Ocena powtarzalności punktów kluczowych obrazów twarzy z zakresu światła widzialnego i podczerwieni

• Autorzy: Pacan J. , Jakubowski J.

Warianty tytułu

EN

Assessment of the repeatability of keypoints detected in visible and infrared face images

• Języki publikacji: PL

Abstrakty

PL

Artykuł prezentuje wyniki badań mających na celu ocenę powtarzalności punktów kluczowych obrazów twarzy przy zmianie warunków występujących w procesie ich rejestracji. Powyższa analiza została przeprowadzona dla obrazów z zakresu światła widzialnego i podczerwieni.

EN

The paper presents the results of the research whose objective was to assess the repeatability of image keypoints under changing conditions of acquisition process. The analysis was conducted using visual and infrared images.

Słowa kluczowe

PL

przetwarzanie obrazów; algorytm SIFT; rozpoznawanie twarzy

EN

image processing; SIFT algorithm; face recognition

• Wydawca: Wydawnictwo SIGMA-NOT
• Czasopismo: Przegląd Elektrotechniczny
• Rocznik: 2014
• Tom: R. 90, nr 8
• Strony: 205--208
• Opis fizyczny: Bibliogr. 9 poz., rys., tab., wykr.

Twórcy

autor

Pacan J.

• Wojskowa Akademia Techniczna, Wydział Elektroniki, Instytut Systemów Elektronicznych, ul. Kaliskiego 2, 00-908 Warszawa

autor

Jakubowski J.

• Wojskowa Akademia Techniczna, Wydział Elektroniki, Instytut Systemów Elektronicznych, ul. Kaliskiego 2, 00-908 Warszawa

Bibliografia

• [1] Turk M. A., Pentland A. P., Face recognition using eigenfaces, Journal of Cognitive Neuroscience, 3 (1991), nr 1, 586-591.
• [2] Belhumeur P. N., Hespanha J. P., Kriegman D. J., Eigenfaces vs. Fisherfaces: Recognition Using Class Specific Linear Projection, IEEE Transactions On Pattern Analysis And Machine Intelligence, 19 (1997), Nr 7.
• [3] Lowe D., Distinctive image features from scale-invariant keypoints, Int. Journal of Computer Vision,. 60 (2004), Nr 2, 91-110.
• [4] Wang Y. Y., Li Z-M., Wang L., Wang M., A Scale Invariant Feature Transform Based Method, Journal of Information Hiding and Multimedia Signal Processing, 4 (2013), Nr 2, 73-89.
• [5] Pacan J., Jakubowski J., Rozpoznawanie twarzy na podstawie cech lokalnych obrazów z zakresu światła widzialnego i podczerwieni, Przegląd Elektrotechniczny, 89 (2013), Nr 9, 144-147.
• [6] Andrea Vedaldi i Brian Fulkerson: http://www.vlfeat.org/overview/sift.html
• [7] David Lowe: http://www.cs.ubc.ca/~lowe/keypoints/
• [9] Dokumentacja miernika natężenia oświetlenia typ LXP-1.