Termograficzne badania mikroskopowe elementów laserów półprzewodnikowych

• Autorzy: Bednarek M. , Rybiński J.
• Języki publikacji: PL

Abstrakty

PL

Zaprojektowano i wykonano stanowisko pomiarowe do badań mikroskopowych defektów przypowierzchniowych metodą termografii w podczerwieni. Stanowisko umożliwia wykrywanie i identyfikowanie defektów z rozdzielczością przestrzenną 8 m i wykrywanie różnic temperatury o wartości 0,025K. Umożliwia badanie zmian temperatury z częstotliwością próbkowania do ponad 5 kHz. Na stanowisku wykonano badania elementów laserów półprzewodnikowych. Określono miejsca wydzielania ciepła i efektywność jego odprowadzania w tych elementach.

EN

The stand for microscopic testing of near − surface defects, using the thermography method, has been designed and built. The stand makes possible detection and identification of defects with the 8 m special definition as well as detection of temperature differences of 0.025 K value. The stand makes possible testing temperature changes with sampling frequency up to 6 kHz. Testing of semiconductor laser elements have been tested there. The points of heat emission have been defined as well as the efficiency of carrying it away.

Słowa kluczowe

PL

lasery półprzewodnikowe; wykrywanie różnic temperatury; termograficzne badania mikroskopowe

• Wydawca: Szkoła Główna Służby Pożarniczej
• Czasopismo: Zeszyty Naukowe SGSP / Szkoła Główna Służby Pożarniczej
• Rocznik: 2007
• Tom: Nr 35
• Strony: 53--61
• Opis fizyczny: Bibliogr. 3 poz., rys.

Twórcy

autor

Bednarek M.

• SGSP, Katedra Nauk Ścisłych, Zakład Fizyki i Chemii

autor

Rybiński J.

• SGSP, Katedra Nauk Ścisłych, Zakład Fizyki i Chemii

Bibliografia

• 1. J. Rybiński, M. Bednarek, A. Jokiel: Stanowisko badawcze do wykrywania i identyfikacji defektów podpowierzchniowych metodą fali cieplnej. „Zeszyty Naukowe SGSP” 2005, nr 32.
• 2. J. Rybiński, M. Bednarek: Wykrywanie podpowierzchniowych defektów metodą termografii aktywnej. Materiały XXXVIII Zjazdu Fizyków Polskich, Warszawa, 11–16 września 2005.
• 3. J. Rybiński, M. Bednarek, P. Wiśniewski, T. Świetlik: Zastosowanie termografii w opracowywaniu technologii niebieskich laserów. Materiały Konferencyjne VII Krajowej Konferencji nt. „Termografia i termometria w podczerwieni”, Ustroń-Jaszowiec, 16–18 listopada 2006.