Tytuł artykułu
Autorzy
Wybrane pełne teksty z tego czasopisma
Identyfikatory
Warianty tytułu
Immensity resistance to impulse disturbances of a circuit with integrated ICs
Konferencja
Krajowe Sympozjum : Kompatybilność Elektromagnetyczna w Elektrotechnice i Elektronice EMC`01 (II ; 2001 ; Łódź, Polska)
Języki publikacji
Abstrakty
W artykule przedstawiono wpływ zakłóceń impulsowych, powstających w wyniku zaburzeń elektromagnetycznych w otoczeniu układów energoelektronicznych, na obwody z układami scalonymi. Obwody te poddano działaniu serii zakłóceń impulsowych, symulujących wyłączanie obwodów z indukcyjnością, wyładowania elektryczności statycznej i wyładowania atmosferyczne. Podano parametry impulsów zakłócających i sposób przeprowadzania testów. Przedstawiono wyniki uzyskane z przeprowadzonych badań.
The influence of impulse disturbances, appearing as a result of electromagnetic perturbations in power electronic circuits' surroundings, on circuits with ICs is presented in the paper. These circuits were subject to a series of impulse disturbances simulated the switch processes in inductive circuits, electrostatic and atmospheric discharges. Parameters of impulse disturbances, the way all testes were carried out and test results are also presented.
Rocznik
Tom
Strony
177--184
Opis fizyczny
Bibliogr. 3 poz.
Twórcy
autor
- Katedra Energoelektroniki Maszyn Elektrycznych, Politechnika Gdańska
autor
- Katedra Energoelektroniki Maszyn Elektrycznych, Politechnika Gdańska
Bibliografia
- [1] Fagiewicz K. Narażenia urządzeń energoelektronicznych impulsowymi zakłóceniami elektromagnetycznymi. 1 Sympozjum Naukowe „Aktualne Problemy w Metrologii” APM’2000. Zeszyty Naukowe Wydziału Elektrotechniki i Automatyki Politechniki Gdańskiej nr. 14/2000.
- [2] PN-EN 50082-2 Kompatybilność elektromagnetyczna. EMC. Wymagania ogólne dotyczące odporności na zaburzenia.
- [3] PN-EN 50082-1 Kompatybilność elektromagnetyczna. EMC. Wymagania ogólne dotyczące odporności na zakłócenia.
Typ dokumentu
Bibliografia
Identyfikator YADDA
bwmeta1.element.baztech-284cf6d0-f591-4cd8-8cc4-2ab54eb9a8c4