PL EN


Preferencje help
Widoczny [Schowaj] Abstrakt
Liczba wyników
Tytuł artykułu

Effect of annealing temperature on optical and electrical properties of metallophthalocyanine thin films deposited on silicon substrate

Identyfikatory
Warianty tytułu
Języki publikacji
EN
Abstrakty
EN
The cobalt phthalocyanine (CoPc) thin films (300 nm thick) deposited on n-type silicon substrate have been studied using micro-Raman spectroscopy, atomic force spectroscopy (AFM) and I-V measurement. The CoPc thin layers have been deposited at room temperature by the quasi-molecular beam evaporation technique. The micro-Raman spectra of CoPc thin films have been recorded in the spectral range of 1000 cm-1 to 1900 cm-1 using 488 nm excitation wavelength. Moreover, using surface Raman mapping it was possible to obtain information about polymorphic forms distribution (before and after annealing) of metallophthalocyanine (α and β form) from polarized Raman spectra. The I-V characteristics of the Au/CoPc/n-Si/Al Schottky barrier were also investigated. The obtained results showed that influence of the annealing process plays a crucial role in the ordering and electrical conductivity of the molecular structure of CoPc thin films deposited on n-type silicon substrate.
Wydawca
Rocznik
Strony
676--683
Opis fizyczny
Bibliogr. 25 poz., rys., tab.
Twórcy
  • Faculty of Technical Physics, Poznan University of Technology, Piotrowo 3, 60-965 Poznan, Poland
  • Institute of Physics, Kazimierz Wielki University, Powstańców Wielkopolskich 2, 85-090 Bydgoszcz, Poland
autor
  • Faculty of Technical Physics, Poznan University of Technology, Piotrowo 3, 60-965 Poznan, Poland
autor
  • Institute of Physics, Kazimierz Wielki University, Powstańców Wielkopolskich 2, 85-090 Bydgoszcz, Poland
autor
  • Institute of Physics, Kazimierz Wielki University, Powstańców Wielkopolskich 2, 85-090 Bydgoszcz, Poland
  • Nanobiomedical Center, Adam Mickiewicz University, Umultowska 85, 61-614 Poznan, Poland
autor
  • Faculty of Chemical Technology and Engineering, University of Technology and Life Sciences, Seminaryjna 3, 85-326, Bydgoszcz, Poland
autor
  • Faculty of Technical Physics, Poznan University of Technology, Piotrowo 3, 60-965 Poznan, Poland
Bibliografia
  • 1. Simon J., Andre J.J., Molecular Semiconductors, Springer Verlag, New York, 1985.
  • 2. Hanack M., Turk. J. Chem., 22 (1998), 13.
  • 3. Kerp H.R., Faassen Van E.E., Chem. Phys. Lett., 332 (2000), 5.
  • 4. Carpi F., Rossi De D., Opt. Laser Technol., 38 (2006), 292.
  • 5. Kobayashi N., Curr. Opin. Solid St. M., 4 (1999), 345.
  • 6. Granito C., Goldenberg L.M., Bryce M.R., Monkman A.P., Troisi L., Pasimeni L., Petty M., Langmuir, 12 (1996), 472.
  • 7. Hanack M., Lang M., Adv. Mater., 6 (1994), 819.
  • 8. Brozek-Pluska B., Jarota A., Kurczewski K., Abramczyk H., J. Mol. Struct., 924 - 926 (2009) 338.
  • 9. Kolesov B.A., Basova T.V., Thin Solid Films, 304 (1997), 166.
  • 10. Zawadzka A., Plociennik P., Strzelecki J., Pranaitis M., Dabos-Seignon S., Sahraoui B., Thin Solid Films, 545 (2013), 429.
  • 11. Zawadzka A., Plociennik P., Strzelecki J., Korcala A., Arof A.K., Sahraoui B., Dyes Pigments, 101 (2014), 212.
  • 12. Tackley D.R., Dent G., Smith W.E., Phys. Chem. Chem. Phys., 3 (2001), 1419.
  • 13. Szybowicz M., Runka T., Drozdowski M., Bała W., Wojdyła M., Grodzicki A., Piszczek P., Bratkowski A., J. Mol. Struct., 830 (2007), 14.
  • 14. Szybowicz M., Runka T., Drozdowski M., Bała W., Grodzicki A., Piszczek P., Bratkowski A., J. Mol. Struct., 704 (2004), 107.
  • 15. Szybowicz M., Bała W., Fabisiak K., Paprocki K., Drozdowski M., Cryst. Res. Technol., 45 (2010), 1265.
  • 16. Shihub S.I., Gould R.D., Phys. Status Solidi A, 139 (1993), 129.
  • 17. Dijken Van J.G., Brett M.J., Molecules, 17 (2012), 10119.
  • 18. Shihub S.I., Gould R.D., Gravano S., Physica B, 222 (1996), 136.
  • 19. Hussein M.T., Nasir E.M., Kasim T., Senaed F.A., Int. J. Cur. Eng. T., 4 (2014), 3263.
  • 20. Szybowicz M., Makowiecki J., J. Mater. Sci., 47 (2012), 1522.
  • 21. Soliman H.S., El-Barry A.M.A., Khosifan N.M., El Nahass M.M., Eur. Phys. J-Appl. Phys., 37 (2007), 1.
  • 22. Darwish S., El-Zawawi I.K., Riad A.S., Thin Solid Films, 485 (2005), 182.
  • 23. Cheung S.K., Cheung N.W., Appl. Phys. Lett., 49 (1986), 85.
  • 24. Wahab F., Sayyad M.H., Khan D.N., Tahir M., Aziz F., Shahid M., Munawar, M.A., Chaudry J.A., Mat. Sci. Semicon. Proc., 26 (2014), 101.
  • 25. Buchholtz J.C., Appl. Surf. Sci., 1 (1978), 547.
Uwagi
Opracowanie ze środków MNiSW w ramach umowy 812/P-DUN/2016 na działalność upowszechniającą naukę.
Typ dokumentu
Bibliografia
Identyfikator YADDA
bwmeta1.element.baztech-2f86f595-09e0-4e9b-b645-348b65d65746
JavaScript jest wyłączony w Twojej przeglądarce internetowej. Włącz go, a następnie odśwież stronę, aby móc w pełni z niej korzystać.