Core Loss Measurement at High Frequencies

• Autorzy: Roubal Z.

Identyfikatory

DOI

10.15199/48.2015.04.13

Warianty tytułu

PL

Pomiary strat w rdzeniach dla próbek ferrytowych dla częstotliwości w zakresie od 500 kHz do 10 MHz

• Języki publikacji: EN

Abstrakty

EN

The author presents the measurement of core loss in ferrite samples at frequencies between 500 kHz and 10 MHz. The measurement uncertainties are determined, and critical parts of the applied methodology are discussed as they significantly affect the achievable repeatability and accuracy. The actual test was based on various types of ferrite material for power applications in switching sources; at frequencies up to 10 MHz, however, NiZn material was used.

PL

Autor przedstawił w pracy pomiary strat w rdzeniach dla próbek ferrytowych dla częstotliwości w zakresie od 500 kHz do 10 MHz. Określono niepewności pomiarowe a także przedyskutowano krytyczne punkty zastosowanej metodologii, ponieważ mogą one znacząco wpływać na osiąganą powtarzalność i dokładność pomiarów. W testach zbadano różne typy materiałów ferrytowych stosowanych w źródłach przełączających w zastosowaniach energetycznych, jednakże dla częstotliwości do 10 MHz zbadano materiał NiZn.

Słowa kluczowe

EN

Ferrite; Core Loss measurement; NiZn; MgZn

PL

ferryty; pomiary strat w rdzeniu; NiZn; MgZn

• Wydawca: Wydawnictwo SIGMA-NOT
• Czasopismo: Przegląd Elektrotechniczny
• Rocznik: 2015
• Tom: R. 91, nr 4
• Strony: 51--52
• Opis fizyczny: Bibliogr. 3 poz., schem., wykr.

Twórcy

autor

Roubal Z.

• Brno University of Technology, Department of Theoretical and Experimental Electrical Engineering, Faculty of Electrical Engineering and Communication, Technicka 3082/12, 61600 Brno, Czech Republic

Bibliografia

• [1] Dong Tan, F., Vollin, J.L., Cuk, S.M., A practical approach for magnetic core-loss characterization, IEEE Transactions on Power Electronics, 10 (1995), nr 2, 124-130
• [2] Dufek M., Hrabák J.,Trnka Z., Magnetická měření, SNTL, Praha, 1964
• [3] Yehui H, Evaluation of Magnetic Materials for Very High Frequency Power Applications, IEEE Transactions on Power Electronics, 27 (2012), nr 1, 425-435