Nowe statystyczne kryteria ostrożności do monitorowania jakości procesów technologicznych

• Autorzy: Volodarsky E. , Warsza Z. , Kosheva L.

Identyfikatory

DOI

10.15199/62.2017.2.21

Warianty tytułu

EN

New precautionary statistical criteria for monitoring quality of technological processes

• Języki publikacji: PL

Abstrakty

PL

Omówiono podstawowe rodzaje kart kontrolnych Shewharta i zasady ich stosowania do zarządzania jakością produkcji. Zaproponowano też nowy sposób wykorzystania tych kart. Dotyczy on kontroli procesu produkcji, w przypadku gdy brakuje próbki wzorcowej ze znormalizowaną wartością monitorowanego parametru. Pozostaje tylko wymóg stabilności badanego procesu technologicznego w czasie. Jest to też istotne w monitorowaniu jakości badań prowadzonych przez laboratoria, których dokładność i stabilność w dużym stopniu wpływa na jakość produkcji lub usług. Zgodnie z regułą "trzech sigma" z uzyskanej w kontroli sekwencji wyników badań można określić prawdopodobieństwo wskazujące na zaburzenie procesu. Dzięki temu już na bardzo wczesnym etapie pojawiania się nieprawidłowości można wprowadzać działania korygujące monitorowany proces technologiczny.

EN

The Shewhart control cards were used for assessing the stability of prodn. processes. The criteria were established and the algorithm was developed to identify the perturbation of a technol. process at an early stage.

Słowa kluczowe

PL

zarządzanie produkcją; karta kontrolna Shewharta; statystyka

EN

production management; control card; statistics

• Wydawca: Wydawnictwo SIGMA-NOT
• Czasopismo: Przemysł Chemiczny
• Rocznik: 2017
• Tom: T. 96, nr 2
• Strony: 386--390
• Opis fizyczny: Bibliogr. 8 poz., tab., wykr.

Twórcy

autor

Volodarsky E.

• Narodowy Uniwersytet Techniczny Ukrainy – Politechnika Kijowska (Ukraina)

autor

Warsza Z.

• Zespół Badań Podstawowych, Przemysłowy Instytut Automatyki i Pomiarów PIAP, Al. Jerozolimskie 202, 02-486 Warszawa

autor

Kosheva L.

• Narodowy Uniwersytet Lotnictwa – Kijów (Ukraina)

Bibliografia

• [1] D.J. Wheeler, D.S. Chambers, Understanding statistical process control, Addison-Wesley Publishing Company, 2010.
• [2] K. Nishina, K. Kuzuya, N. Ishi, Frontiers Statistical Quality Control 2005, 8, 136.
• [3] P.L. Gatti, Probability theory and mathematical statistics for engineers, Taylor & Francis, 2004, 368.
• [4] PN-ISO 8258+ AC1_04.1993, Karty kontrolne Shewharta.
• [5] ISO 7870 - 1, - 2 … - 6: edition 2014, Shewhart control charts. Parts 1-6.
• [6] ISO 5725-6:1994 (reviewed in 2012), Accuracy (trueness and precision) of measurement methods and results. Part 6: Use in practice of accuracy values.
• [7] Z.L. Warsza, J. Phys. Conf. Series 2013, 459, 012035. 2013 Joint IMEKO TC1+TC7+TC13 Symposium Measurement Across Physical and Behavioral Sciences, Genova, 4-6 września 2013 r., Doi 10.1088/1742-6596/459/1/0120356.
• [8] A. Alhakim, W. Hooper, J. Nonparametric Statistics 2008, 20, nr 3, 253.

Uwagi

PL

Opracowanie ze środków MNiSW w ramach umowy 812/P-DUN/2016 na działalność upowszechniającą naukę (zadania 2017).