PL EN


Preferencje help
Widoczny [Schowaj] Abstrakt
Liczba wyników
Tytuł artykułu

Zalety stosowania modułowych systemów do pomiaru i analizy struktury geometrycznej powierzchni w przemysłowej kontroli jakości

Wybrane pełne teksty z tego czasopisma
Identyfikatory
Warianty tytułu
EN
The advantages of modular systems for the measurement and analysis of the geometric structure of the surface in industrial quality control
Konferencja
XV Krajowa i VI Międzynarodowa Konferencja Naukowo-Techniczna, Łódź-Uniejów 17-19.09.2014r.
Języki publikacji
PL
Abstrakty
PL
W artykule przedstawiono zalety stosowania modułowych systemów do pomiaru i analizy struktury geometrycznej powierzchni w przemysłowej kontroli jakości. Obecnie nowoczesne rozwiązania przyrządów do pomiaru i analizy struktury geometrycznej powierzchni łączą funkcje pomiarów kształtu i mikrokształtów oraz chropowatości w jednym urządzeniu, wyposażonym w różne głowice pomiarowe, w tym głowice do pomiaru chropowatości bez ślizgacza i wspólne dla analizy chropowatości i kształtu oprogramowanie. Przedstawiono zagrożenia jakie stanowi nieświadome stosowanie niektórych algorytmów przetwarzania danych pomiarowych udostępniane w programach do analizy danych.
EN
The article presents the advantages of modular systems for the measurement and analysis of the geometric structure of the surface in industrial quality control. Now a modern solution instruments for measuring and analyzing the geometric structure of the surface connect features of shape and micro-shape measurement and roughness measurement in one device, equipped with various measuring probes, including the heads to surface roughness measurements without slider and common for roughness and shape analysis software. Threat posed by unaware application of some measurement data processing algorithms, which are available in data analysis programs were shown.
Czasopismo
Rocznik
Strony
239--248
Opis fizyczny
Bibliogr. 10 poz., rys., tab.
Twórcy
autor
  • Instytut Zaawansowanych Technologii Wytwarzania
autor
  • Instytut Zaawansowanych Technologii Wytwarzania
autor
  • Instytut Zaawansowanych Technologii Wytwarzania
Bibliografia
  • [1] OCZOŚ K. E., LIUBIMOW V., Struktura geometryczna powierzchni. Podstawy klasyfikacji z atlasem powierzchni kształtowanych. Oficyna Wydawnicza Politechniki Rzeszowskiej, Rzeszów 2003.
  • [2] WIECZOROWSKI M., Wykorzystanie analizy topograficznej wpomiarach nierówności powierzchni. Wydawnictwo Politechniki Poznańskiej, Poznań 2009.
  • [3] ZAWADA-TOMKIEWICZ A., Teoretyczne i doświadczalne podstawy monitorowania procesu toczenia z wykorzystaniem informacji o cechach stereometrycznych obrobionej powierzchni. Wydawnictwo Politechniki Koszalińskiej, Koszalin 2012.
  • [4] PN-ISO 4287: Struktura geometryczna powierzchni: metoda profilowa. Terminy, definicje i parametry struktury geometrycznej powierzchni.
  • [5] PN-ISO 4288: Wymagania geometryczne wyrobów. Struktura geometryczna powierzchni. Zasady i procedury oceny struktury geometrycznej powierzchni metodą profilową.
  • [6] PN-EN ISO 13565-2: Specyfikacje geometrii wyrobów. Struktura geometryczna powierzchni. Metoda profilowa. Powierzchnie o warstwowych właściwościach funkcjonalnych. Opis wysokości za pomocą linearyzacji krzywej udziału materiałowego.
  • [7] ISO 25178-2: Geometrical product specifications (GPS) — Surface texture: Areal. Part 2: Terms, definitions and surface texture parameters.
  • [8] ISO 25178-:3 Geometrical product specifications (GPS) — Surface texture: Areal. Part 3: Specyfication operators.
  • [9] PN-EN ISO 16610-21: Geometrical product specifications (GPS) – Filtration – Part 21: Linear profile filters: Gaussian filters.
  • [10] PN-EN ISO 16610-61 Geometrical product specifications (GPS) – Filtration – Part 61: Linear areal filters: Gaussian filters.
Typ dokumentu
Bibliografia
Identyfikator YADDA
bwmeta1.element.baztech-23ae3c77-d406-487e-a76f-d562fab999d7
JavaScript jest wyłączony w Twojej przeglądarce internetowej. Włącz go, a następnie odśwież stronę, aby móc w pełni z niej korzystać.