Tytuł artykułu
Autorzy
Wybrane pełne teksty z tego czasopisma
Identyfikatory
Warianty tytułu
Methods of accuracy verification of industrial CT scanner
Konferencja
XVI Krajowa VII Międzynarodowa Konferencja Naukowo-Techniczna „Metrologia w technikach wytwarzania”
Języki publikacji
Abstrakty
Podano przykładową budowę przemysłowego tomografu komputerowego i wymieniono jego funkcje. Następnie scharakteryzowano wytyczne VDI/VDE i projektu normy ISO dotyczące testów dokładności tomografów.
A sample construction of a CT scanner with functions of main units were described. Then VDI/VDE guidelines and draft of ISO standard concerning accuracy tests of CT scanners were characterized.
Czasopismo
Rocznik
Tom
Strony
1654--1659
Opis fizyczny
Bibliogr. 14 poz., rys., tab.
Twórcy
autor
- Wydział Mechatroniki Politechniki Warszawskiej
autor
- Wydział Mechatroniki Politechniki Warszawskiej
Bibliografia
- 1. Ratajczyk E., Woźniak A. „Współrzędnościowe Systemy pomiarowe”. Warszawa: Oficyna Wydawnicza Politechniki Warszawskiej, 2016.
- 2. Cierniak R. „Tomografia komputerowa. Budowa urządzeń CT. Algorytmy rekonstrukcyjne”. Warszawa: Akademicka Oficyna Wydawnicza EXIT, 2005.
- 3. Jezierski G. „Tomografia przemysłowa”. Warszawa: WNT, 1993.
- 4. Kielczyk J. „Radiografia przemysłowa”. Warszawa: Wyd. Gamma, 2006.
- 5. VDI/VDE 2630. Blatt 1.3: Computertomografie in der dimensiona len Messtechnik. Düsseldorf: 2009
- 6. ISO CT 10360-11: Geometrical Product Specifications (GPS) – Acceptance and reverification tests for coordinate measuring systems (CMS): CMMs using the principle of computed tomography (CT).
- 7. Ratajczyk E. „Tomografy komputerowe CT w zastosowaniach przemysłowych. Cz. II. Oprogramowania i parametry dokładności i metody ich wyznaczania”. Warszawa: Mechanik. Nr 5–6 (2011): s. 474–479.
- 8. Kowaluk T., Ratajczyk E. „Dokładność tomografów przemysłowych CT w wyznaczaniu wymiarów geometrycznych”. Pomiary Automatyka Kontrola (PAK). T. 59, nr 5 (2013): s. 462–447.
- 9. Bartscher M., Hilpert U., Goebbels J., Weidemann G. „Enhancement and Proff of Accuracy of Industrial Computed Tomography”. CIRP Annals – Manufacturing Technology. Vol. 56 (2007): pp. 495–498.
- 10. Wieczorowski M., Gapinski B. “X-ray CT in metrology of geometric feature”. ACTA Technica Corviniensis – Bulletin of Engineering. Iss. VII (2014): 95–100.
- 11. Weckenmann A. “Micro measurements using CT”. Symposium on Computed Tomography applied to Dimensional Control. Berlin (Niemcy), 2009.
- 12. Kruth J.P., Bartscher M., Carmignato S., Schmitt R., DE Chiffre L., Weckenmann A. “Computed tomography for dimensional metrology”. CIRP Annals – Manufacturing Technology. Vol. 60 (2011): pp. 821–842.
- 13. Lettenbauer H., Georgi B., Weiss D. “Verification of the Accuracy of CT Systems for Measuring Technology”. Innovation SPECIAL Metrology, The Magazine from Carl Zeiss 10/2009.
- 14. Lettenbauer H. “Metrotomograthy® – High precision CT-Metrology in a new dimension”. Advances in Coordinate Metrology. Wydawnictwo Akademii Techniczno-Humanistycznej w Bielsko-Białej, Bielsko-Biała 2010.
Uwagi
PL
Opracowanie ze środków MNiSW w ramach umowy 812/P-DUN/2016 na działalność upowszechniającą naukę.
Typ dokumentu
Bibliografia
Identyfikator YADDA
bwmeta1.element.baztech-2c005254-a3dd-4c93-ac6a-1e2e651da114