Rozpoznawanie obszarów obrazu na podstawie charakterystyk zmiennych statystycznych

• Autorzy: Onoszko K. , Ślósarz R. , Kamrowski D.

Identyfikatory

DOI

10.5604/12345865.1131476

Warianty tytułu

EN

Identification of image areas based on characteristics of statistical variables

• Języki publikacji: PL

Abstrakty

PL

W ostatnich latach wyraźnie widoczny jest wzrost zainteresowania metodami opartymi na przetwarzaniu obrazów. Dzięki dzisiejszej technice są one coraz szybsze, dokładniejsze, a rezultaty badań prostsze w interpretacji. W artykule opisano ską metodę rozpoznawania obszarów w obrazie z użyciem charakterystyk zmiennych statystycznych powstałych w wyniku obserwacji zmian tych obszarów.

EN

In recent years increasing interest in the methods based on image processing has been observed. With today’s technology, these methods are becoming faster, more accurate, and the results of the tests are easier to interpret. The article describes an original method for identifying areas of an image, using the characteristics of statistical variables resulting from the observation of these areas.

Słowa kluczowe

PL

rozpoznawanie obrazu; autokorelacja; analiza sygnału

EN

image recognition; autocorrelation; signal analysis

• Wydawca: Wojskowa Akademia Techniczna im. Jarosława Dąbrowskiego
• Czasopismo: Biuletyn Wojskowej Akademii Technicznej
• Rocznik: 2014
• Tom: Vol. 63, nr 4
• Strony: 147--157
• Opis fizyczny: Bibliogr. 2 poz., rys., wykr.

Twórcy

autor

Onoszko K.

• Politechnika Poznańska, Wydział Elektryczny, 60-965 Poznań, ul. Piotrowo 3A

autor

Ślósarz R.

• Politechnika Poznańska, Wydział Elektryczny, 60-965 Poznań, ul. Piotrowo 3A

autor

Kamrowski D.

• Politechnika Poznańska, Wydział Elektryczny, 60-965 Poznań, ul. Piotrowo 3A

Bibliografia

• [1] Wróbel Z., Koprowski R., Praktyczne przetwarzanie obrazów w programie Matlab, EXIT, Warszawa, 2004,
• [2] Tadeusiewicz R., Korohoda P., Komputerowa analiza i przetwarzanie obrazów, fpt, Kraków, 1997.
•  

Uwagi

PL

Artykuł opracowany na podstawie referatu wygłoszonego na X Szkole–Konferencji „Metrologia Wspomagana Komputerowo — MWK’2014” Waplewo, 27-30 maja 2014.