramic-polymer composites for sub-THz range”, Proc. European Conference on Antennas and Propagation (EuCAP) 2013, str. 3857-3859.
• [5] Z. Bouguila, B. Fischer, A. Moukadem, A. Dieterlen, “Time-frequency representation of terahertz time domain spectroscopy signals based on Stockwell transform”, proc. International Conference on Infrared, Millimeter, and Terahertz waves (IRMMW-THz) 2014.
• [6] N. Dvurechenskaya, P. R. Bajurko, R. J. Zieliński, Y. Yashchyshyn, “Measurements of Shielding Effectiveness of Textile Materials Containing Metal by the Free-Space Transmission Technique with Data Processing in Time Domain”, Metrology and Measurement Systems, Vol. XX, Issue 2, June 2013.
• [7] P. Bajurko, K. Godziszewski, Y. Yashchyshyn, „Rozwój technik pomiarowych parametrów materiałów w zakresie do częstotliwości subterahercowych”, Przegląd Telekomunikacyjny i Wiadomości Telekomunikacyjne, zeszyt 6/2013, str. 365-368.
• [8] N. Andrushchak, I. Karbovnyk, K. Godziszewski, Y. Yashchyshyn, M. Lobur, A. Andrushchak, „New Interference Technique for Determination of Low Loss Materials Permittivity in the Extremely High Frequency Range”, IEEE Transaction on Instrumentation and Measurement (przyjęty do druku).
• [9] Y. Yashchyshyn, N. Andrushchak, K. Godziszewski, O. Kushnir, A. Andrushchak, „Interferometryczny układ do pomiaru przenikalności elektrycznej materiałów z wykorzystaniem wektorowego analizatora obwodów”, Urząd Patentowy Ukrainy, zgłoszenie patentowe 2014 00822 z 29 stycznia 2014.