Tytuł artykułu
Autorzy
Wybrane pełne teksty z tego czasopisma
Identyfikatory
Warianty tytułu
Języki publikacji
Abstrakty
The cobalt phthalocyanine (CoPc) thin films (300 nm thick) deposited on n-type silicon substrate have been studied using micro-Raman spectroscopy, atomic force spectroscopy (AFM) and I-V measurement. The CoPc thin layers have been deposited at room temperature by the quasi-molecular beam evaporation technique. The micro-Raman spectra of CoPc thin films have been recorded in the spectral range of 1000 cm-1 to 1900 cm-1 using 488 nm excitation wavelength. Moreover, using surface Raman mapping it was possible to obtain information about polymorphic forms distribution (before and after annealing) of metallophthalocyanine (α and β form) from polarized Raman spectra. The I-V characteristics of the Au/CoPc/n-Si/Al Schottky barrier were also investigated. The obtained results showed that influence of the annealing process plays a crucial role in the ordering and electrical conductivity of the molecular structure of CoPc thin films deposited on n-type silicon substrate.
Wydawca
Czasopismo
Rocznik
Tom
Strony
676--683
Opis fizyczny
Bibliogr. 25 poz., rys., tab.
Twórcy
autor
- Faculty of Technical Physics, Poznan University of Technology, Piotrowo 3, 60-965 Poznan, Poland
autor
- Institute of Physics, Kazimierz Wielki University, Powstańców Wielkopolskich 2, 85-090 Bydgoszcz, Poland
autor
- Faculty of Technical Physics, Poznan University of Technology, Piotrowo 3, 60-965 Poznan, Poland
autor
- Institute of Physics, Kazimierz Wielki University, Powstańców Wielkopolskich 2, 85-090 Bydgoszcz, Poland
autor
- Institute of Physics, Kazimierz Wielki University, Powstańców Wielkopolskich 2, 85-090 Bydgoszcz, Poland
autor
- Nanobiomedical Center, Adam Mickiewicz University, Umultowska 85, 61-614 Poznan, Poland
autor
- Faculty of Chemical Technology and Engineering, University of Technology and Life Sciences, Seminaryjna 3, 85-326, Bydgoszcz, Poland
autor
- Faculty of Technical Physics, Poznan University of Technology, Piotrowo 3, 60-965 Poznan, Poland
Bibliografia
- 1. Simon J., Andre J.J., Molecular Semiconductors, Springer Verlag, New York, 1985.
- 2. Hanack M., Turk. J. Chem., 22 (1998), 13.
- 3. Kerp H.R., Faassen Van E.E., Chem. Phys. Lett., 332 (2000), 5.
- 4. Carpi F., Rossi De D., Opt. Laser Technol., 38 (2006), 292.
- 5. Kobayashi N., Curr. Opin. Solid St. M., 4 (1999), 345.
- 6. Granito C., Goldenberg L.M., Bryce M.R., Monkman A.P., Troisi L., Pasimeni L., Petty M., Langmuir, 12 (1996), 472.
- 7. Hanack M., Lang M., Adv. Mater., 6 (1994), 819.
- 8. Brozek-Pluska B., Jarota A., Kurczewski K., Abramczyk H., J. Mol. Struct., 924 - 926 (2009) 338.
- 9. Kolesov B.A., Basova T.V., Thin Solid Films, 304 (1997), 166.
- 10. Zawadzka A., Plociennik P., Strzelecki J., Pranaitis M., Dabos-Seignon S., Sahraoui B., Thin Solid Films, 545 (2013), 429.
- 11. Zawadzka A., Plociennik P., Strzelecki J., Korcala A., Arof A.K., Sahraoui B., Dyes Pigments, 101 (2014), 212.
- 12. Tackley D.R., Dent G., Smith W.E., Phys. Chem. Chem. Phys., 3 (2001), 1419.
- 13. Szybowicz M., Runka T., Drozdowski M., Bała W., Wojdyła M., Grodzicki A., Piszczek P., Bratkowski A., J. Mol. Struct., 830 (2007), 14.
- 14. Szybowicz M., Runka T., Drozdowski M., Bała W., Grodzicki A., Piszczek P., Bratkowski A., J. Mol. Struct., 704 (2004), 107.
- 15. Szybowicz M., Bała W., Fabisiak K., Paprocki K., Drozdowski M., Cryst. Res. Technol., 45 (2010), 1265.
- 16. Shihub S.I., Gould R.D., Phys. Status Solidi A, 139 (1993), 129.
- 17. Dijken Van J.G., Brett M.J., Molecules, 17 (2012), 10119.
- 18. Shihub S.I., Gould R.D., Gravano S., Physica B, 222 (1996), 136.
- 19. Hussein M.T., Nasir E.M., Kasim T., Senaed F.A., Int. J. Cur. Eng. T., 4 (2014), 3263.
- 20. Szybowicz M., Makowiecki J., J. Mater. Sci., 47 (2012), 1522.
- 21. Soliman H.S., El-Barry A.M.A., Khosifan N.M., El Nahass M.M., Eur. Phys. J-Appl. Phys., 37 (2007), 1.
- 22. Darwish S., El-Zawawi I.K., Riad A.S., Thin Solid Films, 485 (2005), 182.
- 23. Cheung S.K., Cheung N.W., Appl. Phys. Lett., 49 (1986), 85.
- 24. Wahab F., Sayyad M.H., Khan D.N., Tahir M., Aziz F., Shahid M., Munawar, M.A., Chaudry J.A., Mat. Sci. Semicon. Proc., 26 (2014), 101.
- 25. Buchholtz J.C., Appl. Surf. Sci., 1 (1978), 547.
Uwagi
Opracowanie ze środków MNiSW w ramach umowy 812/P-DUN/2016 na działalność upowszechniającą naukę.
Typ dokumentu
Bibliografia
Identyfikator YADDA
bwmeta1.element.baztech-2f86f595-09e0-4e9b-b645-348b65d65746