A method of self-testing of an analog circuit terminated by an ADC in electronic embedded systems controlled by microcontrollers

• Autorzy: Czaja Z.

Identyfikatory

DOI

10.15199/48.2016.11.05

Warianty tytułu

PL

(Metoda samotestowania toru analogowego zakończonego przetwornikiem A/C w elektronicznych systemach wbudowanych sterowanych mikrokontrolerami

• Języki publikacji: EN

Abstrakty

EN

A new self-testing method of analog parts terminated by an ADC in electronic embedded systems controlled by microcontrollers is presented. It is based on a new fault diagnosis method based on on-line (i.e. during measurement), transformations of voltage samples of the time response of a tested part to a square pulse - onto localization curves placed in the measurement space. The method can be used for fault detection and single soft fault localization.

PL

Przedstawiono nową metodę samotestowania toru analogowego zakończonego przetwornikiem A/C w elektronicznych systemach wbudowanych sterowanych mikrokontrolerami. Bazuje ona na nowej metodzie diagnostycznej opartej na przekształceniach transformujących na bieżąco, tj. w trakcie pomiarów, próbki odpowiedzi czasowej badanej części analogowej na pobudzenie impulsem prostokątnym na krzywe lokalizacyjne w przestrzeni pomiarowej. Metoda ta pozwala na detekcję i lokalizację pojedynczych uszkodzeń parametrycznych w układach analogowych.

Słowa kluczowe

EN

self-testing; microcontrollers; analog to digital converters

PL

samotestowanie; mikrokontrolery; przetworniki analogowo-cyfrowe

• Wydawca: Wydawnictwo SIGMA-NOT
• Czasopismo: Przegląd Elektrotechniczny
• Rocznik: 2016
• Tom: R. 92, nr 11
• Strony: 19--22
• Opis fizyczny: Bibliogr. 13 poz., rys., wykr.

Twórcy

autor

Czaja Z.

• Politechnika Gdańska, Wydział Elektroniki, Telekomunikacji i Informatyki, Katedra Metrologii i Optoelektroniki, ul. G. Narutowicza 11/12, 80-233 Gdańsk

Bibliografia

• [1] Lewin W., Hryniewicz O., Niezawodna jakość, Problemy jakości, 10/2006, Sigma Not, Warszawa, (2006), 23-24
• [2] Zhao F., Koutsoukos X., Haussecker H., Reich J., Cheung P., Monitoring and fault diagnosis of hybrid systems, IEEE Transactions on Systems, Man, and Cybernetics—Part B: Cybernetics, 35 (2005), 1214-1219
• [3] Scottow R. G., Hopkins A. B. T., Instrumentation of real-time embedded system for performance analysis, IEEE Instrumentation and Measurement Conference, IMTC/06, Sorrento, Italy, (2006), 1307-1310
• [4] Changhyun B., Seungkyu P., Kyunghee C., [similar to] TEST: An effective automation tool for testing embedded software, WSEAS Transactions on Information Science and Applications, 2 (2005), 1214-1219
• [5] Souza C. P., Assis F. M., Freire R. C. S., Mixed test pattern generation using single parallel LFSR, IEEE Instrumentation and Measurement Conference, IMTC/06, Sorrento, Italy, (2006), 1114-1118
• [6] Toczek W., Czaja Z., Diagnosis of fully differential circuits based on a fault dictionary implemented in the microcontroller systems, Microelectronic Reliability, 51 (2011), 1413–1421
• [7] Czaja Z., A method of fault diagnosis of analog parts of electronic embedded systems with tolerances, Measurement, 42 (2009), 903-915
• [8] Czaja Z., Self-testing of analog parts terminated by ADCs based on multiple sampling of time responses, IEEE Transaction on Instrumentation and Measurement, 62 (2013), 3160-3167
• [9] Czaja Z., Implementacja metody diagnostycznej opartej na wielokrotnym próbkowaniu odpowiedzi czasowej w mieszanym sygnałowo mikrosystemie elektronicznym, Przegląd Elektrotechniczny, 87 (2011), nr.9a, 33-36
• [10] Atmel Corporation, Atmel AVR XMEGA AU Manual, (2012), PDF file available from: www.atmel.com
• [11] Analog Devices, AD7694, 16-Bit, 250 kSPS PulSAR ADC in MSOP, Norwood, MA, USA, (2005), [Online] Available: http://www.analog.com
• [12] International Rectifier, IRF7105 HEXFET Power MOSFET, El Segundo, CA, USA, (2003), [Online] Available: http://www.irf.com
• [13] Czaja Z., A microcontroller system for measurement of three independent components in impedance sensors using a single square pulse, Sensors and Actuators A, 173 (2013), 284-292

Uwagi

Opracowanie ze środków MNiSW w ramach umowy 812/P-DUN/2016 na działalność upowszechniającą naukę.