Badania topografii powierzchni przy uzyciu mikroskopii konfokalnej

• Autorzy: Tartakowski Z. , Dudzińska S.

Warianty tytułu

EN

Research on surface topography using confocal microscopy

• Języki publikacji: PL

Abstrakty

PL

Istotnym czynnikiem wpływajacym na eksploatacje czesci maszyn jest stan ich warstwy wierzchniej uzyskany z procesów obróbczych i przetwórczych. W praktyce przemysłowej do badań stanu powierzchni powszechnie używane sa profilometry stykowe. Dla dokładniejszego opisu powierzchni coraz częściej stosowana jest technika pomiarowa 3D przy użyciu chromatycznej mikroskopii konfokalnej. W pracy przedstawiono praktyczne wykorzystanie mikroskopii konfokalnej do analizy warstwy wierzchniej gniazda formy wtryskowej.

EN

One of the most important factor affecting the exploitation of the machine parts is the surface layer condition after the processes of machining and processing. In industrial practice to study the state of the surface are commonly used Profilometers pin. More frequently for a more detailed characterization of surfaces is using 3D measurement by chromatic confocal microscopy. The paper presents practical using of confocal microscopy for analysis of the surface layer of the injection mold cavity.

Słowa kluczowe

PL

mikroskopia konfokalna chromatyczna; pomiar topografii powierzchni; parametry chropowatości; gniazdo formy wtryskowej

EN

chromatic confocal microscopy; surface topography measurement; roughness parameters; injection mold cavity

• Wydawca: Wydawnictwo SIGMA-NOT
• Czasopismo: Dozór Techniczny
• Rocznik: 2016
• Tom: z. 5
• Strony: 22--26
• Opis fizyczny: Bibliogr. 12 poz., rys., tab., wykr.

Twórcy

autor

Tartakowski Z.

• Instytut Inżynierii Materiałowej, Zachodniopomorski Uniwersytet Technologiczny w Szczecinie

autor

Dudzińska S.

• Instytut Technologii Mechanicznej, Zachodniopomorski Uniwersytet Technologiczny w Szczecinie

Bibliografia

• [1] PN-EN ISO 3274:2011, Specyfikacja geometrii wyrobów (GPS) - Struktura geometryczna powierzchni: metoda profilowa - Charakterystyki nominalne przyrządów stykowych (z ostrzem odwzorowującym).
• [2] B. Nowicki, Struktura geometryczna: chropowatość i falistość powierzchni, WNT, Warszawa, 1991.
• [3] K. E. Oczoś, V. Liubimov, Struktura geometryczna powierzchni: podstawy klasyfikacji z atlasem charakterystycznych powierzchni kształtowanych, Oficyna Wydawnicza Politechniki Rzeszowskiej, Rzeszów, 2003.
• [4] J. Čop, V. Pata, O. Bilek, Iuence of Technological Parameters on Surface Quality of Injectionmolded parts [w:] "Key Engineering Materials", 2016, p. 686, 131-136.
• [5] S. Dudzińska, Z. Tartakowski, D. Grochala, Ekologiczne aspekty oceny struktury geometrycznej powierzchni wyrobów z tworzyw polimerowych [w:] "Autobusy. Technika, Eksploatacja, Systemy Transportowe", 2016, s.6, 35.
• [6] R. Leach, Optical Measurement of Surface Topography [w:] Springer-Verlag Berlin Heidelberg, United Kingtom, 2011.
• [7] D. Fleischle, W. Lyda, F. Mauch, W. Osten, Untersuchung zum Zusammenhangvon spektraler Abtastung und erreichbarer Messunsichercheit bei der chromatischkonfokalen Mikroskopie an rauen Objekten, https://dgaoproceedings.de/download/111/111_a14.pdf.
• [8] M. Wieczorowski, Metrologia nierówności powierzchni, metody i systemy, Wydawnictwo Zapol, Szczecin, 2013.
• [9] R. Weiβ, M. Hillenbrand, A. Grewe, S. Sinzinger, Paralleliesiertechromatischkonfokale Mikroskopie mit einem Mehrkanalspektrometer, https://dgaoproceedings.de/download/115/115_a35.pdf.
• [10] PN-EN ISO 25178-602:2010, Specyfikacje geometrii wyrobów. Struktura geometryczna powierzchni: Przestrzenna - część 602. Charakterystyki nominalne przyrządów bezstykowych (z czujnikiem chromatycznym konfokalnym).
• [11] PN-EN ISO 25178-603:2013-12, Specyfikacje geometrii wyrobów (GPS). Struktura geometryczna powierzchni: Przestrzenna - część 603. Charakterystyki nominalne przyrządów bezstykowych (mikroskopów interferometrycznych z korekcją fazy).
• [12] M. Wieczorowski, Teoretyczne podstawy przestrzennej analizy nierówności powierzchni [w:] IM inżynieria maszyn, 2013, str. 18(3), 7-34.