PL EN


Preferencje help
Widoczny [Schowaj] Abstrakt
Liczba wyników
Tytuł artykułu

Optical Properties of ZnO Thin Film

Identyfikatory
Warianty tytułu
Języki publikacji
EN
Abstrakty
EN
In this work, we studied with a Matlab program, some of optical properties of zinc oxide (ZnO) deposited on glass (SiO2). The parameters studied include the refraction index, extinction coefficient, optical band gap, and complex dielectric constant versus incident photon energy, and transmittance, absorbance and reflectance spectrum of ZnO thin film deposited on glass (SiO2) for different thickness. The films were found to exhibit high transmittance (75- 95%), low absorbance and low reflectance in the visible / near infrared region up to 1000 nm. However, the absorbance of the films was found to be high in the ultra violet region with peak around 380 nm.
Słowa kluczowe
Rocznik
Strony
21--29
Opis fizyczny
Bibliogr. 16 poz., rys., tab.
Twórcy
  • University of Tlemcen - Bp 119 – 13000 – Algeria
  • University of Tlemcen - Bp 119 – 13000 – Algeria
Bibliografia
  • 1. M. Willander, et al., Nanotechnology, 20 332001 (2009 ).
  • 2. X. Sun and H. Kwork, J. of Appl. Phys, 86 408 (1999).
  • 3. Hsin-Chiang You and Yu-Hsien Lin, Int. J. Electrochem. Sci., 7 9085 - 9094 (2012).
  • 4. Feng Shi and Chengshan Xue, Cryst. Eng. Comm, 14, 4173-4175 (2012).
  • 5. Li Shao-Juan, He Xin, Han De-Dong, Sun Lei, Wang Yi, Han Ru-Qi, Chan Man-Sun and Zhang Sheng-Dong, CHIN. PHYS. LETT., Vol. 29, No. 1 018501 (2012).
  • 6. Lorenz M., Hochmuth H., Grüner C., Hilmer H., Lajn A., Spemann D., Brandt M., Zippel J., Schmidt-Grund R., Wenckstern H. and Grundmann M., Laser Chemistry, Hindawi Publishing Corporation, 1-27 (2011).
  • 7. Hu W.S et al J.Phy.Chem.Solids 58853 (2003).
  • 8. Ahmad A., Alsaad A., Eur. Phys. J. B 52, p 41- 46 (2006).
  • 9. Wang Ming- Dong et al. Chin. Phys. Lett, Vol. 25, No. 2, p 743- 746 (2008).
  • 10. Holden T., Ram P., Pollak H., Freeouf J., Yang B., Tamargo M., Phys.Rev. B56, 4037 (1997).
  • 11. Yoshikawa H., Adachi S. Jpn Appl. Phys. I 36, 6237 (1997).
  • 12. Teng C., Muth J., Ozgur U., Bergmann M., Everitt H., Sharama A., Jin C., Narayan J., Appl. Phys. Lett. 76, 979 (2000).
  • 13. Bai L., Xu Ch., Schunemann P., Nagashio N., Feigelson R., Giles N., J. Phys. Condens. Matter. 17, 549 (2005).
  • 14. Zebbar N., Aida M.S., Hafdallah A., Daranfad W., Lekiket H., and Kechouane M., Materials Science Forum, 609, 133-137 (2009).
  • 15. Chopra K.L., Thin Film Phenomena, McGraw Hill Book Company, USA, p.729 (1969).
  • 16. Rosete-Aguilar M., et al. Investigacion, Rev. Mex. Fis, 54 (2), 141-148 (2008).
Typ dokumentu
Bibliografia
Identyfikator YADDA
bwmeta1.element.baztech-235cbc8a-b93a-4d4c-821c-1bfe69bdedaa
JavaScript jest wyłączony w Twojej przeglądarce internetowej. Włącz go, a następnie odśwież stronę, aby móc w pełni z niej korzystać.