Wpływ natężenia oświetlenia w profilometrze optycznym na wyniki pomiarów struktury geometrycznej powierzchni

• Autorzy: Dzierwa A.

Warianty tytułu

EN

Influence of light intensity in optical profilometer on measurement results of surface topography

• Języki publikacji: PL

Abstrakty

PL

W pracy badano wpływ doboru natężenia oświetlenia na wyniki pomiarów parametrów struktury geometrycznej powierzchni, jak również wpływ tegoż natężenia na liczbę punktów niezmierzonych z wy korzystaniem interferometru światła białego Talysurf CCI Lite. Badaniu poddano powierzchnie próbek: anizotropowe, izotropowe oraz mieszane. Natężenie oświetlenia zmieniano w zakresie od 10 do 90%, każdorazowo co 5%. Określono wpływ zmiany natężenia oświetlenia na jakość pomiaru oraz na zmianę wartości parametrów struktury geometrycznej powierzchni. Parametr Smr oraz parametry z grupy cech są najbardziej wrażliwe na zmianę natężenia oświetlenia, nawet jeśli liczba punktów niezmierzonych nie przekracza 10%.

EN

Ten isotropic, anisotropic and mixed surface topographies were analysed. Surface measurements were made using white light interferometer Talysurf CCI Lite. All surfaces were measured with different light intensity. Light intensity was changed in the range of 10%-90% every time at 5%. Parameters from ISO 25178 group were calculated. Parameters were calculated using the software Talymap Gold, version 6.0. Influence of light intensity on the change of surface topography parameters was analysed. The functional parameter Smr and feature parameters are the most sensitive to light intensity even if number of non-measured points was smaller than 10%.

Słowa kluczowe

PL

profilometr optyczny; struktura geometryczna powierzchni; natężenie oświetlenia

EN

optical profilometer; surface topography; light intensity

• Wydawca: Centralny Ośrodek Badawczo-Rozwojowy Aparatury Badawczej i Dydaktycznej, COBRABiD sp. z.o.o
• Czasopismo: Aparatura Badawcza i Dydaktyczna
• Rocznik: 2017
• Tom: T. 22, nr 4
• Strony: 227--235
• Opis fizyczny: Bibliogr. 11 poz., rys., tab., wykr.

Twórcy

autor

Dzierwa A.

• Politechnika Rzeszowska, Rzeszów, Polska

Bibliografia

• 1. Patejuk A., Poniatowska M., Struktura geometryczna powierzchni kompozytów odlewniczych typu FeAl-Al2O3 po próbach tarcia. Archiwum Odlewnictwa, Rocznik 6, Nr 18 (1/2), 2006, 381-386.
• 2. Pawlus P., Topografia powierzchni – pomiar, analiza, oddziaływanie. Oficyna Wydawnicza Politechniki Rzeszowskiej, Rzeszów 2006.
• 3. PN-ISO 4287:1999 Struktura geometryczna powierzchni: Metoda profilowa.
• 4. PN-EN ISO 25178-2:2012 Specyfikacje geometrii wyrobów (GPS) – Struktura geometryczna powierzchni: Przestrzenna – Część 2: Terminy, definicje i parametry struktury geometrycznej powierzchni.
• 5. Adamczak S., Pomiary geometryczne powierzchni. Zarysy kształtu, falistość i chropowatość. WNT, Warszawa 2008, 195-196.
• 6. Kalin M., Pogačnik A., Etsion I., Raeymaekers B., Comparing surface topography parameters of rough surfaces obtained with spectral moments and deterministic methods. Tribology International, 93, 2016, 137-141.
• 7. Dzierwa A., Reizer R., Pawlus P., Graboń W., Variability of areal surface topography parameters due to the change in surface orientation to measurement direction. Scanning, vol. 36, 2014, 170-183.
• 8. Leach R., Evans C., He L., Davies A., Duparré A., Henning A., Jones C., O’Connor D., Open questions in surface topography measurement: a roadmap. Surface Topography: Metrology and Properties, vol. 3, No. 1, 2015, 013001.
• 9. Pawlus P., Graboń W., Reizer R., Variation of areal parameters on machined surfaces. 11th International Symposium on Measurement and Quality Control 2013, Kraków–Kielce.
• 10. Leach R. (Ed.), Optical Measurement of Surface Topography, Springer-Verlag Berlin Heidelberg, 2011.
• 11. Zawada-Tomkiewicz A., Storch B., Analiza struktury geometry.