Wykorzystanie logiki rozmytej do diagnostyki uszkodzeń części analogowych w elektronicznych systemach wbudowanych

• Autorzy: Czaja Z. , Załęski D.

Warianty tytułu

EN

Application of fuzzy logic to fault diagnosis of analog parts in electronic embedded systems

• Języki publikacji: PL

Abstrakty

PL

W pracy przedstawiono nowe podejście zastosowania modelowania rozmytego do diagnostyki uszkodzeń części analogowej elektronicznych systemów wbudowanych mieszanych sygnałowo przy wykorzystaniu środków programowych i sprzętowych mikrokontrolera sterującego systemem. Zaprezentowano sposób tworzenia słownika uszkodzeń, najważniejsze parametry rozmytych modeli detekcji i lokalizacji uszkodzeń oraz opis działania programowego procesora logiki rozmytej.

EN

This paper presents employing the fuzzy modeling for faults diagnostic in analog parts of electronic mixed-signal embedded systems utilizing soft and hardware resources of microcontrollers that control these systems. The article introduces additionally the way of creating the fault dictionary, characterizes main parameters of fuzzy faults detection and localisation models and describes the manner of operating on the fuzzy soft decision processor.

Słowa kluczowe

PL

diagnostyka uszkodzeń; BIST; logika rozmyta; mikrokontrolery; elektroniczne systemy wbudowane

EN

fault diagnosis; BIST; fuzzy logic; microcontrollers; electronic embedded systems

• Wydawca: Wydawnictwo PAK
• Czasopismo: Pomiary Automatyka Kontrola
• Rocznik: 2007
• Tom: R. 53, nr 9 bis
• Strony: 735--738
• Opis fizyczny: Bibliogr. 6 poz., rys., tab.

Twórcy

autor

Czaja Z.

• Politechnika Gdańska, Wydział Elektroniki, Telekomunikacji i Informatyki, Katedra Optoelektroniki i Systemów Elektronicznych

autor

Załęski D.

• Politechnika Gdańska, Wydział Elektroniki, Telekomunikacji i Informatyki, Katedra Optoelektroniki i Systemów Elektronicznych, doktorant

Bibliografia

• [1] Czaja Z.: About fault diagnosis methods of analog electronic circuits based on the time response to a square impulse and identification curves in multidimensional spaces, Proc. of Join Inter. IMEKO TC1 + TC-7 Symposium, Germany, Ilmenau, 2005, in CD-ROM.
• [2] Czaja Z.: A diagnosis method of analog parts of mixed-signal systems controlled by microcontrollers, Measurement, Vol. 40, Issue 2, February, 2007, pp. 158-170.
• [3] Piegat A.: Modelowanie i sterowanie rozmyte, Akademicka Oficyna Wydawnicza Exit, Warszawa 1999.
• [4] Czaja Z., Załęski D.: Diagnostyka części analogowej elektronicznych systemów wbudowanych z zastosowaniem modelowania rozmytego, Zeszyty Naukowe Wydziału ETI Politechniki Gdańskiej, Nr 4, Seria: Technologie Informacyjne, Gdańsk 2006, s. 23-30.
• [5] Czaja Z.: A fault diagnosis method for analog parts of embedded systems based on time response and identification curves in the 3-D space, Proc. of 14th International Symposium IMEKO TC-4, Gdynia/Jurata, Poland, 2005, vol. 2, pp. 381-386.
• [6] Microchip: PIC18FXX2 Data Sheet, Plik PDF, www.microchip.com.