Założenia do oceny wiarygodności pomiarów topografii powierzchni w różnych skalach

• Autorzy: Adamczak S. , Miller T. , Świderski J. , Wieczorowski M. , Majchrowski R. , Łętocha A.

Warianty tytułu

EN

The assumptions to credibility assessment of surface topography measurements in various scales

• Konferencja: III Konferencja Naukowo-Techniczna „Obrabiarki sterowane numerycznie i programowanie operacji w technikach wytwarzania” Radom-Jedlnia Letnisko 26-28 listopada 2014
• Języki publikacji: PL

Abstrakty

PL

W referacie przedstawiono podstawowe założenia projektu „Badania i ocena wiarygodności nowoczesnych metod pomiaru topografii powierzchni w skali mikro i nano”. Celem realizacji projektu jest oszacowanie różnic w wynikach pomiarów topografii powierzchni w grupach przyrządów stykowych i bezstykowych oraz między grupami. Pozwoli to określić wiarygodność pomiarów wykonywanych różnymi przyrządami zarówno w praktyce przemysłowej jak i w badaniach naukowych oraz wskazać optymalny dobór metod do różnych zastosowań. Odpowiedni poziom wiarygodności uzyskiwany podczas pomiarów struktury geometrycznej powierzchni jest niezbędny podczas badań naukowych oraz w przemyśle do podejmowania decyzji dotyczących sterowania jakością wyrobów.

EN

The paper presents a concept of the project: “Research and evaluation of reliability of modern methods of surface topography measurements in micro and nano scale”. The aim of the project is to estimate the differences in the results of the surface topography measurements in two groups: contact and non-contact devices, and between the groups as well. It allows to define reliability of measurements which are performed by different devices both in industrial conditions and research, and to point out optimal selection of the methods for different applications. The proper level of reliability obtained during surface geometrical structure measurements is necessary during research and in the industry to make proper decision regarding the quality control of the product.

Słowa kluczowe

PL

topografia powierzchni; pomiar; wiarygodność

EN

surface topography; measurement; sredibility

• Wydawca: Stowarzyszenie Inżynierów i Techników Mechaników Polskich
• Czasopismo: Mechanik
• Rocznik: 2015
• Tom: R. 88, nr 3CD
• Strony: 81--87
• Opis fizyczny: Bibliogr. 17 poz., rys., tab.

Twórcy

autor

Adamczak S.

• Politechnika Świętokrzyska, 25-314 Kielce, al. Tysiąclecia Państwa Polskiego 7

autor

Miller T.

• Instytut Zaawansowanych Technologii Wytwarzania, ul. Wrocławska 37a, 30-011 Kraków

autor

Świderski J.

• Politechnika Świętokrzyska, 25-314 Kielce, al. Tysiąclecia Państwa Polskiego 7

autor

Wieczorowski M.

• Politechnika Poznańska, ul. Piotrowo 3, 60-965 Poznań

autor

Majchrowski R.

• Politechnika Poznańska, ul. Piotrowo 3, 60-965 Poznań

autor

Łętocha A.

• Instytut Zaawansowanych Technologii Wytwarzania, ul. Wrocławska 37a, 30-011 Kraków

Bibliografia

• [1] Adamczak S.: Pomiary geometryczne powierzchni. Zarysy kształtu, falistość i chropowatość, Wydawnictwa naukowo Techniczne, Warszawa 2008.
• [2] Oczoś K.E. Lubimow V.: Struktura geometryczna powierzchni, Rzeszów 2003.
• [3] Wieczorowski M.: Wykorzystanie analizy topograficznej w pomiarach nierówności powierzchni, Wydawnictwo Politechniki Poznańskiej, Poznań 2009.
• [4] Wieczorowski M.: Metrologia nierówności powierzchni. Metody i systemy, Wydawnictwo PPH ZAPOL, Szczecin 2013.
• [5] Zawada-Tomkiewicz A.: Teoretyczne i doświadczalne podstawy monitorowania procesu toczenia z wykorzystaniem informacji o cechach stereometrycznych obrobionej powierzchni. Koszalin 2012.
• [6] www.halle-normale.de
• [7] Wieczorowski M., Carras S., Śmierzchalski D., Mathia T., Kucharski D., Multisensor Solution in Platform Device for Surface Roughness Measurements, w: Development of Surface Metrology, ed. P. Pawlus, University of Bielsko Biała, 2012, 35-44.
• [8] PN-ISO 4287: 1999/A1:2010P, Struktura geometryczna powierzchni: metoda profilowa. Terminy, definicjei parametry struktury geometrycznej powierzchni.
• [9] PN-ISO 4288: 2011, Struktura geometryczna powierzchni: metoda profilowa. Zasady i procedury oceny struktury geometrycznej powierzchni.
• [10] ISO 25178-2: 2012, Geometrical product specifications (GPS) — Surface texture: Areal. Part 2: Terms,definitions and surface texture parameters.
• [11] ISO/FDIS 25178-3: 2012, Geometrical product specifications (GPS) — Surface texture: Areal. Part 3: Specification operators.
• [12] Stępień K.: Research on a surface texture analysis by digital signal processing methods, Tehnicki Vjesnik- Technical Gazette, Volume 21, Issue 3, June 2014, Pages 485-493.
• [13] Stępień K., Makieła W.: An analysis of deviations of cylindrical surfaces with the use of wavelet transform,Metrology and Measurement Systems, Vol. XX (2013), No. 1, pp. 139−150.
• [14] T8000 Nanoscan, Hommel Etamic, Schwenningen, Niemcy, 2006.
• [15] Altisurf 520, Altimet, 2013.
• [16] CCI HD, Taylor Hobson, 2013.
• [17] Infinite Focus G4, Alicona, 2011.